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本发明公开了一种纳米颗粒测量装置及其测量方法，所述纳米颗粒测量装置包括水平设置的样品池，所述样品池的上方设有CCD显微镜，所述CCD显微镜和计算机相连，其中，所述样品池下方设有半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈10°～80°的倾斜角度...
该专利属于南京浪博科教仪器研究所所有，仅供学习研究参考，未经过南京浪博科教仪器研究所授权不得商用。

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