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本发明提出了一种CPU芯片上电复位电路抗扰性测试方法及装置，在被测芯片循环进行热复位动作时，对芯片的VCC电源施加一种电压异常跌落、瞬时低电、异常上电波形的干扰脉冲波，干扰一段时间后，通过检测芯片CPU跑飞标志的数据，来判断芯片上电复位电路...
该专利属于北京中电华大电子设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中电华大电子设计有限责任公司授权不得商用。

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