【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及闪存领域，更为具体的，涉及一种闪存颗粒筛选分级方法。
技术介绍
1、闪存颗粒一般分为消费级、企业级、工业级三类，其中消费级和企业级闪存颗粒一般是标温颗粒，即应用于0～70℃的温度范围，工业级闪存颗粒则是宽温颗粒，通常可应用于-40～85℃的宽温环境。而闪存厂商提供的宽温颗粒一般来说都是内部进行筛选测试而择出的更适应宽温环境的优等品，其材料、制造流程及工艺方面与其它颗粒并无不同，但其不仅规格单一、供货数量少，而且价格高昂，对于ssd厂商并不友好。并且，市面上的闪存颗粒，即使是同一类别，在可靠性方面仍然存在着较大的个体差异性。对于某一款闪存颗粒，我们期望通过一种筛选分级方法，将其划分为不同的等级（标温、准宽温、宽温、超宽温），并可将其应用于不同类型的ssd盘（企业级、工业级、车规级、航天级），既能保证其可靠性，又能将具有高可靠性的闪存颗粒的优势充分利用起来。
2、传统技术一般只在固定温度进行简单的读写测试，或者在选定温度环境下进行高低温读写测试，通过判别闪存的原始比特错误率来进行筛选，从测试结果判别闪存颗粒是否通过...
【技术保护点】
1.一种闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，所述通过在第一预设温度环境下进行数据写入，并结合闪存自身的特性，叠加读干扰/数据保持模拟测试；然后，在第二预设温度环境下进行数据读取；在所述测试的过程中收集颗粒坏块信息及擦写读的时延，用于配合原始比特错误率数据及筛选算法来更精确地把控颗粒的优良分级，具体包括子步骤：
3.根据权利要求2所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，在步骤S1中，所述预设单晶粒die的坏块数阈值及单颗粒package的坏块数阈值具体为：单颗粒坏块阈值<...
【技术特征摘要】
1.一种闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，所述通过在第一预设温度环境下进行数据写入，并结合闪存自身的特性，叠加读干扰/数据保持模拟测试；然后，在第二预设温度环境下进行数据读取；在所述测试的过程中收集颗粒坏块信息及擦写读的时延，用于配合原始比特错误率数据及筛选算法来更精确地把控颗粒的优良分级，具体包括子步骤：
3.根据权利要求2所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，在步骤s1中，所述预设单晶粒die的坏块数阈值及单颗粒package的坏块数阈值具体为：单颗粒坏块阈值<单die坏块阈值*单颗粒die数。
4.根据权利要求2所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，在步骤s2中，t1和t2取决于本次筛选测试的颗粒最高分级的应用环境需求。
5.根据权利要求2所述的闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，在步骤s2中，所述在t2温度环境下进行读干扰测试具体为：对所有块进行块级别读干扰测试，每个块的读干扰施加次数参考闪存颗粒规格自定义，满足保证测试时长在可控范围内即可。
...【专利技术属性】
技术研发人员：邱杰，邹飞，黄泽诚，
申请(专利权)人：四川云海芯科微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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