一种轮对低值电阻测试装置制造方法及图纸

技术编号:15543770 阅读:213 留言:0更新日期:2017-06-05 13:56
本发明专利技术提供了一种轮对低值电阻测试装置,包括精密恒流源、基准源、第一测量端子,第二测量端子、第三测量端子、第四测量端子、电压放大模块、滤波模块、A/D转换模块、控制模块和显示模块;第一测量端子、第二测量端子、第三测量端子和第四测量端子为测量端,分别连接精密恒流源和电压放大模块;电压放大模块的放大输出端依次连接滤波模块、A/D转换模块和控制模块;基准源与A/D转换模块的基准电压输入端电连接A/D转换模块的信号输出端与控制模块的信号输入端电连接。本发明专利技术所述的轮对低值电阻测试装置,通过四端接线技术测量小电阻两端电压,有效减少了引线电阻对测量结果的影响,从而减小了测量误差,提高了测量精度。

Low value resistance tester for wheel set

The invention provides a wheel low resistance test device, including a precision constant current source, reference source, the first measurement terminal, second measurement terminals, third measurement terminals, fourth measurement terminals, voltage amplifier module, filter module, A/D conversion module, control module and display module; the first terminal and the second terminal measurement and measurement third measurement terminals and fourth measurement terminals are respectively connected to the measuring end, precision constant current source and voltage amplifier module; output voltage amplification module connected to terminal filter module, A/D conversion module and a control module; the signal input end electrically connected reference voltage input terminal reference source and A/D conversion module, A/D conversion module connected with the signal output the end of the control module. The wheel the low resistance test device, through the four terminal measurement voltage across the small resistance, can effectively reduce the influence of lead wire resistance on the measurement results, so as to reduce the measurement error, improve the measurement accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种轮对低值电阻测试装置
本专利技术属于低值电阻测试
,尤其是涉及一种轮对低值电阻测试装置。
技术介绍
高铁、动车、城市轨道车辆在日常维护时,根据工艺的要求,需要对轮对间的接触电阻进行测试,当接触电阻高于十几微欧时,判定为不合格,因此就需要使用低值电阻测试仪来测量,同时还需要保证精度≤2‰。电阻测量的基本原理非常简单,即采用伏安法,以给定电流I通过电阻R,测量R两端的电压值U,根据欧姆定律R=U/I即可得到电阻值,但是由于检测电路中存在诸如导线电阻、接触电势和温差电势等的影响,若电阻值较大时,这些影响可以被忽略不计,但轮对电阻值极其微小,这些影响带来的误差绝对值甚至可能超过轮对电阻本身数个数量级,所以在测量时就应尽量降低乃至消除这些误差,以较高精度测量处轮对电阻的电阻值。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术旨在提出一种轮对低值电阻测试装置,以实现轮对电阻值的低误差测量。为达到上述目的,本专利技术的技术方案是这样实现的:一种轮对低值电阻测试装置,包括精密恒流源、基准源、第一测量端子,第二测量端子、第三测量端子、第四测量端子、电压放大模块、滤波模块、A/D转换模块、控制模块和显示模块;所述第一测量端子和第二测量端子的一端分别与所述精密恒流源的输入端和输出端电连接;所述第三测量端子和第四测量端子的一端分别与所述电压放大模块的电压输入端电连接;所述电压放大模块的放大输出端与所述滤波模块的输入端电连接;所述滤波模块的输出端与所述A/D转换模块的信号输入端电连接;所述基准源与所述A/D转换模块的基准电压输入端电连接;所述A/D转换模块的信号输出端与所述控制模块的信号输入端电连接;所述显示模块与所述控制模块信号连接;所述精密恒流源、基准源、电压放大模块、滤波模块和A/D转换模块的控制端分别与所述控制模块信号连接。进一步的,所述第一测量端子,第二测量端子、第三测量端子和第四测量端子为测试夹。进一步的,所述轮对低值电阻测试装置还包括一接地端子,所述精密恒流源、基准和控制模块的接地端均与所述接地端子电连接,所述接地端子接地。进一步的,所述电压放大模块为二级放大器,第一级放大器为测量放大器,第二级放大器为运算放大器,所述第三测量端子和第四测量端子的一端分别与所述测量放大器的电压输入端电连接,所述测量放大器的放大输出端与所述运算放大器的电压输入端电连接,所述运算放大器的放大输出端与所述A/D转换模块的信号输入端电连接。进一步的,所述控制模块包括单片机,所述A/D转换模块的信号输出端和显示模块均与所述单片机信号连接。进一步的,所述轮对低值电阻测试装置还包括一键盘输入模块,所述键盘输入模块与所述控制模块信号连接。进一步的,所述控制模块还包括一主控单元,所述主控单元分别与所述精密恒流源、基准源、电压放大模块、滤波模块和A/D转换模块的控制端信号连接,且该主控单元与所述单片机信号连接。进一步的,所述主控单元为PLC控制器。进一步的,所述轮对低值电阻测试装置还包括存储器,所述存储器与所述控制模块信号连接。进一步的,所述单片机上设有通信接口。进一步的,所述轮对低值电阻测试装置还包括一打印机,所述打印机与所述控制模块信号连接。相对于现有技术,本专利技术所述的轮对低值电阻测试装置具有以下优势:(1)本专利技术所述的轮对低值电阻测试装置,通过四端接线技术测量小电阻两端电压,有效减少了引线电阻对测量结果的影响,从而减小了测量误差,提高了测量精度。(2)本专利技术所述的轮对低值电阻测试装置,采用同一接地端子接地,避免了由于接地地点的不同造成接地端电位的不同,使得电路系统中形成较大电流并产生相当大的电压降,进而引入地电位差噪声及对微小电阻的测量精度产生较大影响。附图说明构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1为本专利技术实施例所述的轮对低值电阻测试装置原理示意图。附图标记说明:1-精密恒流源;2-基准源;3-第一测量端子;4-第二测量端子;5-第三测量端子;6-第四测量端子;7-电压放大模块;71-测量放大器;72-运算放大器;8-滤波模块;9-A/D转换模块;10-控制模块;101-单片机;102-主控单元;11-显示模块;12-键盘输入模块;13-通信接口;14-存储器;15-打印机;16-接地端子。具体实施方式需要说明的是,在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。如图1所示,本专利技术包括精密恒流源1、基准源2、第一测量端子3,第二测量端子4、第三测量端子5、第四测量端子6、电压放大模块7、滤波模块8、A/D转换模块9、控制模块10和显示模块11;第一测量端子3和第二测量端子4的一端分别与精密恒流源1的输入端和输出端电连接;第三测量端子5和第四测量端子6的一端分别与电压放大模块7的电压输入端电连接;电压放大模块7的放大输出端与滤波模块8的输入端电连接;滤波模块8的输出端与A/D转换模块9的信号输入端电连接;基准源2与A/D转换模块9的基准电压输入端电连接;A/D转换模块9的信号输出端与控制模块10的信号输入端电连接;显示模块11与控制模块10信号连接;精密恒流源1、基准源2、电压放大模块7和A/D转换模块9的控制端分别与控制模块10信号连接。第一测量端子3,第二测量端子4、第三测量端子5和第四测量端子6为测试夹。电压放大模块7为二级放大器,第一级放大器为测量放大器71,第二级放大器为运算放大器72,第三测量端子5和第四测量端子6的一端分别与测量放大器71的电压输入端电连接,测量放大器71的放大输出端与运算放大器72的电压输入端电连接,运算放大器72的放大输出端与滤波模块8的信号输入端电连接。控制模块10包括单片机101,A/D转换模块9的信号输出端和显示模块11均与单片机101信号连接。将第一测量端子3和第二测量端子4的另一端与待测轮对低值电阻的两端电连接,第三测量端子5和第四测量端子6的另一端也与待测轮对低值电阻的两端电连接。四端接线技术有效减少了引本文档来自技高网...
一种轮对低值电阻测试装置

【技术保护点】
一种轮对低值电阻测试装置,其特征在于:包括精密恒流源(1)、基准源(2)、第一测量端子(3),第二测量端子(4)、第三测量端子(5)、第四测量端子(6)、电压放大模块(7)、滤波模块(8)、A/D转换模块(9)、控制模块(10)和显示模块(11);所述第一测量端子(3)和第二测量端子(4)的一端分别与所述精密恒流源(1)的输入端和输出端电连接;所述第三测量端子(5)和第四测量端子(6)的一端分别与所述电压放大模块(7)的电压输入端电连接;所述电压放大模块(7)的放大输出端与所述滤波模块(8)的输入端电连接;所述滤波模块(8)的输出端与所述A/D转换模块(9)的信号输入端电连接;所述基准源(2)与所述A/D转换模块(9)的基准电压输入端电连接;所述A/D转换模块(9)的信号输出端与所述控制模块(10)的信号输入端电连接;所述显示模块(11)与所述控制模块(10)信号连接;所述精密恒流源(1)、基准源(2)、电压放大模块(7)、滤波模块(8)和A/D转换模块(9)的控制端分别与所述控制模块(10)信号连接。

【技术特征摘要】
1.一种轮对低值电阻测试装置,其特征在于:包括精密恒流源(1)、基准源(2)、第一测量端子(3),第二测量端子(4)、第三测量端子(5)、第四测量端子(6)、电压放大模块(7)、滤波模块(8)、A/D转换模块(9)、控制模块(10)和显示模块(11);所述第一测量端子(3)和第二测量端子(4)的一端分别与所述精密恒流源(1)的输入端和输出端电连接;所述第三测量端子(5)和第四测量端子(6)的一端分别与所述电压放大模块(7)的电压输入端电连接;所述电压放大模块(7)的放大输出端与所述滤波模块(8)的输入端电连接;所述滤波模块(8)的输出端与所述A/D转换模块(9)的信号输入端电连接;所述基准源(2)与所述A/D转换模块(9)的基准电压输入端电连接;所述A/D转换模块(9)的信号输出端与所述控制模块(10)的信号输入端电连接;所述显示模块(11)与所述控制模块(10)信号连接;所述精密恒流源(1)、基准源(2)、电压放大模块(7)、滤波模块(8)和A/D转换模块(9)的控制端分别与所述控制模块(10)信号连接。2.根据权利要求1所述的轮对低值电阻测试装置,其特征在于:所述第一测量端子(3),第二测量端子(4)、第三测量端子(5)和第四测量端子(6)为测试夹。3.根据权利要求1所述的轮对低值电阻测试装置,其特征在于:还包括一接地端子(16),所述精密恒流源(1)、基准源(2)、电压放大模块(7)、A/D转换模块(9)和控制模块(10)的接地端均与所述接地端子(16)电连接,所述接地端子(16)接地。4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张斌杨昕
申请(专利权)人:天津斌德鑫力电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:天津,12

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