【技术实现步骤摘要】
一种半导体芯片测试工具
本技术涉及半导体芯片
，特别涉及一种半导体芯片测试工具。
技术介绍
半导体芯片成型后，一般还要利用测试工具对其各个引脚进行测试，目的是检查制造出来的芯片的功能和性能是否满足一定的要求。现有技术中，如图2和图3所示，弓丨用测试片5和固定件6对行业内型号为S0T-89 的半导体芯片的测试工具，一般是采用连体式，测试工具为三片一组，其中一片断掉，整个测试工具就报废了，导致资源的严重浪费。因此，需对现有技术的半导体测试工具进行改善。
技术实现思路
本技术的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种半导体芯片测试工具，该半导体芯片测试工具通过结构的改进，损坏时方便更换，可减少资源的浪费。本技术的目的通过以下技术方案实现提供了一种半导体测试工具，包括固定座以及用于为半导体芯片的引脚进行导电的三个互相独立的测试片，每个测试片的固定端均可拆卸设置于固定座，三个测试片并列排列并且相邻两个测试片之间留有间隙。优选的，每个测试片与半导体芯片的引脚的接触面均大于半导体芯片的引脚宽度。另一优选的，每个测试片的固定端通过螺钉固定于固定座。本技术的有益效果通过将三个测试片改为独立固定于固定座上，当其中一片损坏，可单独将该片换掉，不需要将整组一起换掉，与现有技术相比，可减少资源的浪费。附图说明利用附图对本技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图I为本技术的一种半导体芯片测试工具的实施例的结构示意图。图2为现有技术的半导体芯片测试工具的结构示意...
【技术保护点】
一种半导体芯片测试工具，其特征在于：包括固定座以及用于为半导体芯片的引脚进行导电的三个互相独立的测试片，每个测试片的固定端均可拆卸设置于固定座，三个测试片并列排列并且相邻两个测试片之间留有间隙。
【技术特征摘要】
1.一种半导体芯片测试工具，其特征在于包括固定座以及用于为半导体芯片的引脚进行导电的三个互相独立的测试片，每个测试片的固定端均可拆卸设置于固定座，三个测试片并列排列并且相邻两个测试片之间留有间隙。2.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗奕真，
申请(专利权)人：杰群电子科技东莞有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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