本发明专利技术涉及一种发光二极管测试板，包括本体、收容孔以及电路结构，该本体呈平板状，该收容孔设置在本体上以收容并固持待测发光二极管，该收容孔内设置有第一、第二电极，当待测发光二极管置入收容孔并被固持时，该第一、第二电极分别与待测发光二极管的正、负电极电连接，该电路结构设置在本体上并与所述收容孔的第一、第二电极电连接，该电路结构用于从外界获取电能并通过第一、第二电极将电能提供给待测发光二极管。该种发光二极管测试板可以多次利用，具有成本低的优点。
【技术实现步骤摘要】
〔0001〕 本专利技术涉及发光二极管电性和光学测试领域，具体地涉及一种用于发光二极管电 性和光学测试的测试板。
技术介绍
〔0002〕 相比于传统的发光源，发光二极管仏21111^1118 010(16，120具有重量轻、体 积小、污染低、寿命长等优点，其作为一种新型的发光源，已经被越来越广泛地应用。 〔0003〕 发光二极管经封装完成后，需要测试其电性或光学参数，以确保发光二极管的良 率或按照发光波长范围对其进行分类。一般的发光二极管测试过程中，通常利用焊锡将发 光二极管焊接在电路板上，该电路板上形成有电路结构以给焊接在电路板上的发光二极管 提供电能，从而发光二极管被焊接固定在电路板上，方便进行测试。然而，该种电路板在使 用过一次以后，因其焊盘点已经粘有焊锡而无法被再次利用，下次测试必须采用新的电路 板进行，从而造成测试成本较高。
技术实现思路
〔0004〕 有鉴于此，本专利技术旨在提供一种能降低测试成本的发光二极管测试板。 〔0005〕 一种发光二极管测试板，包括本体、收容孔以及电路结构，该本体呈平板状，该收 容孔设置在本体上以收容并固持待测发光二极管，该收容孔内设置有第一、第二电极，当待 测发光二极管置入收容孔并被固持时，该第一、第二电极分别与待测发光二极管的正、负电 极电连接，该电路结构设置在本体上并与所述收容孔的第一、第二电极电连接，该电路结构 用于从外界获取电能并通过第一、第二电极将电能提供给待测发光二极管。 〔0006〕 所述发光二极管测试板采用收容孔容置并固持待测发光二极管，而无需利用焊锡 将待测发光二极管焊接固定在测试板上，不仅简化了固定待测发光二极管的工序，而且发 光二极管测试板不会被焊锡污染，从而可以多次利用、降低测试成本。附图说明〔0007〕图1为本专利技术第一实施例的发光二极管测试板结构示意图。〔0008〕图2为图1所示发光二极管测试板的剖视图。〔0009〕图3为将待测发光二极管置入发光二极管测试板的示意图。〔0010〕图4为本专利技术第二实施例的发光二极管测试板结构示意图。〔0011〕图5为图4所示发光二极管测试板的剖视图。〔0012〕主要元件符号说明^001发光二极管测试板 10，20〔0014〕本体11，21〔0015〕收容孔12，22〔0016〕电路结构13，23第一表面第二表面第一电极第二电极金手指接头定位孔支撑板26303132110,210 112,212120 12214，24 15,25 待测发光二极管正电极负电极具体实施例方式请参见图1，本专利技术第一实施例提供的发光二极管测试板10包括一个本体11、多个收容孔12以及电路结构13。该本体11呈平板状，如图2所示。该本体11包括第一表面110以及第二表面112。 该第二表面112与第一表面110相对设置，且二者均为平坦表面。该多个收容孔12设置在本体的第一表面110上，且该多个收容孔12均为盲孔。该收容孔12用于收容并固持待测发光二极管30。该收容孔12的内侧壁上设置有第一电极 120、第二电极122。参见图3，当待测发光二极管30被置入收容孔12时，该收容孔12固持住待测发光二极管30，且该第一电极120、第二电极122分别与待测发光二极管30的正电极31、负电极32电连接。该电路结构13设置在本体11的第一表面110上或者本体11的内部，并且该电路结构13与收容孔12的第一电极120、第二电极122电连接，从而该电路结构13能够从外界获取电能并通过第一电极120、第二电极122将电能提供给待测发光二极管30。本实施例中，该电路结构13延伸至本体11的边缘处形成金手指接头14，从而金手指接头14可与金手指接口(图未示)相插接配合而与外界电源相接。所述发光二极管测试板10采用收容孔12容置并固持待测发光二极管30，而无需利用焊锡将待测发光二极管30焊接固定在发光二极管测试板10上，不仅简化了固定待测发光二极管30的工序，而且发光二极管测试板10不会被焊锡污染，从而可以多次利用、降低测试成本。需要说明的是，该发光二极管测试板10的本体11上还可设置有定位孔15，该定位孔15为贯穿本体11的通孔，从而通过贯穿该定位孔15的固定件，如螺丝、螺栓等，即可将发光二极管测试板10固定在其他工件之上，以满足工序需要。请参见图4和图5，本专利技术第二实施例还提供一种发光二极管测试板20，该发光二极管测试板20与第一实施例提供的发光二极管测试板10结构大体相同，该发光二极管测试板20包括一个平板状本体21、多个收容孔22以及电路结构23。该本体21包括第一表面210以及与该第一表面210相对设置的第二表面212。该收容孔22设置在本体的第一表面210上。与发光二极管测试板10的不同之处在于，发光二极管测试板20的收容孔22为贯穿本体21的通孔，同时为保证待测发光二极管30置入收容孔22的固定，该发光二极管测试板20还包括一位于本体21的第二表面212 —侧的支撑板26。该支撑板沈遮盖收容孔 22在第二表面212上形成的开口，从而避免待测发光二极管30从第一表面210 —侧置入收容孔22后由收容孔22在第二表面212上形成的开口处滑出。当然，该发光二极管测试板20也可与发光二极管测试板10 —样设置有金手指接头M以及定位孔25，以分别满足与外界电源插接、与其他工件固定的工序需求。本专利技术的
技术实现思路
及技术特点已揭露如上，然而本领域技术人员仍可能基于本专利技术的教示及揭示而作出种种不背离本专利技术精神的替换及修饰。因此，本专利技术的保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本专利技术的替换及修饰，并为所附的权利要求所涵盖。权利要求1.一种发光二极管测试板，包括本体，该本体呈平板状；收容孔，该收容孔设置在本体上以收容并固持待测发光二极管，该收容孔内设置有第一、第二电极，当待测发光二极管置入收容孔并被固持时，该第一电极与待测发光二极管的正电极电连接且该第二电极与待测发光二极管的负电极电连接；电路结构，该电路结构设置在本体上或本体内，该电路结构与所述收容孔的第一、第二电极电连接，且该电路结构用于从外界获取电能并通过第一、第二电极将电能提供给待测发光二极管。2.如权利要求1所述发光二极管测试板，其特征在于，该收容孔为形成在平板状本体一个表面上的盲孔。3.如权利要求1所述发光二极管测试板，其特征在于，该收容孔为贯穿平板状本体的通孔，该发光二极管测试板还包括设置在本体一侧的支撑板，该支撑板遮盖收容孔在本体一侧表面上形成的开口。4.如权利要求2或3所述发光二极管测试板，其特征在于，该第一、第二电极设置在收容孔的内侧壁上。5.如权利要求2或3所述发光二极管测试板，其特征在于，该本体上还设置有贯穿本体的定位孔。全文摘要本专利技术涉及一种发光二极管测试板，包括本体、收容孔以及电路结构，该本体呈平板状，该收容孔设置在本体上以收容并固持待测发光二极管，该收容孔内设置有第一、第二电极，当待测发光二极管置入收容孔并被固持时，该第一、第二电极分别与待测发光二极管的正、负电极电连接，该电路结构设置在本体上并与所述收容孔的第一、第二电极电连接，该电路结构用于从外界获取电能并通过第一、第二电极将电能提供给待测发光二极管。该种发光二极管测试板可以多次利用，具有成本低的优点。文档编号G01本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林厚德，
申请(专利权)人：展晶科技深圳有限公司，荣创能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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