用于自动高压测试仪的绝缘测试轨道制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于自动高压测试仪的绝缘测试轨道，该测试轨道包括二条互为平行的前测试轨道和后测试轨道，前测试轨道和后测试轨道分别镶嵌在原有的金属轨道上；所述前测试轨道整体上是绝缘轨道；所述的后测试轨道为回字形结构，顶面为金属测试轨道，另三侧均为绝缘隔离层，回字形中间的空腔设有一可伸缩的金属托块。本实用新型专利技术的优点是有效防止高压测试失效时的放电电场对ＴＭＴＴ控制系统＆常规测试系统的干扰＆破坏。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试轨道，特别涉及一种用于测试半导体功率器件的自动高 压测试仪的绝缘测试轨道。
技术介绍
高压测试仪Hi-pot是为了检出产品制造过程中因组件外露、气孔，偏位等瑕疵导 致的绝缘耐压不良品。测试时材料上会施加2000V-3500V的AC或DC高压电场，当检测到 不良品时会产生高压放电火花，此高压放电电场会对自动控制&测试系统产生干扰甚至破 坏。为避免这些干扰&破坏，通常采用以下两种Hi-pot方式手工离线测试或独立自动 Hi-pot设备测试法。1.手工离线测试法缺点是耗费人力，人为操作失误的风险较高，被测材料的6个 面只能检测到4个，左右2个侧面检测不到；2.独立自动Hi-pot设备测试法缺点是设备投资大，需要增加独立的Hi-pot制 程&设备，还需要配备专门的操作人员，耗费人力。优点是测试的可靠性高，效率也比人工 测试高。为了解决手工离线测试法及独立自动Hi-pot设备测试法所存在的缺点。将高压 测试仪Hi-pot制程整合在现有的测试印字包装一贯机TMTT上，既可以解决手工离线测试 法所造成的耗费人力、人为操作失误的风险较高及材料本体左右侧面检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于自动高压测试仪的绝缘测试轨道，该测试轨道包括二条互为平行的前测试轨道和后测试轨道，前测试轨道和后测试轨道分别镶嵌在原有的金属轨道上；其特征在于：所述前测试轨道整体上是绝缘轨道；所述的后测试轨道为回字形结构，顶面为金属测试轨道，另三侧均为绝缘隔离层，回字形中间的空腔中设有一活动托块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：唐有名，尹德培，郭建武，
申请(专利权)人：上海旭福电子有限公司，敦南微电子无锡有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]