一种黑心硅片的快速检测方法技术

本发明专利技术涉及一种黑心硅片的快速检测方法。传统的判定黑心片方法由于受到时间，速度及量的限制无法满足大规模电池线生产需求。本发明专利技术其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。所述薄片的厚度为2mm。本发明专利技术采用检测硅棒的方法来进行判定，又由于硅棒的位错主要集中的硅棒头尾，因此检测头尾薄片非常具有代表性，而且两个薄片即代表了整个硅棒的性能，满足了快速检测需要。由于切割会在硅片表面存在损伤层并会影响少子寿命测试结果，因此将这个薄片用碘酒钝化后再测少子寿命就比较准确了。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
太阳能行业与煤电等传统能源竞争面临的最大压力就是成本，而太阳能电池及组件的主要成本是硅料，由于硅料技术含量高，之前硅料基本都靠国外进口，价格很高。因此很多国内生产硅料的厂家由此孕育而生，但是国产硅料在品质上与进口硅料存在一定差距，特别是一些有害杂质超标的硅料做出来的硅片将严重影响电池片或者组件的质量，这其中就有一类称为“黑心片”的硅片，由于黑心硅片做成电池片后不仅效率整体偏低，而且电池衰减率大大超过正常电池片，还严重影响整块组件的功率稳定性。传统的判定黑心片方法为先将硅片做成电池后经过EL检测(近红外缺陷分析仪)测试后才能够发现(前后大概15小时时间)，此方法受到时间，速度及量的限制无法满足大规模电池线生产需求。 (EL检测每片电池片需要20秒，每分钟3片，即每小时180片)，而且一旦硅片做成电池即使检测发现是黑心硅片也已经无法将此类硅片退还供应商，造成公司损失。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术存在的缺陷，提供一种黑心硅片的快速检测技术，有效提高检测效率，降低公司损失。为此，本专利技术采取如下技术方案，其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。所述薄片的厚度为2mm。本专利技术判定黑心片的原理是根据形成黑心硅片的黑心区域位错密度严重超过正常区域而来的，众说周知硅片位错密度越高同等情况下少子寿命越低，因此在硅片制作电池前可以首先检测硅片的少子寿命来判定硅片是否正常。黑心硅片扫描后其少子寿命呈现从内部到外面的同心圆，且内部寿命最低，这与正常硅片是截然不同的。采用本专利技术的方法可以提前判定硅片质量，减小了黑心硅片做成电池片后造成难以弥补的损失。为了满足公司大规模生产，通常采用检测硅棒的方法来进行判定，又由于硅棒的位错主要集中的硅棒头尾，因此检测头尾薄片非常具有代表性，而且两个薄片即代表了整个硅棒的性能，满足了快速检测需要。由于切割会在硅片表面存在损伤层并会影响少子寿命测试结果，因此将这个薄片用碘酒钝化后再测少子寿命就比较准确了。附图说明图1为正常硅片的结构示意图；图2为黑心硅片的结构示意图。具体实施例方式本专利技术可采取如下步骤实现对黑心硅片的快速检测，首先对硅棒的头、尾两端分别切厚度约为2mm的薄片，再使用碘酒对薄片钝化，最后用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。由于硅棒的位错主要集中的硅棒头尾，因此检测头尾薄片非常具有代表性，而且二个薄片即代表了整个硅棒的性能，满足了快速检测需要。由于切割会在硅片表面存在损伤层并会影响少子寿命测试结果，因此将这个薄片用碘酒钝化后再测少子寿命就比较准确了。结合图1和图2可以看出，黑心硅片2扫描后其少子寿命呈现从内部到外面的同心圆3，且内部寿命最低，这与正常硅片1是截然不同的。众说周知硅片位错密度越高同等情况下少子寿命越低，因此在硅片制作电池前可以首先检测硅片的少子寿命来判定硅片是否正常。需要特别指出的是，上述实施例的方式仅限于描述实施例，但本专利技术不止局限于上述方式，且本领域的技术人员据此可在不脱离本专利技术的范围内方便的进行修饰，因此本专利技术的范围应当包括本专利技术所揭示的原理和新特征的最大范围。权利要求1.，其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。2.根据权利要求1所述的，其特征在于所述薄片的厚度为 2mm。全文摘要本专利技术涉及。传统的判定黑心片方法由于受到时间，速度及量的限制无法满足大规模电池线生产需求。本专利技术其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。所述薄片的厚度为2mm。本专利技术采用检测硅棒的方法来进行判定，又由于硅棒的位错主要集中的硅棒头尾，因此检测头尾薄片非常具有代表性，而且两个薄片即代表了整个硅棒的性能，满足了快速检测需要。由于切割会在硅片表面存在损伤层并会影响少子寿命测试结果，因此将这个薄片用碘酒钝化后再测少子寿命就比较准确了。文档编号G01R31/26GK102313865SQ20111020312公开日2012年1月11日 申请日期2011年7月20日 优先权日2011年7月20日专利技术者刘成, 张华东, 张周达, 徐建飞, 贾孝董 申请人:浙江尖山光电股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种黑心硅片的快速检测方法，其特征在于对制成黑心硅片的原料硅棒的头、尾两端分别切一薄片，并使用碘酒对薄片钝化后再用少子寿命测试仪进行测试确定其少子寿命。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张华东，贾孝董，刘成，张周达，徐建飞，
申请(专利权)人：浙江尖山光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：33