石英晶片检测台制造技术

技术编号:7946801 阅读:252 留言:0更新日期:2012-11-05 20:14
本实用新型专利技术公开了一种石英晶片检测台,其包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座,观察板设有至少一个石英晶片放置框,且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。本实用新型专利技术的优点在于能够快速地、成批地检测石英晶片成品或半成品的质量,提高了生产效率。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测台,尤其是石英晶片的检测台。
技术介绍
目前,在石英晶片制造行业中,对于石英晶片成品或半成品出品前需要对晶片进行检测,检测晶片是否有缺损,表面是否有划伤等瑕疵,通常是将石英晶片逐个进行检查,这种人工劳动极大地影响了工作效率,同时也增添了工作人员的工作负担,费时费力。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种石英晶片成品检测台,能够快速地、成 批得检测石英晶片成品或半成品的质量,提高了生产效率。本技术是通过以下技术方案来实现的。一种石英晶片检测台,其包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座,观察板设有至少一个石英晶片放置框,且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。进一步地,上述石英晶片放置框是由两对隔板构成的,且上述两对隔板与观察板共围成矩形体空间。进一步地,上述观察板为玻璃制且厚度一致的平板。进一步地,上述发光装置设为日光灯管。进一步地,上述日光灯管等间距得平行铺设于检测台基座底部。本技术在使用时,将成品(半成品)的石英晶片,放入检测台的石英晶片放置框内,石英晶片组的两端的石英晶片面贴于放置框的两对应隔板内面,打开日光灯管,从石英晶片的正上方进行观察,若出现非正常状的阴影或者区别于正常颜色的亮点时,即为存在缺损的石英晶片。本技术的有益效果在于,通过发光装置将光线打至观察板的下板面,可清晰得观察出石英晶片成品是否有缺陷或者划伤,一次可检测大量的石英晶片成品,节省了工作时间,提高了生产效率,减少了工作量以及工作负担。附图说明图I为本实施案例石英晶片检测台的结构示意图;图2为图I的A方向视角示意图。具体实施方式下面根据附图和实施例对本技术作进一步详细说明。图I为本实施案例石英晶片检测台的结构示意图,图2为图I的A方向视角示意图,参照图I、图2,本技术,石英晶片检测台1,是由检测台基座11、观察板13、日光灯管15、石英晶片放置框17构成的,其中日光灯管15设有3个,石英晶片放置框17设有2个。检测台基座11是由底板111、两对侧板即侧板113、117和侧板115、119围成的顶部开放式的箱体结构。观察板13固定在检测台基座11的顶端,观察板13是由玻璃板制作的,并且观察板13的厚度没有变化即为等厚板。观察板13的上端面设置了 2个石英晶片放置框17,石英晶片放置框17是由两对隔板即隔板171、175和隔板173、177与观察板13共同构成的,并且共同围成的空间为矩形体,同时这2个石英晶片放置框17相互平行得设置在观察板13上端面。本技术在使用时,将待检的石英晶片,放入检测台I的石英晶片放置框17内,石英晶片组的两端的石英晶片面贴于放置框的两对应隔板171、175的内面处,打开3个日光灯管15,从石英晶片组的正上方进行观察,若出现非正常状的阴影或者区别于正常颜色的売点时,即为存在缺损的石英晶片。综上所述,本技术,石英晶片检测台可一次性检测大量的石英晶片,节省了工作时间,提高石英晶片检测精准度,减少了工作量以及工作负担。 上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本
技术实现思路
并加以实施,并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本技术的保护范围内。权利要求1.一种石英晶片检测台,其特征在于,所述检测台包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座,观察板设有至少一个石英晶片放置框,且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。2.根据权利要求I所述的石英晶片检测台,其特征在于,所述石英晶片放置框是由两对隔板构成的,且上述两对隔板与观察板共围成矩形体空间。3.根据权利要求I所述的石英晶片检测台,其特征在于,所述观察板为玻璃制且厚度一致的平板。4.根据权利要求I所述的石英晶片检测台,其特征在于,所述发光装置设为日光灯管。5.根据权利要求4所述的石英晶片检测台,其特征在于,所述日光灯管等间距得平行铺设于检测台基座底部。专利摘要本技术公开了一种石英晶片检测台,其包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座,观察板设有至少一个石英晶片放置框,且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。本技术的优点在于能够快速地、成批地检测石英晶片成品或半成品的质量,提高了生产效率。文档编号G01N21/88GK202512065SQ20112042267公开日2012年10月31日 申请日期2011年10月31日 优先权日2011年10月31日专利技术者夏金鑫, 朱正义, 杜刚, 王丽英 申请人:铜陵市三科电子有限责任公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种石英晶片检测台,其特征在于,所述检测台包括了透明的观察板设置于顶部的检测台基座,观察板设有至少一个石英晶片放置框,且其下方设有若干均匀布置的发光装置于检测台基座内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱正义王丽英杜刚夏金鑫
申请(专利权)人:铜陵市三科电子有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:

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