一种电压拉偏测试装置及方法制造方法及图纸

技术编号:34776341 阅读:38 留言:0更新日期:2022-08-31 19:49
本公开提供一种电压拉偏测试装置及方法,装置包括电压控制模块和转接模块;所述电压控制模块与所述转接模块连接;所述转接模块用于与待测试的测试模块连接;所述电压控制模块用于通过转接模块向所述测试模块提供第一组供电电压;所述转接模块还用于和匹配部件连接,从所述匹配部件获取第二组供电电压,并将第二组供电电压提供给测试模块,所述匹配部件与所述测试模块相匹配;所述电压控制模块用于控制对所述测试模块的所述第一组供电电压进行拉偏测试。本公开的电压拉偏测试结果更加可靠,并能够减少测试平台焊接损坏的风险及所需测试周期。试周期。试周期。

【技术实现步骤摘要】
一种电压拉偏测试装置及方法


[0001]本公开属于内存测试
,具体涉及一种电压拉偏测试装置及方法。

技术介绍

[0002]现有内存供电电压拉偏测试方案为:
[0003]当需要进行内存供电电压拉偏测试时,需要获得被测平台供电模块中内存颗粒供电部分的原理图和器件点位图,依据原理图找到内存颗粒供电设计电路,确定内存颗粒供电电压的输出关系,通过供电电压输出关系计算出分压电阻的阻值,依照点位图在被测平台上找到分压电阻的位置更换成计算出的阻值的电阻,从而获得电压拉偏测试所需的电压值。
[0004]专利技术人发现现有内存供电电压拉偏测试方案具有如下缺陷:
[0005]1.由于不同平台的内存颗粒供电部分设计原理不同,电压输出关系也不一样,拉偏测试时需要更换不同阻值的分压电阻来获得不同的电压输出,测试时费时费力;
[0006]2.分压电阻的精度也会导致实际电压与计算输出电压有差异,影响电压拉偏测试的准确性;
[0007]3.某些情况下供电原理图的缺失导致电压拉偏测试无法进行。
[0008]因此,亟需一种便捷高效的电压拉偏测试方案。

技术实现思路

[0009]为了克服现有技术的缺陷,根据一些实施例,本公开一方面提供电压拉偏测试装置,本公开另一方面提供电压拉偏测试方法。
[0010]本公开一些实施例通过如下技术方案实现:
[0011]一种电压拉偏测试装置,包括电压控制模块和转接模块;
[0012]所述电压控制模块与所述转接模块连接;
[0013]所述转接模块用于与待测试的测试模块连接;
[0014]所述电压控制模块用于通过转接模块向所述测试模块提供第一组供电电压;
[0015]所述转接模块还用于和匹配部件连接,从所述匹配部件获取第二组供电电压,并将第二组供电电压提供给测试模块,所述匹配部件与所述测试模块相匹配;
[0016]所述电压控制模块用于控制对所述测试模块的所述第一组供电电压进行拉偏测试。
[0017]进一步地,所述测试模块包括内存颗粒;
[0018]所述匹配部件包括匹配内存颗粒的主板或者DIMM。
[0019]进一步地,所述电压控制模块包括电源管理单元和控制单元;
[0020]所述控制单元与所述电源管理单元电性连接;
[0021]所述控制单元用于控制所述电源管理单元输出第一组供电电压。
[0022]进一步地,装置还包括:接口单元,
[0023]所述接口单元与所述转接模块连接;
[0024]所述转接模块通过所述接口单元与所述测试模块连接。
[0025]进一步地,所述控制单元用于向所述电源管理单元发送电压输出控制命令;
[0026]所述电源管理单元用于接收所述电压输出控制命令后,向接口单元输出相应参数的第一组供电电压;
[0027]所述接口单元用于向所述内存颗粒输出第一组供电电压,对内存颗粒进行第一组供电电压的拉偏测试。
[0028]进一步地,所述转接模块包括至少一个第一输入接口;
[0029]所述转接模块能够通过所述第一输入接口与所述电压控制模块连接;
[0030]所述第一输入接口能够从所述电压控制模块获取所述第一组供电电压。
[0031]进一步地,所述转接模块包括多个第二输入接口;
[0032]所述转接模块能够通过多个第二输入接口与所述匹配部件连接,所述第二输入接口能够从所述匹配部件获取相应的多组供电电压,所述多组供电电压包括所述第一组供电电压和所述第二组供电电压。
[0033]进一步地,所述转接模块包括用于输出所述第一组供电电压的第一输出接口,以及用于输出所述第二组供电电压的第二输出接口;
[0034]所述第一输出接口和所述第二输出接口用于向测试模块供电。
[0035]进一步地,对第一组供电电压进行拉偏测试时,所述转接模块从所述第一输入接口获取第一组供电电压,从所述第二输入接口获取第二组供电电压。
[0036]进一步地,所述电源管理单元与输入电源电性连接,电源管理单元包括控制输入端、控制输出端、总线控制端、处理器、调压端和电压输出端;
[0037]所述控制输入端、控制输出端、总线控制端、调压端的一端与所述处理器电性连接;
[0038]所述控制输入端的另一端设置外部输入控制信号端口;
[0039]所述控制输出端的另一端设置外部输出控制信号端口;
[0040]所述总线控制端的另一端与所述控制单元电性连接;
[0041]所述调压端的另一端与所述电压输出端的一端电性连接,所述电压输出端的另一端与所述接口单元电性连接。
[0042]进一步地,所述控制单元包括控制芯片和控制总线;
[0043]所述控制芯片的一端与串口电性连接,所述控制芯片的另一端与所述控制总线的一端电性连接,所述控制总线的另一端与所述总线控制端的另一端电性连接。
[0044]一种电压拉偏测试方法,包括如下步骤:
[0045]将电压控制模块与转接模块电性连接;
[0046]将转接模块与待测试的测试模块电性连接;
[0047]将转接模块与匹配部件连接,所述匹配部件与所述测试模块相匹配;
[0048]控制所述电压控制模块通过所述转接模块向所述测试模块提供第一组供电电压;
[0049]通过转接模块从所述匹配部件获取第二组供电电压,并将第二组供电电压提供给测试模块;
[0050]通过电压控制模块控制对所述测试模块的所述第一组供电电压进行拉偏测试。
[0051]进一步地,将转接模块与待测试的测试模块电性连接包括:
[0052]将所述转接模块与接口单元电性连接;
[0053]将接口单元与所述测试模块可拆卸电性连接;
[0054]使得所述转接模块通过接口单元向所述测试模块提供第一组供电电压和第二组供电电压。
[0055]进一步地,电压控制模块包括电源管理单元和控制单元,控制所述电压控制模块通过所述转接模块向所述测试模块提供第一组供电电压包括:
[0056]将所述控制单元与所述电源管理单元电性连接;
[0057]将所述电源管理单元与接口单元电性连接;
[0058]通过所述控制单元向所述电源管理单元发送电压输出控制命令;
[0059]所述电源管理单元接收所述电压输出控制命令后,通过所述接口单元向所述测试模块输出相应参数的第一组供电电压。
[0060]进一步地,通过电压控制模块控制对所述测试模块的所述第一组供电电压进行拉偏测试包括:
[0061]通过所述电压控制模块对所述测试模块进行VDD信号电压的拉偏测试。
[0062]和现有技术比,本公开实施例可以/至少具有以下有益效果:
[0063]本公开提供一种电压拉偏测试装置,通过电压控制模块和转接模块,实现待测试的测试模块的电压拉偏测试,测试模块包括但不限于内存颗粒,相较现有的内存颗粒测试方案本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电压拉偏测试装置,其特征在于,包括电压控制模块和转接模块;所述电压控制模块与所述转接模块连接;所述转接模块用于与待测试的测试模块连接;所述电压控制模块用于通过转接模块向所述测试模块提供第一组供电电压;所述转接模块还用于和匹配部件连接,从所述匹配部件获取第二组供电电压,并将第二组供电电压提供给测试模块,所述匹配部件与所述测试模块相匹配;所述电压控制模块用于控制对所述测试模块的所述第一组供电电压进行拉偏测试。2.根据权利要求1所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述测试模块包括内存颗粒;所述匹配部件包括匹配内存颗粒的主板或者DIMM。3.根据权利要求2所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述电压控制模块包括电源管理单元和控制单元;所述控制单元与所述电源管理单元电性连接;所述控制单元用于控制所述电源管理单元输出第一组供电电压。4.根据权利要求3所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,还包括:接口单元,所述接口单元与所述转接模块连接;所述转接模块通过所述接口单元与所述测试模块连接。5.根据权利要求4所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述控制单元用于向所述电源管理单元发送电压输出控制命令;所述电源管理单元用于接收所述电压输出控制命令后,向接口单元输出相应参数的第一组供电电压;所述接口单元用于向所述内存颗粒输出第一组供电电压,对内存颗粒进行第一组供电电压的拉偏测试。6.根据权利要求3所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述转接模块包括至少一个第一输入接口;所述转接模块能够通过所述第一输入接口与所述电压控制模块连接;所述第一输入接口能够从所述电压控制模块获取所述第一组供电电压。7.根据权利要求6所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述转接模块包括多个第二输入接口;所述转接模块能够通过多个第二输入接口与所述匹配部件连接,所述第二输入接口能够从所述匹配部件获取相应的多组供电电压,所述多组供电电压包括所述第一组供电电压和所述第二组供电电压。8.根据权利要求7所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,所述转接模块包括用于输出所述第一组供电电压的第一输出接口,以及用于输出所述第二组供电电压的第二输出接口;所述第一输出接口和所述第二输出接口用于向测试模块供电。9.根据权利要求7所述的电压拉偏测试装置,其特征在于,对第一组供电电压进行拉偏测试时,所述转接模块从所述第一输入接口获取第一组供电电压,从所述第二输入接口获取第二组供电电压。
10.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:王稳稳
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1