本发明专利技术涉及电力电子领域，尤其涉及一种运算放大器的测试电路。一种运算放大器的测试电路，所述测试电路包括：待测的运算放大器，第一节点、第二节点、第三节点和第四节点；所述第一节点与所述第四节点之间连接有第一电阻和第二电阻，所述第二节点与所述第三节点之间连接有第三电阻和第四电阻，以作为所述运算放大器输入端的输入电阻；第一继电器连接在所述第二电阻和所述运算放大器的反相输入端之间以及连接在所述第四电阻和所述运算放大器的正相输入端之间，所述第一继电器控制所述运算放大器接入输入信号；以及通过第一电压源与第二电压源对所述运算放大器施加电源电压后，量测所述运算放大器的输出信号，得到测试结果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电力电子领域，尤其涉及一种运算放大器的测试电路。
技术介绍
目前在运算放大器投入到集成电路的应用过程之前，通常需要对运算放大器进行多参数的测试，在对每一个参数进行测试的过程中，就要提供一个测试电路，如此，则需要多个测试电路，运算放大器要频繁的更换测试电路，这测试人员来说是较为麻烦的，同时由于频繁的更换运算放大器的测试电路，会对运算放大器的造成损坏，测试效率也不高。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供了一种能够用一个高集成电路即可对运算放大器进行多个参数的测试。本专利技术采用如下技术方案一种运算放大器的测试电路，所述测试电路包括:待测的运算放大器(DUT，以下简称运算放大器)，第一节点(电阻RJ5与继电器K2之间形成的节点)、第二节点(电阻RJ6与继电器K3之间形成的节点)、第三节点(继电器K19与开关KK16之间形成的节点)和第四节点(继电器K19与开关KK15之间形成的节点);所述第一节点与所述第四节点之间连接有第一电阻(RJ5)和第二电阻(RJ1X)，所述第二节点与所述第三节点之间连接有第三电阻(RJ6)和第四电阻(RJ2X)，以作为所述运算放大器输入端的输入电阻；第一继电器(K19)连接在所述第二电阻(RJ1X)和所述运算放大器的反相输入端之间以及连接在所述第四电阻(RJ2X)和所述运算放大器的正相输入端之间，所述第一继电器控制所述运算放大器接入输入信号；以及通过第一电压源V5与第二电压源V6对所述运算放大器施加电源电压后，量测所述运算放大器的输出信号，得到测试结果。优选的，所述第一节点通过第一开关(K1)接地，所述第二节点通过第二开关(K4)接地，以使所述运算放大器能够接入共模输入电压。优选的，所述第一节点通过第二继电器(K2)与第一电流源(A、B、C、D或表示为VI?V4)连接；所述第二节点通过第三继电器(K3)与所述第一电流源连接，以使所述运算放大器能够接入差模输入电压。优选的，所述第一节点与一交流信号源(V3)连接，以使所述运算放大器的反相端能够输入交流信号。优选的，所述第二继电器与所述第三继电器分别与一模拟转换开关连接，所述模拟转换开关对多个模拟量进行模数变换。优选的，所述第二电阻与第三开关(KK15)并联，所述第四电阻与第四开关(KK16)并联，通过断开或闭合所述第三开关改变所述运算放大器反相端的输入电阻，通过断开或闭合所述第四开关改变所述运算放大器同相端的输入电阻。优选的，所述第一继电器还与第二电流源连接，所述第二电流源能够在所述运算放大器的同相端施加额定电流，以测试所述同相端产生的电压。优选的，所述运算放大器的输出端与所述运算放大器的反相端之间连接有第一反馈电阻，以及所述运算放大器的输出端与所述运算放大器的反相端之间连接有第五开关(K8)，控制反馈回路的通断。优选的，所述运算放大器的输出端连接有多个负载，所述负载与所述输出端之间均连接有一开关，所述开关控制负载与输出端之间的连接。优选的，所述运算放大器的输出端连接有一辅助运算放大器，通过测试所述辅助运算放大器的输出信号，得到测试结果；以及所述运算放大器的输出端与所述辅助运算放大器的同相端之间连接有一电阻和第六开关(K12)，所述第六开关控制所述运算放大器的输出端与所述辅助运算放大器之间的连接。优选的，所述辅助运算放大器的输出端通过一反馈电阻(RJ4)和第七开关(K7)连接，所述第七开关控制反馈回路的通断。优选的，所述辅助放大器的输出端连接有第三电流源，所述第三电流源量测所述辅助运算放大器的输出信号。优选的，所述辅助运算放大器的同相端与所述运算放大器的输出端均与第三电压源(V8)连接，通过设置所述第三电压源的电压，使所述运算放大器的输出电压为设定值。优选的，所述运算放大器的输出端与第四电压源(V9)连接，所述第四电压源量测所述运算放大器的输出信号。优选的，所述运算放大器的输出端与第五电压源(V10)连接，所述第五电压源与至少一个电容(CT3和/或CT4)并联，所述电容减小低频信号的通过能力，所述第五电压源量测所述运算放大器的输出电压。优选的，所述运算放大器的输出端与一时间参数量测源(VII)连接，所述时间参数量测源测试所述运算放大器输出电压上升沿的时间变化率。优选的，所述运算放大器的输出端与一交流信号量测源(V12)连接，所述交流信号量测源测试所述运算放大器输出的交流信号。优选的，所述运算放大器的输出端与量测源之间连接有一继电器，所述继电器控制所述量测源对所述运算放大器的输出信号的量测。本专利技术的有益效果是:本专利技术通过一个电路连接图，既可以完成若干项的运算放大器测试多种测试参数，仅需要使用一个电路，测试人员操作简单，将多种测试模式集成于一个芯片上节省了测试的时间，同时本专利技术中的测试电路测试精度高，可以保证测试参数的准确性。【附图说明】图1为本专利技术运算放大器的测试电路的电路连接图；图2为本专利技术运算放大器测试开短路的电路连接图；图3为本专利技术共模电压抑制比、输入失调电压测试与输入偏置电流测试的电路连接图；图4为本专利技术最大、最小输出电流测试的电路连接图；图5为本专利技术不同负载条件下输出电压的幅摆测试电路连接图；图6为本专利技术开环电压增益的电路连接图；图7为本专利技术被测运算放大器电源端的电流值的测试电路连接图；图8为本专利技术增益带宽积的测试电路连接图；图9为本专利技术输出电压上升沿的最大变化率的电路连接图；图10-图11为本专利技术输出电压上升沿变化与对应时间的波形图；图12为本专利技术同相端额定电压的测试电路图。【具体实施方式】需要说明的是，在不冲突的情况下，下述技术方案，技术特征之间可以相互组合。下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步的说明:实施例一本专利技术可以通过一个集成的芯片测试运算放大器DUT的多项参数，如图1所示，本实施例的电路包括一个待测的运算放大器DUT，对该运算放大器施加电源电压，即电压源/电流源V5和电压源/电流源V6，V5和V6可以作为电压源或者是电流源，V5和V6的一端接地，运算放大器DUT同相端通过电磁继电器K19与输入电阻RJ5连接，运算放大器DUT反相端通过电磁继电器K19与输入电阻RJ6连接，继电器K19的另一个触点通过一电压源/电流源V4接地，同相端和反相端与其各自的输入电阻RJ5、RJ6之间分别连接一开关KK15、KK16，用于控制同相端反相端与输入信号之间的通断，开关KK15与开关KK16各自可以并联一个电阻，分别为RJ1X和RJ2X，通过断开与闭合开关KK15或KK16对应的将电阻RJ1X或RJ2X短路，改变同相端与反相端输入电阻的阻值。电阻RJ9的一端接地，另一端分别与电阻RJ6和电阻RJ2X连接。同相端与反相端可以选择共模输入和差分输入的方式，共模输入当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种运算放大器的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：待测的运算放大器，第一节点、第二节点、第三节点和第四节点；所述第一节点与所述第四节点之间连接有第一电阻和第二电阻，所述第二节点与所述第三节点之间连接有第三电阻和第四电阻，以作为所述运算放大器输入端的输入电阻；第一继电器连接在所述第二电阻和所述运算放大器的反相输入端之间以及连接在所述第四电阻和所述运算放大器的正相输入端之间，所述第一继电器控制所述运算放大器接入输入信号；以及通过第一电压源与第二电压源对所述运算放大器施加电源电压后，量测所述运算放大器的输出信号，得到测试结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘若智，
申请(专利权)人：上海芯哲微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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