【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及,特别是其中延长DRAM的刷新操作之间间隔的。随着半导体集成化的发展,把处理器、存储器、或其它电路集成到一个芯片上已成为可能。另外,随着能够将诸如处理器和DRAM(动态RAM)之类的逻辑电路组合在一个芯片上的工艺技术的发展,在一个存储器上实现DRAM已成为可能。DRAM的每个存储单元较小,并由电容制成。其超过SRAM(静态RAM)实施方案的优点在于可极大减小芯片面积。另一方面,它们带来这样一个缺点,作为数据存储在其上的电荷随着时间的推移而放电,因此会造成数据丢失。因此,需要进行操作以防止数据丢失。DRAM的存储单元通常排列在一个矩阵阵列中。用读出放大器检测,并又每次一行地读出存储在存储单元中的数据,再把读出的数据值写回原来的存储单元。这一系列操作被称为"刷新"。刷新操作期间,DRAM不接受对其自身的任何存取。在允许从DRAM外部读/写的正常模式中,由DRAM外部的DRAM控制器执行刷新操作,但在由象备用电池供电时这样的睡眠模式中,由DRAM LSI内部的刷新控制器进行刷新操作。在睡眠模式中,不接受来自DRAM外部的任何读/写存取。在此,当DRA ...
【技术保护点】
一种控制包括DRAM的半导体电路的方法,包括步骤:在DRAM的每一行上排列数据,并对数据进行组合以减少存储数据所需的行的数量;和刷新其上已存储数据的每一所述行。
【技术特征摘要】
JP 1997-6-12 155125/971.一种控制包括DRAM的半导体电路的方法,包括步骤在DRAM的每一行上排列数据,并对数据进行组合以减少存储数据所需的行的数量;和刷新其上已存储数据的每一所述行。2.一种控制包括DRAM的半导体电路的方法,包括步骤在所述DRAM的同一行上排列任意数据,其中这些数据从写入到读出的周期重叠或相互接近;和仅在从数据最初写入到数据读出结束的时间周期期间刷新所述行。3.一种控制包括DRAM的半导体电路的方法,包括步骤获得一个要使用DRAM的应用所需的存储容量,然后参考具有预先获得的所述DRAM每一行的数据保留时间的表,从具有较长数据保留时间的行开始顺序在所述DRAM中存储数据;和相应于所有存储数据的行中具有最短数据保留时间的行,设定刷新周期。4.根据权利要求3所述的控制半导体电路的方法,其特征在于包括当数据存储在所述DRAM中时,根据数据的重要程度将数据排列在特定行上的步骤。5.根据权利要求1、2、3或4所述的控制半导体电路的方法,其特征在于包括检测所述半导体电路的温度,并根据温度...
【专利技术属性】
技术研发人员:甲斐康司,大泽拓,村上和彰,
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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