【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机存储器的故障査找方法，特别是一种高速存储器故 障的快速排错方法。
技术介绍
间歇性存储器故障错综复杂而难于排除，故障可能是由一个原因或多个不同原因共同导致的，包括BIOS错误、协议错误、信号完整性问题、 硬件故障以及存储器或其它子系统问题。虽然某些工程技术人员具有存储 器排错的快速解决方案，但很多工程技术人员在排除间歇性存储器故障时 仍遇到困难。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供，主要解 决现有的在排除间歇性存储器故障时遇到困难的技术问题，有利于存储器 设备的正常运行。为解决上述问题，本专利技术是这样实现的，其特征在于方法步骤如下 第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生；第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和 协议错误；第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测 量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲， 就在SDRAM端进行探测，而若要捕获来自存储器的READ脉冲，在存储器 控制器端探测。所...
【技术保护点】
一种高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于方法步骤如下： 第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生； 第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个ＤＤＲ２总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和协议错误； 第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的ＷＲＩＴＥ脉冲，就在ＳＤＲＡＭ端进行探测，而若要捕获来自存储器的ＲＥＡＤ脉冲，在存储器控制器端探测。
【技术特征摘要】
1、一种高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于方法步骤如下第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生；第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和协议错误；第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲，就在SDR...
【专利技术属性】
技术研发人员：于洋，
申请(专利权)人：上海市闵行中学，项敏，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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