【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于粒径监测
，尤其涉及ー种可以对溶液中纳米粒子特征性辨识的装置及识别方法。
技术介绍
随着纳米技术的蓬勃发展，纳米技术中的纳米粒子辨识测量技术已逐渐成为研究热点，且在科研与社会应用中主见突显出其重要性。纳米材料在电子、光学、高致密度材料的烧结、催化、传感等领域所表现出的特性与其粒径密切相关，因而纳米粒子粒径的准确测定与表征具有重要意义。常用的检测纳米粒子粒径的方法有X射线衍射法(XRD)、透射电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)及光子相关法即动态光散射(DLS)等。X射线衍射法计算纳米粒子的平均粒径是因为高角度(2 Θ >50° )X射线衍射线的Kal与Ka2双线会分裂开，造成线宽化的假象，这会影响实际线宽化測量值。其次，X射线衍射法測定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致吋，计算结果比较可靠。但一般粉末试样的具体大小都有一定的分布，通过计算公式修正，结果只能近似计算。透射电子显微镜法是通过纳米粒子...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.纳米粒子辨识系统装置，包括光散射系统和数据处理系统，其特征在于还包括检测池(5)，所述光散射系统包括至少两组含有顺序平行排列设置的激光源(I )，短焦透镜(2)、 光栅(3)、长焦透镜(4)、光栅滤波器(6)和多点散射光接收器(7)，所述的检测池(5)设于长焦透镜(4)和光栅滤波器(6)之间，激光源的发射波长在375nm 785nm之间，不同激光源的发射波长λ存在差异，且发射波长间的差异Λ λ不低于IOnm ;所述数据处理系统包括光电转换模块(8)、数据处理模块和显示器(14)，所述数据处理模块包括信号预处理器(9)、数据运算器(10)、数据对比及辨识分析器(11)、数据存储模块(12)和定量运算器 (13)，多点散射光接收器(7)的信号输出端与光电转换模块(8)的信号输入端连接，光电转换模块(8)的信号输出端与数据处理模块的信号输入端连接，由数据处理模块计算得到曲线相似度和粒子浓度定量数据，结果显示在显示器(14)上。2.根据权利要求I所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述光散射系统为双光源。3.根据权利要求2所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述双光源的波长分别为 635nm 和 532nm。4.根据权利要求I所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述检测池的入口设有超声探头。5.根据权利要求I所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述多点散射光接收器是同时能检测3个角度以上的多点散射光接收器。6.根据权利要求I所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述长焦透镜(4)焦距 80. 6mm。7.根据权利要求I所述的纳米粒子辨识系统装置，其特征在于所述短焦透镜(2)焦距 50. 8mmο8.上述任一权利要求所述纳米粒子辨识系统装置辨识纳米粒子的方法，其特征在于步骤为a)调节光散射系统中第一激光源(I)的波长为X1，对检测池(5)溶液中粒子进行激光照射，散射光经第一光栅滤波器(6)，被第一多点散射光接收器(7)接收；b)调节另一组平行设置的第二激光源(I’)的波长为λ2，发射...
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