一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法包括由前板、后板、顶盖、底盖及两侧板组成的箱体、印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路；测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨码开关电路；拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与反相驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接。包括如下步骤：１，制作印制电路板；２，ＰＣＢＡ组装；３，测试机连接器外接测试机，机械手连接器外接机械手，调节拨码开关的位置。本发明专利技术能提高驱动电流及信号反相，提供稳定的电压，保护电路及使用安全，成本低、体积小，易操作，易于普及应用。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种反相装置及其制作方法，具体涉及一种集成电路测试系统的反 相装置及其制作方法。
技术介绍
在集成电路测试领域，测试系统的组合形式多种多样，一般有并行双工位、四 工位和串行双工位、四工位测试，最基本的为单工位测试；但是任何一种组合形式的测 试系统，都存在通讯干扰，还有许多测试厂考虑测试成本的因素，几乎每个封测厂的测 试机品种和机械手品种至少会有四种以上，每台测试机和机械手的整体不一样，为了测 试不同的产品，测试机和机械手之间每隔一段时间会有新的组合，每台测试机的接触阻 抗和驱动能力不一样，因此就会出现每次新的组合出现通讯中的瞬间干扰信号故障。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供，它能将 测试机和机械手所有端口的TTL信号任意更改，满足测试机和机械手对TTL电平的需 求；提高驱动电流，有效消除通讯中的干扰信号，使测试结果可靠准确。本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的目的是通过以下技术方案 实现的，包括由前板、后板、顶盖、 底盖及两侧板组成的箱体；还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路。所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路 及拨码开关电路。所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与 反相驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接；所述的隔离 电路串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Vcc之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的反相驱动电 路包括两个反相器集成电路芯片，每个反相器集成电路芯片包括六个反相器；所述的反 相驱动电路的各输入端与拨码开关电路的各输出端对应连接，反相驱动电路的各输出端 与机械手连接器的各端对应连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的拨码开关电 路包括多个拨码开关，所述的拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接，该 并接端口与测试机连接器的相应端口连接，所述的拨码开关的多个输出端中每两个相邻 的端口分别与反相驱动电路的反相器的输入端和输出端连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的隔离电路包 括一光电耦合器；所述的光电耦合器的端口 1及端口 2与测试机连接器的电源Vcc连接， 光电耦合器的端口 3与机械手连接器的电源Vcc连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的集成电路测试系统的反相装置还包括一保护电阻R1，所述的保护电阻Rl串接在光电耦合器端口 4与 接地端之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，还包括偏置电阻R2 和R3，所述的偏置电阻R2串接在测试机连接器的端口 4与接地端口之间；所述的偏置电 阻R3串接在机械手连接器的端口 4与电源Vcc之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的箱体的前板 设有测试机连接器安装孔，所述的测试机连接器对应设置在箱体前板的测试机连接器安 装孔内；所述的箱体的后板设有机械手连接器安装孔，所述的机械手连接器对应设置在 箱体后板的机械手连接器安装孔内；所述的箱体顶盖上设有四个拨码开关安装孔，所述 的四个拨码开关分别对应设置在拨码开关安装孔内；所述的箱体底盖上设有两个印制电 路板安装孔，所述的印制电路板通过螺丝及印制电路板安装孔固定在底盖上。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，该方法至少包括以 下步骤步骤1，制作印制电路板步骤1.1，字符丝印用白色；步骤1.2，板材厚度是1.5mm，铜箔厚度是35um ；步骤1.3，对印制电路板喷锡。步骤2，PCBA的组装步骤2.1，测试要安装的元件的基本电器性能是否合格，若不合格，更换元件， 若合格，进行下一步；步骤2.2，将元件的体积按从小到大的顺序焊接在印制电路板上，并测试元件的 极性和安装位置是否正确，若不正确，返回上一步重新焊接；若正确，进行下一步；步骤2.3，将测试合格的印制电路板用螺丝固定在箱体的底盖上。步骤3，本集成电路测试系统的反相装置的测试机连接器外接测试机，本集成电 路测试系统的反相装置的机械手连接器外接机械手，若机械手为并行双SITE测试，每个 SITE位用一只反相器，再调节拨码开关的位置。本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了上述方案，使之 与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果1、本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了反相驱动电 路，能提高驱动电流及信号反相。2、本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了隔离电路，防 止信号干扰，使电压相当稳定，保护电路芯片及使用安全。3、本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于提高了电流的驱动能 力和抗干扰能力，使各种新旧型号的各种测试机与机械手的通讯安全可靠。4、本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法外观简洁美观、成本低、 体积小，制作方法简单，易操作，易于普及应用。附图说明图1是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的正视图。图2是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的后视图。图3是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的俯视图。图4是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的仰视图。图5是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的电路原理图。图6是本专利技术集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的流程图。具体实施例方式请参见附图1所示，并结合附图2、附图3及附图4所示，本专利技术集成电路测试 系统的反相装置包括由前板11、后板12、顶盖13、底盖14及两侧板(图中未示出)组成 的箱体1、一印制电路板(图中未示出)及安装在印制电路板上的测试电路2 ；箱体1的 前板11设有测试机连接器安装孔111，箱体1的后板12设有机械手连接器安装孔121， 箱体1的顶盖13上设有四个拨码开关安装孔131，箱体1的底盖14上设有两个印制电路 板安装孔141，测试机连接器21对应设置在箱体1的测试机连接器安装孔111内，机械手 连接器22对应设置在箱体1的机械手连接器安装孔121内。请参见附图5所示，测试电路2包括测试机连接器21、机械手连接器22、反相 驱动电路23、隔离电路24及拨码开关电路25 ；还包括偏置电阻112和113，偏置电阻R2 串接测试机连接器21的接地端口(端口 14)与端口 4之间；偏置电阻R3串接在机械手 连接器22的电源Vcc(端口 14)与端口 4之间；拨码开关电路25的输入端与测试机连接 器21连接，拨码开关电路25的输出端与反相驱动电路23的输入端连接，反相驱动电路 23的输出端与机械手连接器22连接。在本实施例中，反相驱动电路23包括两个反相器 集成电路芯片Ul及U2，每个反相器集成电路芯片包括六个反相器U1-1/6至U1-6/6、 U21-6至U2-6/6;反相驱动电路23的输入端与拨码开关电路25的输出端连接，反相驱 动电路23的输出端与机械手连接器22对应连接。拨码开关电路25包括多个拨码开关， 拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接，该并接端口与测试机连接器21的 相应端口连接，拨码开关的多个输出端中每两个相邻的端口分别与反相驱动电路23的反 相器的输入端和输出端连接。隔离电路本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，包括由前板、后板、顶盖、底盖及两侧板组成的箱体；其特征在于：还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路；所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨码开关电路；所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与反相驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接；所述的隔离电路串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Ｖｃｃ之间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘若智，
申请(专利权)人：上海芯哲微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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