角接触轴承沟位测量用复合测量标准块制造技术

本发明专利技术涉及一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，在测量块本体的上端面一体设有上中心圆柱与上圆凸环，上圆凸环的上端面与上中心圆柱的上端面平齐，上圆凸环的上端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，上中心圆柱、上圆凸环与测量块本体呈同轴设置；在测量块本体的下端面一体设有下中心圆柱与下圆凸环，下圆凸环的下端面与下中心圆柱的下端面平齐，下圆凸环的下端面与测量块本体的轴线呈垂直设置；下圆凸环、下中心圆柱与测量块本体呈同轴设置；下圆凸环的外径长度与测量块本体的外径长度相等，下圆凸环的内径长度大于上圆凸环的外径长度。本发明专利技术可以准确测量角接触轴承的沟位，结构简单，测量非常方便，测量重复性好，使用效果良好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种角接触轴承沟位测量用部件，尤其是一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。
技术介绍
目前，角接触轴承内外圈沟位的测量装置仍为传统的深沟球沟位仪表。由于角接触轴承的沟道形状为半沟，而非深沟球轴承的整沟。传统的测量方法包含平脚测头、仪表与被测套圈。深沟沟位测量工作原理见附(图1)，平脚测头在测力的作用下可以上下偏移，也可以左右偏移。测头上下偏移时仪表的指针不动，测头左右偏移时会带动仪表跳动。测量沟位时测头在测力作用下上下移动。当测头接触到套圈滚道的第一个点时，测头处于不稳定状态，此时测头会左右移动，当测头与沟道两个点同时接触时才会处于稳定状态，此时仪表上的读数就为套圈的沟位。但是角接触轴承套圈的沟道是半沟时，(图2)，测头上下左右移动，测头的点与沟道接触，测头的点找到接触点，因此找不到稳定状态的位置。半沟沟位测量不准确，而且测量量很困难。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种可以准确测量角接触轴承的沟位、结构简单、测量非常方便的角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。按照本专利技术提供的技术方案，所述角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，它包括圆柱本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，其特征是：它包括圆柱状的测量块本体（１），在测量块本体（１）的上端面一体设有上中心圆柱（２）与上圆凸环（３），上圆凸环（３）在上中心圆柱（２）的外部，上圆凸环（３）的上端面与上中心圆柱（２）的上端面平齐，上圆凸环（３）的上端面与测量块本体（１）的轴线呈垂直设置，上中心圆柱（２）与测量块本体（１）呈同轴设置，上圆凸环（３）与测量块本体（１）呈同轴设置；在测量块本体（１）的下端面一体设有下中心圆柱（４）与下圆凸环（５），下圆凸环（５）在下中心圆柱（４）的外部，下圆凸环（５）的下端面与下中心圆柱（４）的下端面平齐，下圆凸环（５）的下端面与测量块本体（１）的...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭义银，
申请(专利权)人：无锡市第二轴承有限公司，
类型：发明
国别省市：32