【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于晶片电阻装置领域,尤其涉及晶片电阻切割装置。
技术介绍
随着电子市场发展迅速,电子被动元件如晶片电阻已发展成高品质、微型化,在晶片电阻检测与切割流程中,传统的由原来的人工用显微镜通过肉眼来检测晶片电阻的外观及缺陷,但人工检测有诸多的缺点,人的肉眼在长时间观察后会产生疲劳,从而导致晶片电阻品质不稳定、生产效率低下、被检晶片电阻外观精度不够;如果晶片电阻中有检出一颗不良产品,则会连同当颗的一整列都放弃不要,导致产品浪费,人工切割多为手工打磨,对产品有一定损伤,且工作效率低下,所以,晶片电阻的精确切割是非常关键的。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术提供了一种激光自动切割的晶片电阻切割装置。根据本专利技术的一个方面,提供一种晶片电阻切割装置,包括定位平台,所述定位平台侧方设有横向导轨,所述横向导轨上设有可滑动的机械手臂,所述定位平台上方设有镭射机,所述晶片电阻切割装置连接有自动控制装置。其有益效果是:本装置实现了自动化的高效率和高精确率晶片电阻切割,避免了手工打磨切割对产品带来的损伤,激光切割的稳定性高,通用性强,一台机器可检测20种以上不同型号的产品,且会自动生成产品品质报告,对于产品研发和生产管理提供可靠重要的数据。在一些实施方式中,所述定位平台设有定位感应装置。其有益效果是:实现了激光切割的全自动化,提高生产效率和切割精确率。附图说明图1是本专利技术的结构流程示意图。图中:1-定位平台,2-横向导轨,3-机械手臂,4-镭射机。具体实施方式下面结合附图1对本专利技术作进一步的说明。附图1示意性的显示了本专利技术晶片电阻切割装置,包括定位平 ...
【技术保护点】
晶片电阻切割装置,包括定位平台(1),所述定位平台(1)侧方设有横向导轨(2),所述横向导轨(2)上设有可滑动的机械手臂(3),其特征在于,所述定位平台(1)上方设有镭射机(4),所述晶片电阻切割装置连接有自动控制装置。
【技术特征摘要】
1.晶片电阻切割装置,包括定位平台(1),所述定位平台(1)侧方设有横向导轨(2),所述横向导轨(2)上设有可滑动的机械手臂(3),其特征在于,所述定位平台...
【专利技术属性】
技术研发人员:李刚,何志峰,
申请(专利权)人:昆山市和博电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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