【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测试,特别是涉及一种测试装置。
技术介绍
1、传统的测试装置,根据测试流程对被测设备(deviceunder test,简称为dut)的存储性能进行测试,得到测试结果。其中,测试流程包括:测试装置获取被测设备输出的测试数据,将测试数据和预设数据比较,根据比较结果确定被测设备是否存在故障数据。
2、然而,相关技术的测试装置只能执行故障测试,不能执行故障存储,随着对故障数据的后处理需求增加,越来越需要测试装置对于全流程故障测试的支持。
3、针对相关技术中存在测试装置不支持全流程故障测试的问题,目前还没有提出有效的解决方案。
技术实现思路
1、基于此,有必要提供一种可以支持全流程故障测试的测试装置。
2、在本实施例中提供了一种测试装置,包括:转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元,所述转换单元、所述比较单元、所述第二处理单元、所述存储单元依次连接,所述第一处理单元与所述比较单元连接;其中,
3、所述转换单元用于将第一测试
...【技术保护点】
1.一种测试装置,其特征在于,包括:转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元,所述转换单元、所述比较单元、所述第二处理单元、所述存储单元依次连接,所述第一处理单元与所述比较单元连接;其中,
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述转换单元包括:驱动器和模拟比较器;其中,
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述比较单元包括:第一数据缓存器、第二数据缓存器和比较器,所述第一数据缓存器和所述第二数据缓存器分别与所述比较器连接;其中,
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第一处理单元包括:
...【技术特征摘要】
1.一种测试装置,其特征在于,包括:转换单元、比较单元、第一处理单元、第二处理单元和存储单元,所述转换单元、所述比较单元、所述第二处理单元、所述存储单元依次连接,所述第一处理单元与所述比较单元连接;其中,
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述转换单元包括:驱动器和模拟比较器;其中,
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述比较单元包括:第一数据缓存器、第二数据缓存器和比较器,所述第一数据缓存器和所述第二数据缓存器分别与所述比较器连接;其中,
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第一处理单元包括:存储器、第一处理器、第二处理器和第三处理器,所述存储器与所述第一处理器、所述第二处理器连接,所述第一处理器和所述第二处理器分别与所述第三处理器连接;其中,
5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述第二处理单元包括:第四处理器和第五处理器;其中,
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:采样单元,所述采样单元分别与所述转换单元、所述第一处理单元、所述比较单元连接,所述采样单元用于接收并执行第五指令,采集得到所述第二测试数据。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括:计数单元,所述计数单元与所述比较单元连接,所述计数单元用于对所述测试结果中的故障数据进行按位计数。
8.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:李豪,郭美红,殷超,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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