【技术实现步骤摘要】
一种静电放电保护电路(一)
本技术涉及一种电路,尤其是一种静电放电(Electrostatic Discharge; ESD)保护电路。(二)
技术介绍
近年来半导体工艺技术继续向深亚微米技术发展,特征尺寸变短,栅 极氧化层变薄。CMOS元件更为先进的制程技术以及縮得更小的元件尺 寸,虽然提高了电路运作的速度,但同时也提高了静电放电(Electmstatic Discharge ESD)的灵敏度,使得CMOS电路对ESD的防护能力下降很多, 但外界环境中所产生的静电并未减少,所以CMOS电路因ESD而损伤的情 形更加严重。在材料之间的摩擦产生静电荷,电荷的形成和存储可以导致几千伏的 静电压。当它们与高度集成的半导体元件接触时,释放出来,该现象称为 静电放电(ESD)。从电学观点看,静电放电表示瞬间高电流事件,峰值为 几安培,持续时间为几个纳秒到几百纳秒量级。混合式电压电源普遍存在于集成电路中,是为了器件应用范围更广, 使用更灵活,但混合式电压电源会导致静电放电的保护变得更薄弱,设计 上也更为复杂。在各大代工厂的工艺库中,针对明确使用电压的双电源系 统( ...
【技术保护点】
一种静电放电保护电路,包括待保护的I/O端子,其特征在于它包括电源静电放电总线端子和静电放电保护组件;其中所说的静电放电保护组件包括晶体管,其一端连接电源静电放电总线端子,另一端连接待保护的I/O端子。
【技术特征摘要】
1、一种静电放电保护电路,包括待保护的I/O端子,其特征在于它包括电源静电放电总线端子和静电放电保护组件;其中所说的静电放电保护组件包括晶体管,其一端连接电源静电放电总线端子,另一端连接待保护的I/O端子。2、 根据权利要求l中所述的一种静电放电保护电路,其特征在于所说的 静电放电保护组件包括二极管和电姐。3、 根据权利要求1中所述的一种静电放电保护电路,其特征在于所说的 待保护的i/o端子是正电源端子、接地电源端子、混合式电压电源端子和中间 电平的输入输出端子中的至少一种。4、 根据权利要求1中所述的一种静电放电保护电路,其特征在于所说的 电源静电放电总线端子是正电源端子、接地电源端子和混合式电压电源端子 中的至少一种。5、 根据权利要求1中所述的一种静电放电保护电路,其特征在于所说的电源静电放电总线端子是正电源端子,待保护的i/o端子是接地电源端子,晶体管是2个低压N型半导体;其中所说的2个低压N型半导体相互串联,且 每一个低压N型半导体都采用二极会连接方式;所说的一个低压N型半导体 的漏极连接正电源端子,另一个低压N型半导体的源极连接地电源端子。6、 根据权利要求1中所述的一种静电放电保护电路,其特征在于述所说 的电源静电放电总线端子是混合式电压电源端子,待保护的1/0端子是接地电 源端子,晶体管是一个高压P型半导体;所说的高压P型半导体的栅极和衬 底都连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:戴宇杰,张小兴,吕英杰,黄维海,王洪来,
申请(专利权)人:天津南大强芯半导体芯片设计有限公司,
类型:实用新型
国别省市:12[中国|天津]
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