磁片位置度快测仪制造技术

技术编号:5324617 阅读:181 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种磁片位置度快测仪,其特征在于,其包括用于测量定位点位置度的数显千分表,其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制,而上述的定位点则设置在磁片的放置位置上,且定位点为多个,分布在磁片放置位置的外周上。本实用新型专利技术在磁片的放置位置的外周上设置定位点,并通过数显千分表来对定位点进行位置度控制,有效地保证了磁片在ESG产品平台上的位置度,保证了产品的精度和优良品质。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

磁片位置度快测仪
本技术涉及一种磁片位置度的测量工具,属于测量仪器
技术背景我们知道,新产品的底板上没有定位蘑菇头,对于粘接在产品底板上的磁片的 位置度控制,需要开发一套适合生产的快速检测位置度仪器。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本技术的目的在于提供一种可有效控制粘结在 新产品底板上的磁片的位置度的磁片位置度快测仪。本技术是通过以下技术方案来实现的一种磁片位置度快测仪,其特征在于,其包括用于测量定位点位置度的三只数 显千分表,其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制,而上述的定位点则设置在磁片 的放置位置上,且定位点为多个,分布在磁片放置位置的外周上。上述的定位点设置有3个,而所述的数显千分表也对应设置有3个。本技术的有益效果是本技术在磁片的放置位置的外周上设置定位 点,并通过数显千分表来对定位点进行位置度控制,有效地保证了磁片在ESG产品平台 上的位置度,保证了产品的精度和优良品质。附图说明图1为本技术一实施例的结构示意图。图中主要附图标记含义为1、新产品底板2、磁片3、定位点4、数显千分表具体实施方式下面将结合附图,详细说明本技术的具体实施方式图1为本技术一实施例的结构示意图。如图1所示磁片位置度快测仪,其包括用于测量定位点位置度的数显千分表 4,而上述的定位点3则设置在ESG产品平台1上的磁片2的放置位置上,且定位点3为 多个,分布在ESG产品平台1上的磁片2放置位置的外周上。在本实施方式中,定位点设置有3个,而所述的数显千分表4也对应设置有3 个。本技术的设置过程为首先利用产品的图纸制作标准校准块,利用标准校 准块把需要测量的3个定位点3通过3个数显千分表4显示数据,然后将数显千分表4对 3个测量的点归零,再将磁片2粘合在ESG产品平台1后,利用数显千分表4进行位置度 的测量,通过数显千分表4已经设定的上下公差,直接显示是否在规定的范围内,实现快速测量磁片2的位置度。操作流程将校准块放到快测仪上按启动后,对数显千分表4进行清零,然后 取下校准块,再放上产品按启动测试,数显千分表4会显示产品是否在要求的位置范围 内。本技术在磁片2的放置位置的外周上设置定位点3,并通过数显千分表4来 对定位点3进行位置度控制,有效地保证了磁片2在ESG产品平台1上的位置度,保证 了产品的精度和优良品质。以上已以较佳实施例公开了本技术,然其并非用以限制本技术,凡采 用等同替换或者等效变换方式所获得的技术方案,均落在本技术的保护范围之内。权利要求1.一种磁片位置度快测仪,其特征在于,其包括用于测量定位点位置度的数显千分 表,其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制,而上述的定位点则设置在磁片的放置 位置上,且定位点为多个,分布在磁片放置位置的外周上。2.根据权利要求1所述的磁片位置度快测仪,其特征在于,所述的定位点设置有3 个,而所述的数显千分表也对应设置有3个。专利摘要本技术公开了一种磁片位置度快测仪,其特征在于,其包括用于测量定位点位置度的数显千分表,其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制,而上述的定位点则设置在磁片的放置位置上,且定位点为多个,分布在磁片放置位置的外周上。本技术在磁片的放置位置的外周上设置定位点,并通过数显千分表来对定位点进行位置度控制,有效地保证了磁片在ESG产品平台上的位置度,保证了产品的精度和优良品质。文档编号G01B5/00GK201811694SQ201020564278公开日2011年4月27日 申请日期2010年10月18日 优先权日2010年10月18日专利技术者陈佩仪 申请人:微密科技(无锡)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁片位置度快测仪,其特征在于,其包括用于测量定位点位置度的数显千分表,其通过气缸推动同时通过可编程控制器控制,而上述的定位点则设置在磁片的放置位置上,且定位点为多个,分布在磁片放置位置的外周上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈佩仪
申请(专利权)人:微密科技无锡有限公司
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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