温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电－光信号转换单元，该电－光信号转换单元将时钟信号和测试信号...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。