用于检测的阵列式凸块制造技术

技术编号:4192802 阅读:168 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种用于检测的阵列式凸块,属于机电类。它包括绝缘基片;数个导电线路层,设置在绝缘基片上,各导电线路层一端对应待测显示器的位置上,设有复数个接触凸点,各接触凸点依待测显示器的电极数量及密度而设置其连接待测显示器的各电极;各导电线路层另一端对应测试模具的位置上,设有与复数个接触凸点相接的复数个导接垫片,其连接测试模具的电路,接触凸点藉由导电线路层的线路图样的布线传导,而与导接垫片电性连接。优点在于:结构简单,制作容易,使用寿命长,检测精度高,实用性强。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机电类,特别涉及一种用于检测的阵列式凸块
技术介绍
众所周知,在常用检测液晶显示面板(LCD)的测试技术中,显 示面板在进行电性测试时,利用弹性金属类的探针作为待测显示面板 与测试机台间的测试信号媒介,藉此以通过弹性金属探针来输入信号 电压到每一显示面板中连接IC的电极,以使显示面板得以被驱动, 再通过测试机台的电脑分析后,将显示结果予以识别出该显示面板内 的电路连通性。但是由于液晶显示面板中的电极相当薄且脆弱,而这类的弹性金 属探针的测试端呈尖锐状,使得在测试过程中,测试者必须格外小心, 以防弹性金属探针刮伤液晶显示面板的电极,否则便会破坏待测液晶 显示面板的电性而降低良品率再者,由于弹性金属探针的形状呈一 倒角弯折状,故十分容易因某根弹性金属探针的翘起而未能完全接触 到液晶显示面板的电极,进而造成某部份的电极未受到测试,忽略了 该显示面板的不良性,导致有瑕疵的显示面板依然可顺利出厂。另一方面,随着液晶显示面板小型化及功能增加,使得液晶显示 面板的电极密集化,常用技术制作的弹性金属探针也趋细微,除了脆 弱易弯、易断裂外,也无法将测试弹性金属探针的排置密度做相对性 的提高,因而造成检测模具上制作的困难,且其成本也相对提髙许多, 需要加以改进
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于检测的阵列式凸块,解决了 常用的弹性金属类的探针检测显示面板时存在的检测效果不佳,检测 模具制作困难及成本高等问题。本技术的技术方案是包括绝缘基片;数个导电线路层,设 置在绝缘基片上,各导电线路层一端对应待测显示器的位置上,设有 复数个接触凸点,各接触凸点依待测显示器的电极数量及密度而设 置,可供连接待测显示器的各电极;各导电线路层另一端对应测试模 具的位置上,设有与复数个接触凸点相接的复数个导接垫片,供连接 测试模具的电路,接触凸点藉由导电线路层的线路图样的布线传导, 而与导接垫片电性连接;使用时,可将绝缘基片安装在测试模具的凹 槽上,使导接垫片穿过测试模具所设的开槽,与测试模具下方电路板 的电路电性连接,令待测显示器被安装在测试模具的凹槽上进行测试 时,利用压靠方式使各接触凸点可接触连接待测显示器的各电极,使 待测显示器藉由绝缘基片而与测试模具所设的信号输出/输入端形成 电连接,而能对待测显示器进行测试;其中,绝缘基片为可挠性的塑胶薄片材质或可挠性的橡胶薄片材 质制成;导电线路层的线路图样由弹性导电材质,利用微影蚀刻方式制成;接触凸点为金属导电凸点; 金属为铜、金、银、铝、铁或镍;接触凸点为圆形导电凸点,各导电凸点与导电线路层的布线相接。本技术的优点在于结构简单,制作容易,使用寿命长,检 测精度高,实用性强。附图说明图1为本技术的平面示意图2为本技术与测试模具的立体示意图3为本技术与测试模具的剖视示意图4为本技术用于检测的阵列式凸块的部份放大示意图。具体实施方式如附图1至附图3所示,本技术用于检测的阵列式凸块1设 有绝缘基片11,绝缘基片11上设置有数个导电线路层12a、 12b、 12c, 各个导电线路层12a、 12b、 12c—端对应待测显示器3的位置上,设 有复数个接触凸点121a、 121b、 121c,该等接触凸点121a、 121b、 121c依待测显示器3的电极数量及密度而设置,其可供连接待测显 示器3的各电极;各导电线路层12a、 12b、 12c另一端对应测试模具 2的位置上,设有与复数个接触凸点121a、 121b、 121c相接的复数个 导接垫片122a、 122b、 122c,供连接测试模具2的电路,令接触凸点 121a、 121b、 121c藉由导电线路层12a、 12b、 12c的线路图样的布线 传导,而与导接垫片122a、 122b、 122c电性连接。如附图2及附图3所示,使用时,可将绝缘基片11安装在测试 模具2的凹槽21上,使导接垫片122a、 122b、 122c穿过测试模具2 所设的开槽22,与测试模具2下方电路板23的电路电性连接,令待 测显示器3被安装在测试模具2的凹槽21上进行测试时,利用压靠 方式使各接触凸点121a、 121b、 121c可接触连接待测显示器3的各 电极,使待测显示器3藉由绝缘基片11而与测试模具2所设的信号 输出/输入端24形成电连接,而能对待测显示器3进行测试。如此,通过各接触凸点121a、 121b、 121c接触连接待测显示器3 各电极的设计,无需使用导电橡胶,能增加使用寿命、避免接触导电5橡胶的污染、并且精密度高可测试高精密度的显示器3。如附图1至附图3所示,本技术用于检测的阵列式凸块1的 绝缘基片11为可挠性的塑胶薄片材质或可挠性的橡胶薄片材质制 成。如附图1至附图3所示,本技术用于检测的阵列式凸块1的 导电线路层12a、 12b、 12c的线路图样由弹性导电材质通过微影蚀刻 方式制成。如附图1至附图3所示,本技术用于检测的阵列式凸块1的 接触凸点121a、 121b、 121c为金属导电凸点,该金属可为铜、金、 银、铝、铁或镍。如附图4所示,本技术用于检测的阵列式凸块1的接触凸点 121a、 121b、 121c为圆形导电凸点41,各导电凸点41与导电线路层 12a、 12b、 12c的线路图样的布线42相接,各导电凸点41圆径极为 微小(例如20um,头发直径约为60ixm),因此藉微小导电凸点41 的排列而能精密度高,可测试高精密度的显示器3,不再有无法细微 及制作困难的问题。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测的阵列式凸块,其特征在于:包括绝缘基片;数个导电线路层,设置在绝缘基片上,各导电线路层一端对应待测显示器的位置上,设有复数个接触凸点,各接触凸点依待测显示器的电极数量及密度而设置其连接待测显示器的各电极;各导电线路层另一端对应测试模具的位置上,设有与复数个接触凸点相接的复数个导接垫片,其连接测试模具的电路,接触凸点藉由导电线路层的线路图样的布线传导,而与导接垫片电性连接。

【技术特征摘要】
1、一种用于检测的阵列式凸块,其特征在于包括绝缘基片;数个导电线路层,设置在绝缘基片上,各导电线路层一端对应待测显示器的位置上,设有复数个接触凸点,各接触凸点依待测显示器的电极数量及密度而设置其连接待测显示器的各电极;各导电线路层另一端对应测试模具的位置上,设有与复数个接触凸点相接的复数个导接垫片,其连接测试模具的电路,接触凸点藉由导电线路层的线路图样的布线传导,而与导接垫片电性连接。2、 根据权利要求1所述的用于检测的阵列式凸块,其特征在于-所述的绝缘基片为可挠性的塑...

【专利技术属性】
技术研发人员:柯颖和
申请(专利权)人:旭贸股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:71[中国|台湾]

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