时序路径修复方法技术

本申请提供一种时序路径修复方法

【技术实现步骤摘要】
时序路径修复方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及集成电路设计领域，具体而言，涉及一种时序路径修复方法
、
装置
、
电子设备及存储介质
。

技术介绍

[0002]在对芯片版图设计的布局布线完成后，会对该芯片时序进行验证，若时序不满足要求，即存在时序违例的情况，则需对涉及时序违例的电路路径进行调整与修复，以使得芯片的时序满足要求
。
[0003]目前，在进行时序优化时，会在版图中未设置电路单元的区域插入新的电路单元或调整电路单元，插入新的电路单元会占用芯片的空余位置，调整电路单元可能使得电路单元原本的面积发生变化，从而占用更多芯片面积
。
而被占用的位置可能用于布线，该位置可能存在着较多的绕线，若被占用，则可能使得该区域的绕线和电路单元出现短路，或不符合物理设计规则，需人工耗时间去解决，影响时序违例的修复效率
。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请旨在提供一种时序路径修复方法
、
装置/>、
电子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种时序路径修复方法，其特征在于，包括：基于芯片设计文件与预设裕度计算规则确定芯片中各区域的布局裕度和布线裕度；所述芯片被划分为多个区域；对于每一个所述区域：该区域的布局裕度表征该区域的空余布局空间，该区域的布线裕度表征该区域的空余布线空间；所述芯片设计文件包括所述芯片的电路单元信息和绕线信息；所述预设裕度计算规则包括：电路单元信息与布局裕度之间的计算关系，以及绕线信息与布线裕度之间的计算关系；判断各所述区域的所述布局裕度和所述布线裕度是否满足预设阈值条件；对各所述区域中不满足所述预设阈值条件的各目标区域增加约束；增加的所述约束用于在时序违例路径修复时限制所述约束所属的目标区域内的电路单元的调整方式；基于各所述区域的约束对所述芯片内的时序违例路径的进行修复
。2.
根据权利要求1所述的时序路径修复方法，其特征在于，所述对各所述区域中不满足所述预设阈值条件的各目标区域增加约束，包括：对各所述目标区域增加第一约束；所述第一约束禁止通过增大该目标区域内电路单元的面积的方式修复时序
。3.
根据权利要求1所述的时序路径修复方法，其特征在于，所述对各所述区域中不满足所述预设阈值条件的各目标区域增加约束，包括：对各所述目标区域增加第二约束；所述第二约束禁止通过在所述时序违例路径在该目标区域的绕线中插入新的电路单元修复时序
。4.
根据权利要求1所述的时序路径修复方法，其特征在于，所述预设阈值条件包括第一阈值
、
第二阈值
、
第三阈值和第四阈值，所述第三阈值小于等于所述第一阈值，所述第四阈值小于所述第二阈值；所述对各所述区域中不满足所述预设阈值条件的各目标区域增加约束，包括：对于任意一个所述目标区域，若该目标区域的布局裕度在所述第一阈值和所述第三阈值之间，和
/
或，该目标区域的布线裕度在所述第二阈值和所述第四阈值之间，则对该目标区域增加第一约束；所述第一约束禁止通过增大该目标区域内电路单元的面积的方式修复时序；若该目标区域的布局裕度小于所述第三阈值，和
/
或，该目标区域的布线裕度小于所述第四阈值之间，则对该目标区域增加第二约束；所述第二约束禁止通过在所述时序违例路径在该目标区域的绕线中上插入新的电路单元修复时序
。5.
根据权利要求1所述的时序路径修复方法，其特征在于，所述基于各所述区域的约束对所述芯片内的时序违例路径的进行修复之后，所述方法还包括：若所述芯片内存在时序违例路径无法修复的情况，则放宽所述预设阈值条件
。6.
根据权利要求1所述的时序路径修复方法，其特征在于，所述基于芯片设计文件与预设裕度计算规则确定芯片中各区域的布局裕度和布线裕度，包括：针对每一所述区域：从所述芯片设计文件提取该区域的所述电路单元信息；所述电路单元信息包括的该区域内的电路单元类型
、
各所述电路单...

【专利技术属性】
技术研发人员：任雄雄，
申请(专利权)人：昆腾微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：