存储器系统、存储器测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电－光信号转换单元，该电－光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光－电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成ｎ个信号（ｎ为至少２），该光－电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及一种半导体器件，并且更具体而言，涉及一种存储器系统和存储器测 试系统，通过对施加到存储器的时钟信号进行光分路，该存储器系统和存储器测试系统具 有高可靠性并且以高速执行功能。该申请还涉及使用光分路来测试存储器系统和存储器测 试系统的方法以及使用该测试方法来制造产品的方法。
技术介绍
在执行存储器测试中，为了使制造工艺流水线化并且降低存储器的单位成本，减 少测试时间和成本是重要的。因此，已经对能够减少测试时间和成本的各种方法进行了研 究。为了减少成本并且加快制造工艺，所公开的实施例包括同时对多个存储器执行稳定的 测试操作。
技术实现思路
在一个实施例中，公开了一种存储器测试系统。该存储器测试系统包括存储器器 件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。 光分路模块包括电_光信号转换单元，该电_光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的 每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单 元还包括光信号分路单元和光_电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测 试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器测试系统，包括：存储器器件；测试器，所述测试器产生时钟信号和用于测试所述存储器器件的测试信号；以及光分路模块，所述光分路模块包括电－光信号转换单元、光信号分路单元以及光－电信号转换单元，所述电－光信号转换单元将所述时钟信号和所述测试信号中的每个转换成光信号，以将所述时钟信号和所述测试信号输出为光时钟信号和光测试信号，所述光信号分路单元将所述光时钟信号和所述光测试信号中的每个分路成ｎ个信号，ｎ为至少２个，所述光－电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将所述分路的光时钟信号和所述分路的光测试信号转换成所述存储器件中使用的电信号。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵秀行，宋基在，徐成东，河镜虎，金圣九，金永今，赵寅成，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]