一种VCM一体化性能测试系统，包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪，MCU控制VCM测试模块的运行，VCM测试模块能够在完成VCM震荡测试之后且打开MCU定时器的情况下，通过在第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。
VCM integrated performance testing system
A VCM integrated test system, including power supply circuit, a voltage is applied to the VCM at both ends of the main control unit is provided with a timer (MCU), with the main control unit (MCU) to connect to the server, VCM test module and test module connected with the VCM laser rangefinder, MCU control VCM test module, VCM test can open the MCU module and timer after completing the VCM shock test case, the first shock in a t time period T (0< t< oscillation cycle (T)), adjust the voltage, the input current of I VCM is reduced to a current I less than the initial value of current (0< i< initial current (I), VCM) causes a downward force to offset VCM upward shock force, and on this basis, gradually increase the input current of I, eventually recover to the initial current of I, the realization of VCM shock suppression.
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种VCM一体化性能测试系统，尤其是一种能够完成震荡周期测试之后实现震荡抑制的VCM一体化性能测试系统。
技术介绍
VCM当运动到一个相应的位置是都有一个类似与弹簧的机械震荡，同样也有对应的震荡周期，VCM必须进过一定时间才能达到一个相对稳定期。手机端由于VCM震荡不利于快速对焦，因而抑制震荡是需要解决的一个问题。
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本技术提供一种VCM一体化性能测试系统，所述VCM一体化性能测试系统能够在完成震荡周期测试之后继续实现震荡抑制。本技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种VCM一体化性能测试系统，包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪，MCU控制VCM测试模块的运行，VCM测试模块能够在完成VCM震荡测试之后且打开MCU定时器的情况下，通过在第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。作为本技术的进一步改进，还包括受MCU控制运行的EEPROM测试模块、Hall测试模块以及Gyro测试模块。本技术的有益效果是：本技术VCM一体化性能测试系统在完成VCM震荡测试之后且打开MCU定时器的情况下，通过在第一个震荡周期内的某一时间点(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流(i)减少到某一个小于初始电流(I)的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流，最终恢复初始输入的电流值，从而实现了VCM震荡抑制，即经过本技术VCM一体化性能测试系统测试合格的VCM，能够使手机摄像头快速对焦。附图说明图1为本技术对应的VCM一体化性能测试方法的整体系统原理框图。图2为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中Hall测试系统原理框图。图3为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中Gyro测试系统原理框图。图4为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中EEPROM测试系统原理框图。图5为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中VCM震荡测试及震荡抑制系统原理框图。图6为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中VCM启动电流测试系统原理框图。图7为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中VCM行程测试系统原理框图。图8为本技术对应的VCM一体化性能测试方法中VCM寿命测试系统原理框图。图9为本技术VCM一体化性能测试系统的结构框图。图10为本技术VCM一体化性能测试系统的VCM震荡测试效果图。图11为本技术VCM一体化性能测试系统的VCM震荡抑制实现效果图。具体实施方式一种VCM一体化性能测试系统，包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪，MCU控制VCM测试模块的运行，VCM测试模块能够在完成VCM震荡测试之后且打开MCU定时器的情况下，通过在第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。本技术VCM一体化性能测试系统还包括受MCU控制运行的EEPROM测试模块、Hall测试模块以及Gyro测试模块。本技术VCM一体化性能测试系统，其对应于一种VCM一体化性能测试方法，包括如下步骤：S1：通过主控单元(MCU)的AD(模拟-数字)信号采集，计算出VCM阻值，从而得出需要输入的电压V；S2：电源电路在VCM两端施加上述电压V，使得VCM中有对应的初始电流I通过，与VCM测试模块连接的镭射测距仪，其输出的距离数字通过VCM测试模块回传给MCU，MCU计算得出VCM震荡周期T，并将VCM震荡周期T上传服务器；S3：MCU询问是否测试震荡抑制，若是，进入如下步骤：S4：打开MCU的定时器，于第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。优选实施方式中，镭射测距仪输出的距离数字可以转化成模拟信号在示波器上显示，示波器只是用来显示震荡曲线而已。优选实施方式中，所述步骤S4里减少输入电流的时间点t位于T/5与T/4之间，该时间点t的输入电流i为3I/4。VCM震荡测试：VCM当运动到一个相应的位置是都有一个类似与弹簧的机械震荡，同样也有对应的震荡周期，VCM必须进过一定时间才能达到一个相对稳定期。VCM震荡测试的效果图，请参考图10：该图是VCM输入电流为40mA，镭射输出距离的模拟信号在示波器上的显示，明显可以看出VCM在做振幅衰减的正弦震荡，并经过一段时间趋于平衡(平衡条件峰峰值≤3um)；将镭射输出距离的数字，经过系统计算得出对应的震荡周期以及稳定时间，并将对应的测试结果显示在PC机的同时上传服务器。震荡抑制实现：手机端由于VCM震荡不利于快速对焦，因而抑制震荡是需要解决的一个问题。本技术VCM一体化性能测试系统基本实现抑制功能。震荡抑制实现的效果图，请参考图11：在测试VCM震荡时(电流40mA)，得到了VCM震荡的周期，系统的做法是在先输出40mA到VCM，打开MCU的定时器，当快接近第一个1/4周期时，减少对VCM的输入电流，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流，直到40mA。减少输入电流的时间点不同，在该时间点输入电流的骤减的大小程度不同，震荡抑制实现的效果不同，即所需的稳定时间不同。步骤S1之后还包括启动电流测试S11：持续增加电压使通过VCM的电流逐渐增大，观察镭射测距仪是否有质变？若是，将引起镭射测距仪质变的该电流值作为启动电流测试的结果上传服务器。对于普通VCM(中置VCM不存在启动电流，故中置VCM此项不测)，通过在VCM两端由小到大逐渐输入正向电压，从而通过VCM的电流逐渐增大，使VCM在电流的作用下能向上运动；在加电压的同时监控镭射测距仪，如果测距仪测出的距离数据有明显的上升(排除抖动引起的上升)，则该电流值即为VCM的启动电流，将测试结果显示在PC机的同时上传服务器。在步骤S1之后还包括VCM行程测试S12：调节电压使通过VCM的电流从能够承受的最小值逐渐增大到最大值，观察镭射测距仪上的数值变化量，将该数值变化量作为VCM行程测试的结果上传服务器。普本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种VCM一体化性能测试系统，其特征是：包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪。
【技术特征摘要】
1.一种VCM一体化性能测试系统，其特征是：包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁杰，许克亮，张银凤，
申请(专利权)人：昆山丘钛微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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