一种CPU芯片上电复位电路抗扰性测试方法及装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
一种CPU芯片上电复位电路抗扰性测试方法及装置
本专利技术涉及CPU芯片上电复位电路的抗扰性测试方法以及干扰装置的实现方法。
技术介绍
CPU芯片上电复位电路POR的设计目的是：在电源刚打开时，上电复位电路POR的逻辑输出将CPU锁定在复位态，延时等待系统电源和时钟稳定以及内部寄存器正确装载后，再释放RST信号让CPU执行程序。为此，上电复位电路POR需要考虑合适的延迟时间、合适的POR门限电平以及合适的电平精度。延迟时间不够，可能在电压和时钟均未稳定就开始CPU运行了，容易造成CPU跑飞，POR门限电平和门限电平精度不合适也会容易造成同样的CPU跑飞现象。如何检测上电复位电路POR的设计延时、门限电平以及该电平的精度是否合适，不容易使CPU进入混乱状态，需要一种测试方法来进行评价上电复位电路POR的综合效果。
技术实现思路
本专利技术提出的上电复位电路抗扰性测试方法为：在芯片循环进行热复位动作时，对芯片的VCC电源施加一种电压异常跌落、瞬时低电、异常上电波形的干扰脉冲波，干扰一段时间后，通过检测芯片CPU跑飞标志数据，来判断芯片上电复位电路抗干扰的能力。实施本专利技...
【技术保护点】
一种对芯片上电复位电路抗干扰能力进行测试的方法，其特征在于：在芯片循环进行热复位动作时，对芯片的电源施加干扰脉冲波，干扰一段时间后，通过检测芯片CPU跑飞标志数据，来判断芯片上电复位电路抗干扰的能力。
【技术特征摘要】
1.一种对芯片上电复位电路抗干扰能力进行测试的装置，其特征在于：包括异常上电波形发生装置、被测芯片、与被测芯片通讯的上位设备；其中：异常上电波形发生装置产生干扰上电复位动作的随机干扰脉冲波，将异常上电波形发生装置产生的随机干扰脉冲波信号接到被测芯片的VCC和GND上，将被测芯片的CLK、I-O、GND分别连接上与被测芯片通讯的上位设备的CLK、I-O、GND，使被测芯片不停循环热复位，当进行上电复位动作时，如果出现跑飞，被测芯片进行计数；测试一段时间后，读取被测芯片的跑飞计数数据，得到一段时间内上电复位异常跑飞的次数，进而得到被测芯片上电复位电路抗干扰的能力；所述异常上电波形发生装置包括直流电机、指针、弹簧、挡板，其中：以被测芯片的直流电源驱动直流电机，直流电机的轮上安装指针，指针接被测芯片的VCC，...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨利华，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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