一种检测治具制造技术

技术编号:32181607 阅读:24 留言:0更新日期:2022-02-08 15:43
本实用新型专利技术披露了一种检测治具,包括:主体,所述主体的至少一侧设置有倾斜块,且所述倾斜块高于所述主体的上表面,所述主体与所述倾斜块之间开设有让位槽,所述让位槽用于放置芯片的引脚。本实用新型专利技术方便对芯片进行正面和侧边的多方位检测。侧边的多方位检测。侧边的多方位检测。

【技术实现步骤摘要】
一种检测治具


[0001]本实用涉及检测设备
,具体涉及一种检测治具。

技术介绍

[0002]随着电子信息技术的快速发展,各种电子设备生产速度加快,治具时生产线上的一种辅助生产设备,帮助电子元器件的生产和检测。
[0003]现有的电子元器件检测如果通过手工的方式进行检测,比较累且不稳定,影响效率,尤其是在需要检测侧边时,具有难度。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种检测治具,便于确认产品侧面的状况。
[0005]为实现上述目的,本技术提供一种检测治具,包括:主体,所述主体的至少一侧设置有倾斜块,且所述倾斜块高于所述主体的上表面,所述主体与所述倾斜块之间开设有让位槽,所述让位槽用于放置芯片的引脚。
[0006]可选的,所述倾斜块上设置有限位机构,所述限位机构包括设置在所述倾斜块中的滑槽,所述滑槽内部设置有滑杆,所述滑杆两端各有一个弹簧和一个限位块。
[0007]可选的,所述倾斜块具有一斜面,所述斜面与所述本体的上表面夹角为钝角,所述让位槽设置在所述斜面与所述本体的上表面的相交处。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测治具,其特征在于,包括:主体(1),所述主体(1)的至少一侧设置有倾斜块(3),且所述倾斜块高于所述主体的上表面,所述主体(1)与所述倾斜块之间开设有让位槽(2),所述让位槽用于放置芯片的引脚。2.如权利要求1所述的一种检测治具,其特征在于,所述倾斜块(3)上设置有限位机构(4),所述限位机构(4)包括设置在所述倾斜块中的滑槽(41),所述滑槽(41)内部设置有滑杆(42),所述滑杆...

【专利技术属性】
技术研发人员:李广钦唐伟炜丁海春周仪张竞扬徐明广龚凯柯军松徐晓枫吴庆华熊进宇刘阳孙涛张世铭叶沛
申请(专利权)人:合肥速芯微电子有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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