【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于0.18um/0.15um制程技术的测试结构,特别是指一种用以测试穴袋植入(pocket implantation)结果的测试结构。
技术介绍
随着集成电路组件的设计不断地缩小,制程技术亦需不断的进步以符合设计所需。在制程进入0.18um/0.15um系列,曝光技术与漏电流成为改进的关键之一,而测试结构在此间所扮演的角色愈显得重要,良好的测试结构,不但可以正确反应出结构在制程中所产生的缺陷,且可减少制程中测试的成本。以图1为例,其为习知穴袋植入的结构的剖面示意图。底材中的阱10中包含轻掺杂漏极区14与阱拾起区(或主动区)12。底材上有栅极18与屏蔽20,当进行穴袋植入时,屏蔽20保护阱拾起区12,离子22以呈30度的倾斜植入阱中,可在轻掺杂漏极区14下方形成穴袋植入区16A与16B。然而,在0.18um/0.15um系列中,栅极18至阱拾起区(或主动区)12的距离缩小,轻掺杂漏极区14亦相对缩小,例如只剩下0.32um,则在进行穴袋植入时,由于屏蔽高度的阻挡以及植入角度的倾斜,在栅极18至阱拾起区12之间的穴袋植入区16A很有可能不足。不完全的穴袋植入,会造成阱10与轻掺杂漏极区14界面的P-N缺乏(depletion),如虚线所示的区域24。如此结构的崩溃电压将会远小于当初设计的值。因此,测试不完全穴袋植入结果便成为当前很重要的课题之一。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种测试结构。利用栅极与掺杂区的特别配置,可应用于两方向的穴袋植入结果的测试。为达到以上所述的目的,本专利技术提供一种测试结构,用以测试穴袋植入结果具有一第 ...
【技术保护点】
一种用以测试穴袋植入结果的测试结构,其系包括:一阱位于一底材中,该阱具有一第一导电性;一导电结构位于该底材上,该导电结构包含至少两部分,每一该部分具有各自的一第一长边,配置该两部分以使得该一部分的第一长边大致等分该另一部分的第一长边,且该一部分的第一长边所连接的两个末端位于该另一部分的第一长边的两侧;复数个具有一第二导电性的第一掺杂区位于该阱中,每一该第一掺杂区对应一第一范围,配置该第一范围以相互隔离,且任一该第一范围靠近且部分重迭该对应第一长边的任一该末端,其中任一该第一范围由一第二长边与相邻的一第一短边所定义,该第二长边的长度大于该第一长边的一半,该第一短边的长度小于该第一长边的一半;及复数个具有该第一导电性的第二掺杂区位于该阱中,每一该第二掺杂区对应一第二范围,配置每一该第二范围于任一该第一范围中且不重迭该对应第一长边的任一该末端,该第二范围由一第三长边与相邻的一第二短边所定义,该第三长边的长度小于该第一长边的一半,该第二短边的长度小于该第一短边。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用以测试穴袋植入结果的测试结构,其系包括一阱位于一底材中,该阱具有一第一导电性;一导电结构位于该底材上,该导电结构包含至少两部分,每一该部分具有各自的一第一长边,配置该两部分以使得该一部分的第一长边大致等分该另一部分的第一长边,且该一部分的第一长边所连接的两个末端位于该另一部分的第一长边的两侧;复数个具有一第二导电性的第一掺杂区位于该阱中,每一该第一掺杂区对应一第一范围,配置该第一范围以相互隔离,且任一该第一范围靠近且部分重迭该对应第一长边的任一该末端,其中任一该第一范围由一第二长边与相邻的一第一短边所定义,该第二长边的长度大于该第一长边的一半,该第一短边的长度小于该第一长边的一半;及复数个具有该第一导电性的第二掺杂区位于该阱中,每一该第二掺杂区对应一第二范围,配置每一该第二范围于任一该第一范围中且不重迭该对应第一长边的任一该末端,该第二范围由一第三长边与相邻的一第二短边所定义,该第三长边的长度小于该第一长边的一半,该第二短边的长度小于该第一短边。2.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,还包含复数个穴袋植入区位于该导体结构的部分下方,并且任一该穴袋植入区紧邻对应的该第一掺杂区。3.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,该第二长边与该第三长边大致平行该一部分的第一长边。4.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,该第一短边与该第二短边大致平行该另一部分的第一长边。5.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,任一该第一掺杂区位于该对应第一长边的两侧。6.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,任一该第二掺杂区位于该对应第一长边的一侧。7.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,第一导电性与第二导电性不同。8.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,任一该第一掺杂区包含一源极区与一漏极区。9.如权利要求8所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,该源极区与该漏极区位于该对应第一长边的两侧。10.如权利要求8所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,该源极区与该对应的第二掺杂区位于该对应第一长边的同一侧。11.如权利要求1所述的用以测试穴袋植入结果的测试结构,其特征在于,任一该第二掺杂...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡孟锦,蒲兴华,郑望,何军,
申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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