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全数电性能测试机测试针机构制造技术
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文档序号:5174761
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本实用新型涉及一种电子元件的测试机构,尤其是涉及一种全数电性能测试机测试针机构。其主要是解决现有技术所存在的测试针的结构是水平放置,元件管脚也是水平方向的,因此测试针与元件管脚的接触是面接触,接触面积较大,因而接触部分的压强较小,接触电阻比...
该专利属于浙江博杰电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江博杰电子有限公司授权不得商用。
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