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本实用新型涉及一种电子元件的测试机构，尤其是涉及一种全数电性能测试机测试针机构。其主要是解决现有技术所存在的测试针的结构是水平放置，元件管脚也是水平方向的，因此测试针与元件管脚的接触是面接触，接触面积较大，因而接触部分的压强较小，接触电阻比...
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