【技术实现步骤摘要】
本公开涉及存储器装置、系统和方法，例如，低密度奇偶校验(low-densityparity-check，ldpc)软判决解码装置、系统和方法。
技术介绍
1、闪存(flash)是一种非易失性存储器，其使用存储在电荷存储层上的电荷来表示信息。闪存将每个比特(例如，0或1)存储在包括具有电荷存储层的晶体管的存储单元中。存储器设备架构可以提供超高密度存储。然而，随着存储器设备尺寸的减小，存储器设备中的噪声会增加，这会导致更高的原误比特率(raw bit error rate，rber)。此外，rber会随着每个编程和擦除(p/e)周期而增加，并且不同闪存页之间可能存在差异。
技术实现思路
1、所公开技术的实施例涉及一种错误注入方法，用于准确和高效地验证非易失性存储器设备中的ldpc软解码纠错能力。
2、在一些方面，一种用于验证能够在存储器系统中应用的低密度奇偶校验(ldpc)单元的方法可以包括接收对应于存储器系统中提供的存储器设备的原始(original)数据，其中每个存储单元被配置为存储n比特数据，其中n是大于1的整数。在一些方面，该方法还可以包括由待验证的ldpc单元对原始数据进行编码。在一些方面，该方法还可以包括通过包括错误的数据模式将错误注入到编码的原始数据中，用于生成验证数据，其中所述错误由在存储器设备的2n个逻辑状态中的两个相邻逻辑状态之间交错的阈值电压(vth)分布生成。在一些方面，该方法还可以包括通过利用验证数据来验证ldpc单元的软解码能力。
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4、在一些方面，错误信息可以包括由于不同测试环境中近邻(相邻)逻辑状态的重叠阈值电压(vth)分布而导致的存储器设备的读出数据错误。在一些方面，不同的测试环境可以包括不同的温度、不同的擦除时间或它们的组合。在一些方面，错误信息可以包括由于在实际执行存储操作(例如，写入)时近邻(相邻)逻辑状态的重叠阈值电压(vth)分布而导致的存储器设备的读出数据错误。
5、在一些方面，真实数据信息可以包括与每个数据所在的存储单元相对应的实际阈值电压(vth)。在一些方面，真实数据信息可以包括存储单元的地址、存储的数据、对应的阈值电压(vth)或它们的组合。在一些方面，真实数据信息可用于获得处于不同逻辑状态的存储器设备的存储单元的阈值电压(vth)分布。
6、在一些方面，数据模式可以包括处于不同逻辑状态的存储器设备的多个存储单元的阈值电压(vth)分布信息。
7、在一些方面，数据模式可以包括处于不同逻辑状态的存储器设备的单个页的多个存储单元的阈值电压(vth)分布信息。
8、在一些方面，将错误注入编码的原始数据可以包括根据数据模式将阈值电压(vth)指派给编码的原始数据以生成验证数据。
9、在一些方面，根据当编码的原始数据存储在存储器设备中时与每个存储单元对应的逻辑状态，可以基于数据模式中每个逻辑状态的阈值电压(vth)分布规律向每个存储单元指派对应的阈值电压(vth)。在一些方面，可以在满足特定逻辑状态的阈值电压(vth)分布规律的条件下，将阈值电压(vth)随机指派给处于该特定逻辑状态的每个存储单元。在一些方面，阈值电压(vth)分布规律可以包括满足统计分布(例如，概率百分比)的特定逻辑状态的阈值电压(vth)分布。
10、在一些方面，通过利用验证数据验证ldpc单元的软解码能力可以包括通过根据与待验证的ldpc单元匹配的软读取规则激发验证数据的软读取来生成软读取数据。在一些方面，通过利用验证数据验证ldpc单元的软解码能力可以包括基于软读取数据，使用待验证的ldpc单元执行软解码。
11、在一些方面，与待验证的ldpc单元匹配的软读取规则可以包括读取电平偏移的设置规则。在一些方面，根据待验证的ldpc单元的软读取规则，可以设置多个读取电压，并且指派的阈值电压(vth)可以用作每个存储单元的阈值电压(vth)来激发存储器设备的读操作。在一些方面，软读取数据可以包括多个读取电压和对应的读出数据。
12、在一些方面，该方法还可以包括基于解码的软数据和原始数据验证ldpc单元的软解码纠错能力。
13、在一些方面，通过利用验证数据来验证ldpc单元的软解码能力可以包括基于验证数据根据预设的阈值电压(vth)偏移生成软数据。在一些方面，通过利用验证数据来验证ldpc单元的软解码能力可以包括利用ldpc单元对软数据进行解码。在一些方面，通过利用验证数据验证ldpc单元的软解码能力可以包括验证ldpc单元是否针对每个对应的解码的软数据返回编码的原始数据。
14、在一些方面，该方法还可以包括将编码的原始数据写入存储器设备的存储器高速缓存中。在一些方面，该方法还可以包括读取存储在存储器高速缓存中的编码的原始数据。在一些方面，该方法还可以包括将软数据写入存储器设备的存储器高速缓存中。
15、在一些方面，用于验证低密度奇偶校验(ldpc)软解码能力的系统可以包括存储器系统和耦合到存储器系统的主机。在一些方面，存储器系统可以包括存储器设备和存储器控制器，存储器控制器中提供了要验证的ldpc单元。在一些方面，系统可以被配置为接收对应于存储器设备的原始数据，其中每个存储单元被配置为存储n比特数据，其中n是大于1的整数。在一些方面，系统还可以被配置为通过利用ldpc单元对原始数据进行编码。在一些方面，该系统还可以被配置为通过使用包括错误的数据模式将错误注入到编码的原始数据中，用于生成验证数据，其中所述错误由在存储器设备的2n个逻辑状态中的两个相邻逻辑状态之间交错的阈值电压(vth)分布生成。在一些方面，该系统还可以被配置为通过利用验证数据来验证ldpc单元的软解码能力。
16、在一些方面，系统还可以被配置为根据数据模式将阈值电压(vth)指派给编码的原始数据以用于生成验证数据。
17、在一些方面，该系统还可以被配置为通过根据与待验证的ldpc单元匹配的软读取规则激发验证数据的软读取来生成软读取数据。在一些方面，该系统还可以被配置为基于软读取数据，使用待验证的ldpc单元执行软解码。
18、在一些方面，系统还可以被配置为基于解码的软数据和原始数据来验证ldpc单元的软解码纠错能力。
19、在一些方面，系统还可以被配置为基于验证数据，根据预设阈值电压(vth)偏移生成软数据。在一些方面，该系统还可以被配置为利用ldpc单元对软数据进行解码。在一些方面，该系统还可以被配置为验证ldpc单元是否针对每个对应的解码的软数据返回编码的原始数据。
20、在一些方面，系统还可以被配置为将编码的原始数据写入存储器设备的存储器高速缓存中。在一些方面，系统还可以被配置为读取存储在存储器高速缓存中本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种能够应用于存储器系统的用于验证低密度奇偶校验(LDPC)单元的方法，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中，所述数据模式是从所述存储器设备的真实数据信息中获得的，所述真实数据信息包括所述存储器设备在不同测试环境下或在存储操作被实际执行时的错误信息。
3.如权利要求1所述的方法，其中，所述数据模式包括处于不同逻辑状态的所述存储器设备的多个存储单元的阈值电压(Vth)分布信息。
4.如权利要求1所述的方法，其中，将错误注入所述编码的原始数据包括根据所述数据模式将阈值电压(Vth)指派给所述编码的原始数据以生成所述验证数据。
5.如权利要求1所述的方法，其中，通过利用所述验证数据验证所述LDPC单元的软解码能力包括：
6.如权利要求5所述的方法，还包括基于解码的软数据和所述原始数据，验证所述LDPC单元的软解码纠错能力。
7.如权利要求1所述的方法，其中，通过利用所述验证数据验证所述LDPC单元的所述软解码能力包括：
8.如权利要求7所述的方法，还包括：
9.一种用于验证低
10.如权利要求9所述的系统，其中，所述数据模式是从所述存储器设备的真实数据信息中获得的，所述真实数据信息包括所述存储器设备在不同测试环境下或在存储操作被实际执行时的错误信息。
11.如权利要求9所述的系统，其中，所述数据模式包括处于不同逻辑状态的所述存储器设备的多个存储单元的阈值电压(Vth)分布信息。
12.如权利要求9所述的系统，其中，所述系统还被配置为根据所述数据模式将阈值电压(Vth)指派给所述编码的原始数据以生成所述验证数据。
13.如权利要求9所述的系统，其中，所述系统还被配置为：
14.如权利要求13所述的系统，其中，所述系统还被配置为基于解码的软数据和所述原始数据，验证所述LDPC单元的软解码纠错能力。
15.如权利要求9所述的系统，其中，所述系统还被配置为：
16.如权利要求15所述的系统，其中，所述系统还被配置为：
17.一种存储器系统，包括：
18.如权利要求17所述的存储器系统，其中，所述存储器系统还被配置为基于所述验证数据，根据预设的阈值电压(Vth)偏移量生成软数据。
19.如权利要求18所述的存储器系统，其中，所述存储器控制器被配置为利用所述LDPC单元解码所述软数据以及验证所述LDPC单元是否针对每个对应的解码的软数据返回所述编码的原始数据。
20.如权利要求18所述的存储器系统，其中，所述存储器设备被配置为将软数据存储在所述存储器高速缓存中。
...【技术特征摘要】
1.一种能够应用于存储器系统的用于验证低密度奇偶校验(ldpc)单元的方法，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的方法，其中，所述数据模式是从所述存储器设备的真实数据信息中获得的，所述真实数据信息包括所述存储器设备在不同测试环境下或在存储操作被实际执行时的错误信息。
3.如权利要求1所述的方法，其中，所述数据模式包括处于不同逻辑状态的所述存储器设备的多个存储单元的阈值电压(vth)分布信息。
4.如权利要求1所述的方法，其中，将错误注入所述编码的原始数据包括根据所述数据模式将阈值电压(vth)指派给所述编码的原始数据以生成所述验证数据。
5.如权利要求1所述的方法，其中，通过利用所述验证数据验证所述ldpc单元的软解码能力包括：
6.如权利要求5所述的方法，还包括基于解码的软数据和所述原始数据，验证所述ldpc单元的软解码纠错能力。
7.如权利要求1所述的方法，其中，通过利用所述验证数据验证所述ldpc单元的所述软解码能力包括：
8.如权利要求7所述的方法，还包括：
9.一种用于验证低密度奇偶校验(ldpc)软解码能力的系统，所述系统包括：
10.如权利要求9所述的系统，其中，所述数据模式是从所述存储器设备的真实数据信息中获得的，所述真实数据信息包括所述存储器设备在...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗文，冯宇飞，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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