一种纳米颗粒测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种纳米颗粒测量装置及其测量方法，所述纳米颗粒测量装置包括水平设置的样品池，所述样品池的上方设有CCD显微镜，所述CCD显微镜和计算机相连，其中，所述样品池下方设有半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈10°～80°的倾斜角度设置。本发明专利技术提供的纳米颗粒测量装置及其测量方法，在CCD显微镜上增加半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈一定的倾斜角度设置，使得样品池内纳米颗粒在激光光束照射下产生动态散射光光点，依据爱因斯坦的布朗运动方程，从而测量几十纳米至几个纳米的颗粒粒径及其粒径分布，既能保证测量精度和稳定性，又能大大降低生产成本，且结构简单，易于推广使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量装置及其测量方法，尤其涉及一种纳米颗粒测量装置及其测量方法。
技术介绍
纳米颗粒粒度测量，目前常用的仪器有放大能力为几十万倍的电子显微镜和基于光子相关光谱法(简称PCS)的纳米粒度仪。这两种仪器主要靠进口，存在价格昂贵，不易普及等问题。比如，纳米粒度仪采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中布朗运动的速度测定颗粒大小。为了保证了测试结果的真实性和有效性，纳米粒度仪的探测器需要采用专业级高性能光电倍增管(PMT)，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比， 从而保证了测试结果的准确度。此外，使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏，因此，纳米粒度仪的核心数字相关器需要具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度。随着技术进步，目视式的显微镜已装上CXD摄像头或数码相机，与计算机结合，组成功能强大的“数码显微镜”((XD显微镜)。CXD显微镜，也可以称为显微镜成像系统、显微镜摄像头等，是数码显微镜最重要的配件之一，主要是对显微图片进行拍摄并传输到计算机上，能够使显微镜上观察到的图像输出到计算机，对这些显微图片进行比对、分析。(XD，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种纳米颗粒测量装置，包括水平设置的样品池(5)，所述样品池(5)的上方设有CCD显微镜(6)，所述CCD显微镜(6)和计算机(7)相连，其特征在于，所述样品池(5)下方设有半导体激光器(1)，所述半导体激光器(1)的光轴和样品池(5)呈10°～80°的倾斜角度设置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭志平，彭旸，
申请(专利权)人：南京浪博科教仪器研究所，
类型：发明
国别省市：