一种用于晶片电阻检测的定位装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。本实用新型专利技术解决了现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种产品定位装置，特别是涉及一种用于晶片电阻检测的定位装置。
技术介绍
目前的晶片电阻检测采用人工用显微镜通过肉眼来检测产品的外观及缺陷，人工检测有诸多的缺点如人的肉眼会疲劳导致品质不稳定、生产效率低下、被检外观精度不够，产品浪费较多，如一颗不良产品，会连同当颗的一整列都放弃不要，产品外观及缺陷检测在整个制程中非常关健，外观缺陷检测没法保障，会直接影响成品产品的品质与功能。而目前晶片电阻检测装置在定位机构上存在以下缺点I、定位结构十分复杂，工艺繁琐，造价成本高。2、无法判别放置晶片电阻是否为良好品。3、定位机构的透光性能较差，不利于CXD的定位和检测。
技术实现思路
为了解决现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂，工艺繁琐，造价成本高，透光性较差，无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题，本技术提供了一种定位方式简单，使用方便，造价便宜，透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。为了解决上述问题，本技术所采取的技术方案是一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于：在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。

【技术特征摘要】
1.一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板，其特征在于在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口，在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口，所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内，所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。2.根据权利要求I所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于所述两个定位开口对称设置。3.根据权利要求2所述的一种用于晶片电阻检测的定位装置，其特征在于在放置开口的上下两侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：李永传，徐明哲，李刚，陈海滨，黄斌，马新升，
申请(专利权)人：昆山市和博电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：