PCB制造技术

技术编号:39579266 阅读:7 留言:0更新日期:2023-12-03 19:30
本发明专利技术提供一种

【技术实现步骤摘要】
PCB电子设计图与实物图的对齐方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术属于视觉检测
,尤其涉及一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法

装置

设备及介质


技术介绍

[0002]传统的
PCB
元器件检测采用人工的方式,不仅检测时间长而且容易造成误检

漏检,人工检测的成本也非常高,已经不满足于当下生产的要求

因此,基于机器视觉的
PCB
检测系统去替代人工检测显得非常有必要且有意义

机器视觉的检测的根基在于数字图片的处理,通过采集图片,定位,检测一套系统流程的处理,与传统的人工检测相比,即提高了检测速度又降低了成本

[0003]在常规的机器视觉对
PCB
的检测过程中,检测区域都是通过手动绘画完成,而
PCB
板通常具有数万个以上的的焊盘,人工是不可能短时期内较好的完成的,故如何精确地自动定位到每个焊盘区域是非常有必要的

[0004]Gerber
文件是电路设计过程的输出,包含电路板制造使用的各类细节,是
PCB
板印刷和制造过程中的重要组成部分,其包括各种图层,例如导体层

接线垫

和阻焊层等,
Gerber
文件同时包含了
PCB
板的物理信息,例如焊盘的线路宽度
/>尺寸大小等

可见,
Gerber
文件能反映
PCB
所有的信息,借助
Gerber
文件就很容易实现对所有焊盘区域的定位,然而,
Gerber
文件是理论的标准文件,如何把
Gerber
文件所呈现的图与实时采集的
PCB
图片进行准确对位是亟待解决的问题


技术实现思路

[0005]基于此,针对上述技术问题,提供一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法

装置

设备及介质

[0006]本专利技术采用的技术方案如下:
[0007]作为本专利技术的第一方面,提供一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,包括:
[0008]S101、
从所述
PCB
电子设计图中选取多个第一区域,确定所述多个第一区域的中心点坐标,从所述实物图中确定与所述多个第一区域对应的多个第二区域,确定所述多个第二区域的中心点坐标;
[0009]S102、
通过所述多个第一区域的中心点坐标和多个第二区域的中心点坐标,确定第一仿射变换矩阵,通过所述第一仿射变换矩阵对所述
PCB
电子设计图进行仿射变换,得到仿射变换图;
[0010]S103、
从所述实物图中分割出前景区域;
[0011]S104、
确定所述前景区域中与所述仿射变换图中各连通域对应的目标区域;
[0012]S105、
通过所述各连通域的中心点坐标和各目标区域的中心点坐标,确定第二仿射变换矩阵,通过所述第二仿射变换矩阵对所述仿射变换图进行仿射变换

[0013]作为本专利技术的第二方面,提供一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐装置,包括:
[0014]坐标确定模块,用于从所述
PCB
电子设计图中选取多个第一区域,确定所述多个第一区域的中心点坐标,从所述实物图中确定与所述多个第一区域对应的多个第二区域,确定所述多个第二区域的中心点坐标;
[0015]第一仿射变换模块,用于通过所述多个第一区域的中心点坐标和多个第二区域的中心点坐标,确定第一仿射变换矩阵,通过所述第一仿射变换矩阵对所述
PCB
电子设计图进行仿射变换,得到仿射变换图;
[0016]前景分割模块,用于从所述实物图中分割出前景区域;
[0017]目标区域确定模块,用于确定所述前景区域中与所述仿射变换图中各连通域对应的目标区域;
[0018]第二仿射变换模块,用于通过所述各连通域的中心点坐标和各目标区域的中心点坐标,确定第二仿射变换矩阵,通过所述第二仿射变换矩阵对所述仿射变换图进行仿射变换

[0019]作为本专利技术的第三方面,提供一种电子设备,包括存储模块,所述存储模块包括由处理器加载并执行的指令,所述指令在被执行时使所述处理器执行上述第一方面的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法

[0020]作为本专利技术的第四方面,提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储一个或多个程序,所述一个或多个程序当被处理器执行时,实现上述第一方面的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法

[0021]本专利技术先通过
PCB
电子设计图与实物图中的多个点对进行粗对齐,然后将两图中的焊盘区域对应起来,得到更多的点对,进而根据更多的点对进行精准对齐,不仅对齐准确,还考虑到了全局,有助于后续对
PCB
板的机器视觉检测

附图说明
[0022]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行详细说明:
[0023]图1为本专利技术实施例提供的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法的流程图;
[0024]图2为本专利技术实施例提供的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐装置的示意图;
[0025]图3为本专利技术实施例提供的一种电子设备的示意图

具体实施方式
[0026]以下将结合说明书附图对本专利技术的实施方式予以说明

需要说明的是,本说明书中所涉及的实施方式不是穷尽的,不代表本专利技术的唯一实施方式

以下相应的实施例只是为了清楚的说明本专利技术专利的
技术实现思路
,并非对其实施方式的限定

对于该领域的普通技术人员来说,在该实施例说明的基础上还可以做出不同形式的变化和改动,凡是属于本专利技术的技术构思和
技术实现思路
并且显而易见的变化或变动也在本专利技术的保护范围之内

[0027]如图1所示,本申请实施例提供一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,包括:
[0028]S101、

PCB
电子设计图中选取多个第一区域,确定多个第一区域的中心点坐标,从
PCB
实物图中确定与多个第一区域对应的多个第二区域,确定多个第二区域的中心点坐标

[0029]在本实施例中,
PCB
电子设计图
GRegion
是指将
Gerber
文件打开后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,其特征在于,包括:
S101、
从所述
PCB
电子设计图中选取多个第一区域,确定所述多个第一区域的中心点坐标,从所述实物图中确定与所述多个第一区域对应的多个第二区域,确定所述多个第二区域的中心点坐标;
S102、
通过所述多个第一区域的中心点坐标和多个第二区域的中心点坐标,确定第一仿射变换矩阵,通过所述第一仿射变换矩阵对所述
PCB
电子设计图进行仿射变换,得到仿射变换图;
S103、
从所述实物图中分割出前景区域;
S104、
确定所述前景区域中与所述仿射变换图中各连通域对应的目标区域;
S105、
通过所述各连通域的中心点坐标和各目标区域的中心点坐标,确定第二仿射变换矩阵,通过所述第二仿射变换矩阵对所述仿射变换图进行仿射变换
。2.
根据权利要求1所述的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,其特征在于,所述
S102

S105
进一步包括:通过
Halcon
的变换矩阵生成算子
vector_to_hom_mat2d
生成仿射变换矩阵,并通过
Halcon
的仿射变换算子
affine_trans_region
进行仿射变换
。3.
根据权利要求1所述的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,其特征在于,所述
S103
进一步包括:通过
Halcon
的静态阈值分割算子
threshold
,从所述实物图中分割出前景区域
。4.
根据权利要求1所述的一种
PCB
电子设计图与实物图的对齐方法,其特征在于,所述
S104
进一步包括:
(41)
选取所述仿射变换图中的第一个连通域;
(42)
根据连通域的中心点坐标,通过
Halcon
的求面积算子
area_center
计算所述连通域的第一面积;
(43)
通过
Halcon
的求交集算子
intersection
求所述连通域与前景区域的交集,确定所述前景区域中与所述连通域对应的目...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵凯梁猛林海涛王德江朱先峰时威
申请(专利权)人:上海世禹精密设备股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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