【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种射频器件的结构,特别是涉及一种金属-氧化物-金属(MOM)电容结构。
技术介绍
MOM电容是射频CMOS (互补金属氧化物半导体)或BiCMOS (双极互补金属氧化物半导体)集成电路的重要元件之一,广泛应用在压控振荡器等射频电路模块中。传统的MOM电容一般采用插指状结构(图1所示),要获得大的电容值,需要增加每指的长度和提高插指的数目,增加每指长度会增加每指的寄生电感和电阻,降低了电容高频下的Q值(品质因素),同时电容值随着频率的升高会出现明显的变化,从而限制了 MOM电容的应用范围。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种MOM电容结构。通过该电容结构可扩展MOM 电容的应用范围。为解决上述技术问题,本专利技术的MOM电容结构,是利用相邻同层金属侧壁之间电容形成MOM电容,两组不相连的金属形成电容的两极,该电容结构包括在同层金属上,电容的第一电极(阳极或阴极)是由第一组相互平行的金属条组成,该第一组相互平行的金属条通过一条与该第一组相互平行的金属条垂直的金属条连接,该连接点位于平行金属条的两端点之内;或者电容的第一电极是由一垛形金属条 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周天舒,王生荣,
申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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