发光二极管测试装置制造方法及图纸

技术编号:6440747 阅读:191 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种发光二极管测试装置,包括一通讯接口、一单片机、四个电子开关、四个第一电连接端及四个第二电连接端,单片机包括四个第一数据引脚及四个第二数据引脚,单片机的第一数据引脚的对应接至电子开关的第一端,单片机的第二数据引脚对应接至电子开关的第二端及第二电连接端,电子开关的第三端通过一电阻接地,第一电连接端接至一电源,第一及第二电连接端用于接至一待测的发光二极管的第一端及第二端,单片机通过所述第一数据引脚控制电子开关导通同时通过第二数据引脚侦测第二电连接端的电压并通过所述通讯接口传送给电脑。本发明专利技术发光二极管测试装置可侦测一电子产品的发光二极管是否装配正确,使用方便,成本低廉。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置,特别涉及一种发光二极管测试装置
技术介绍
在电子产品的生产过程中,一般需要对用于指示系统信息的发光二极管进行测 试,以检测出发光二极管的极性是否装配反向,是否开路或短路而失效。若此类测试用人眼去观察发光二极管是否正常发光,效率低;若通过光感应传感 器来进行测试,则成本高昂。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种成本低廉的发光二极管测试装置一种发光二极管测试装置,包括一通讯接口、一单片机、至少一电子开关、至少一 第一电连接端及至少一第二电连接端,所述单片机包括至少一第一数据引脚及至少一第二 数据引脚,所述单片机的第一数据引脚对应接至所述电子开关的第一端,所述单片机的第 二数据引脚对应接至所述电子开关的第二端及第二电连接端,所述电子开关的第三端通过 一电阻接地,所述第一电连接端接至一电源,所述第一及第二电连接端用于接至一待测的 发光二极管的第一端及第二端,所述单片机通过所述第一数据引脚控制所述电子开关导通 同时通过所述第二数据弓I脚侦测所述第二电连接端的电压并通过所述通讯接口传送给电 脑,以根据所述第二电连接端的电压与所述电源的电压之差判断所述发光二极管的第一端 及第二端是发光二极管的阳极还是阴极,以及判断所述发光二极管的第一端及第二端是否 发生短路。本专利技术发光二极管测试装置通过所述单片机的第一数据引脚控制所述电子开关 导通,并通过所述所述单片机的第二数据引脚来侦测所述第二电连接端的电压,所述单片 机通过所述通讯接口将所述电压传送给所述电脑以根据所述第二电连接端的电压与所述 电源的电压之差判断所述发光二极管的第一端及第二端是否分别为所述发光二极管的阳 极及阴极,以及判断所述发光二极管的第一端及第二端是否发生短路。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。图1是本专利技术发光二极管测试装置的较佳实施方式与四个待测发光二极管的电 路图。主要元件符号说明^发光二极管测试装置100 200本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光二极管测试装置,包括一通讯接口、一单片机、至少一电子开关、至少一第一电连接端及至少一第二电连接端,所述单片机包括至少一第一数据引脚及至少一第二数据引脚,所述单片机的第一数据引脚对应接至所述电子开关的第一端,所述单片机的第二数据引脚对应接至所述电子开关的第二端及第二电连接端,所述电子开关的第三端通过一电阻接地,所述第一电连接端接至一电源,所述第一及第二电连接端用于接至一待测的发光二极管的第一端及第二端,所述单片机通过所述第一数据引脚控制所述电子开关导通同时通过所述第二数据引脚侦测所述第二电连接端的电压并通过所述通讯接口传送给电脑,以根据所述第二电连接端的电压与所述电源的电压之差判断所述发光二极管的第一端及第二端是发光二极管的阳极还是阴极,以及判断所述发光二极管的第一端及第二端是否发生短路。

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管测试装置,包括一通讯接口、一单片机、至少一电子开关、至少一第 一电连接端及至少一第二电连接端,所述单片机包括至少一第一数据引脚及至少一第二数 据引脚,所述单片机的第一数据引脚对应接至所述电子开关的第一端,所述单片机的第二 数据引脚对应接至所述电子开关的第二端及第二电连接端,所述电子开关的第三端通过一 电阻接地,所述第一电连接端接至一电源,所述第一及第二电连接端用于接至一待测的发 光二极管的第一端及第二端,所述单片机通过所述第一数据引脚控制所述电子开关导通同 时通过所述第二数据引脚侦测所述第二电连接端的电压并通...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱鸿儒
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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