全数电性能测试机测试针机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种电子元件的测试机构，尤其是涉及一种全数电性能测试机测试针机构。其主要是解决现有技术所存在的测试针的结构是水平放置，元件管脚也是水平方向的，因此测试针与元件管脚的接触是面接触，接触面积较大，因而接触部分的压强较小，接触电阻比较大，接触性能稍差等的技术问题。本实用新型专利技术包括连接在测试机上的固定座（１），其特征在于所述的固定座（１）上对称连接有两根及以上根可检测电子元器件管脚接触性能的测试针（２），两根及以上根测试针的针头相对设置，并且两个针头之间留有可放入电子元器件的间隙，两根及以上根测试针（２）的针体与水平面的夹角都为１５～３０°。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电子元件的测试机构，尤其是涉及一种对全数电性能测试机测试针 机构等结构的改良。
技术介绍
电子元器件在批量生产时须进行全数电性能测试，电性能测试须使用测试针接触元件的 管脚，通过测试针将输入、输出信号传递给测试系统或元件，从而判定元件是好是坏。中国专利公开了一种芯片管脚开/短路测试机及其方法(授权公告号CN 100432685C)，其包括 芯片插座，用于插放待测芯片；正负电流发生电路，与芯片插座相连，用于向芯片管脚之一 提供正电流或负电流；多路开关控制电路，与芯片插座相连，用于控制余下的芯片管脚接地 ;电压提取电路，与芯片插座相连，用于从芯片管脚提取输出电压；门限电压发生电路，用 于产生正门限电压或负门限电压；电压比较器，与电压提取电路和门限电压发生电路相连， 用于将电压提取电路提取的管脚输出电压与门限电压发生电路产生的门限电压进行比较，并 输出比较结果；控制电路，分别与多路开关控制电路、正负电流发生电路、电压提取电路和 门限电压发生电路相连；控制电路控制多路开关控制电路使插入芯片插座中的芯片管脚除一 个管脚之外，其余管脚接地，并按序依次变换该未接地的管脚；控制电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全数电性能测试机测试针机构，包括连接在测试机上的固定座（１），其特征在于所述的固定座（１）上对称连接有两根及以上根可检测电子元器件管脚接触性能的测试针（２），两根及以上根测试针的针头相对设置，并且两个针头之间留有可放入电子元器件的间隙，两根及以上根测试针（２）的针体与水平面的夹角都为１５～３０°。

【技术特征摘要】
1.一种全数电性能测试机测试针机构，包括连接在测试机上的固定座(1)，其特征在于所述的固定座(1)上对称连接有两根及以上根可检测电子元器件管脚接触性能的测试针(2)，两根及以上根测试针的针头相对设置，并且两个针头之间留有可放入电子元器件的间隙，两根及以上根测试针(2)的针体与水平面的夹角都为15～30°。2 根据权利要求l所述的全数电性能测试机测试针机构，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈占胜，
申请(专利权)人：浙江博杰电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：86[中国|杭州]