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本实用新型披露了一种检测治具，包括：主体，所述主体的至少一侧设置有倾斜块，且所述倾斜块高于所述主体的上表面，所述主体与所述倾斜块之间开设有让位槽，所述让位槽用于放置芯片的引脚。本实用新型方便对芯片进行正面和侧边的多方位检测。侧边的多方位检测...
该专利属于合肥速芯微电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥速芯微电子有限责任公司授权不得商用。

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