【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
变频效率是衡量很多器件的重要参数,变频效率或称变频效率QE(QUantUm Efficiency),传统的对变频效率的测试方法,采用对每一个入射的光子所能产生和收集的电子数来计算,需要把经过反射损失而不能透射到硅片的光子、光电转化、电子和光子的传输效率的变化、转化电流的效率等考虑进去。例如由电子科技集团44研究所提供的 512X512面阵CXD中电荷信号由AOpin输出。CXD收集的电子注入到电荷放大器,经该放大器读出由光子产生的电流,输出电压引脚AOpin应当连接上-18V的电源以导走电流放大器的输入门电路的电流。因此,通过测量流过输出引脚AOpin的电流就可以计算出CCD由于光照收集到的电子数目。在输出引脚AOpin和-18V之间接入IM欧的导通电阻,输出电压经该电阻后产生衰减,测量流经该电阻的电流或者电压即可计算量子效率QE,为了方便计算,CCD设置为TDI模式,即CCD产生的电荷包通过恒定的传输频率从一个线阵列转移到下一个线阵列。同时,不能让C⑶传感器进入到饱和状态,因为进入到饱和状态产生的电荷包中就有电荷丢失,因为难以,从而使计算不准确。
技术实现思路
本专利技术公开了一种,通过采用直接对功率进行测量的方式,省去了光电转换这一环节,可以有效克服现有技术对紫外增强膜变频效率测试方法测量精度不高的弊端,本专利技术技术方案基于对准确性、操作性、稳定性等方面进行综合性技术考虑,所采用的测试方法,不仅大大减小了误差,有效提高了测量的准确性,而且操作方便,稳定性强。一种其特点是A)变频效率是反映荧光粉或荧光粉薄膜发光效率的一个 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陶春先,姜霖,张大伟,黄元申,倪争技,庄松林,
申请(专利权)人:上海理工大学,
类型:发明
国别省市:
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