一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法技术

本发明专利技术涉及一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法，属于粒度分析技术领域。本发明专利技术通过用筛析法从有代表性的样品中选取多个窄粒度分布范围样品，并计算出各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值和激光法中值，对得到的筛析法中值和激光法中值进行数据回归分析，得到校正公式；最后利用校正公式将样品的激光法粒度分析结果校正为筛析法粒度分析结果，或反之。本发明专利技术针对激光法和其它方法分析数据的明显差异，在大量实验数据对比分析的基础上，建立校正公式，从原理上合理的解决了激光法和筛析法粒度分析数据在数据对比和数据对接时数据的校正问题。该方法可以推广至其它粒度分析方法的数据校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，属于粒度分析

技术介绍
粒度分析是沉积地质研究的常规分析项目，其分析方法有多种，筛析法、沉降法、移液管法、库尔特法、图像法、超声法、激光法等等。粒度表征颗粒的大小，有很多种不同意义的测量和表示方法。筛析粒度分析法和激光粒度分析法是两种常用的方法。在重力及(或)流体的带动下，颗粒向筛孔运动，尝试通过筛孔，越小的颗粒通过通道的概率越大。筛体总是处在振动、晃动状态，改变着所有筛上颗粒的位置及方向。也使不能通过筛孔的颗粒离开筛孔，开始新的随机的尝试。通过充分的振筛，符合通道约束的颗粒都可以通过通道。颗粒通过筛孔的数学模型是很复杂的，常见的筛孔严格地说是一个由4条弯曲圆柱围成的一个3维通道，如图I所示。近似的常把它看成是一个平面正方形。在筛析实际应用中，筛·孔边长与颗粒粒径并不能很好的对应。定义长、中、短三轴是简化说明筛析粒度意义的常用方法。将一个不规则形状的颗粒稳定的置于水平平面上。此时，颗粒在平面上投影的最大长度称为颗粒的长轴；在通过投影形状中心的其他方向测得的最小长度(或在垂直长轴的方向测得的最大长度)称为中轴；颗粒在水平面上的高度则称为短轴。一般认为，筛析对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法，其特征在于：该校正方法的步骤如下：1）.选取有代表性的样品；2）.以适当的粒度间隔，用筛析法从有代表性的样品中选取多个窄粒度分布范围样品，并计算出各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值；3）.对各个窄粒度分布范围样品进行激光粒度分析，得到各个样品激光法中值；4）.对得到的各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值和激光法中值进行数据回归分析，得到校正公式；5）.利用校正公式将样品的激光法粒度分析结果校正为筛析法粒度分析结果或将筛析粒度分析结果校正为激光法粒度分析结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王慎文，鲍磊，周建文，朱红卫，肖琼，胡艳革，崔炜霞，陈磊，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司河南油田分公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：