半导体存储器件、存储系统和测试存储系统的方法技术方案

公开了半导体存储器件、具有半导体存储器件的存储系统和测试存储系统的方法。本发明专利技术的实施例包括半导体存储器件中的特征，其被配置为从存储器控制器接收命令信号并将至少部分所接收的命令信号选择性地输出回给所述存储器控制器以用于验证。本发明专利技术的实施例还提供用于验证命令信号从存储器控制器到半导体存储器件的正确通信的方法。本发明专利技术的实施例还提供用于测试半导体存储器件中的存储器单元的系统和方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及半导体存储器件，更具体地，但并不作为限制地，涉及 具有命令信号测试特征的半导体存储器件，以及涉及用于在半导体存储器件 中测试所接收到的命令信号的方法。
技术介绍
典型的存储系统包含半导体存储器件(或存储模块)和存储器控制器。 半导体存储器件响应于从存储器控制器施加的命令信号来存储数据或输出别期间，典型的存储系统执行对于半导体存储器件的所有存储器单元的测 试。但是，错误可能发生在命令信号从存储器控制器到半导体存储器件的通 信过程中。例如，存储器控制器可能施加不正确的命令，或者在传输过程中 噪声可能中断命令信号。这样的错误可能导致半导体存储器件的不正常操 作，造成存储系统的低性能。由于前述原因，急切需要测试存储系统的命令信号是否被正确地从存储 器控制器通信发送到半导体存储器件。
技术实现思路
本专利技术的实施例包括在半导体存储器件中的特征，该半导体存储器件被 配置为从存储器控制器接收命令信号并将至少部分所收到的命令信号选择 性地输出回给存储器控制器以用于验证。本专利技术的实施例还提供验证命令信 号从存储器控制器到半导体存储器件的正确通信的方法。本专利技术的实施例还 提供用本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体存储器件，包含：　　　　命令解码器，用于对从外部施加的命令信号进行解码以生成多个命令和模式设置命令；　　　　模式设置部分，用于响应于所述模式设置命令接收从外部施加的模式设置码以对命令测试使能信号的状态进行设置；　　　　选择信号生成器，用于在所述命令测试使能信号的状态为使能状态时激活选择信号；以及　　　　选择器，用于在所述选择信号被激活时接收内部命令信号并将所述内部命令信号输出到外部。

【技术特征摘要】
KR 2006-9-11 87481/061. 一种半导体存储器件，包含命令解码器，用于对从外部施加的命令信号进行解码以生成多个命令和 模式设置命令；模式设置部分，用于响应于所述模式设置命令接收从外部施加的模式设置码以对命令测试使能信号的状态进行设置；选择信号生成器，用于在所述命令测试使能信号的状态为使能状态时激活选择信号；以及选择器，用于在所述选择信号被激活时接收内部命令信号并将所述内部 命令信号输出到外部。2. 如权利要求1所述的半导体存储器件，还包含命令緩冲器，用于对从外部施加的命令信号进行緩冲以生成緩冲命令信 号；以及数据输出緩冲器，用于对从所述选择器输出的信号进行緩冲并将所述信 号输出到外部，其中，所述命令解码器对所述緩沖命令信号进行解码。3. 如权利要求2所述的半导体存储器件，其中所述选择信号生成器在所 述命令测试使能信号的状态为禁止状态时停用所述选择信号，以及所述选择 器在所述选择信号被激活时将所述緩冲命令信号作为所述内部命令信号选 择并输出，而在所述选择信号被停用时选择并输出内部生成的输出数据。4. 如权利要求2所述的半导体存储器件，还包含命令编码器，用于接 收并编码所述多个命令和模式设置命令以生成所述内部命令信号。5. 如权利要求4所述的半导体存储器件，其中所述选择信号生成器在所 述命令测试使能信号的状态为禁止状态时停用所述选择信号，以及所述选择 器在所述选择信号被激活时选择并输出所述内部命令信号，而在所述选择信 号被停用时选择并输出内部生成的输出数据。6. 如权利要求1所述的半导体存储器件，其中所述命令信号包含存储体 地址。7. —种半导体存储器件，包含命令解码器，用于对从外部施加的命令信号进行解码以生成多个命令和模式设置命令；模式设置部分，用于响应于所述模式设置命令接收从外部施加的模式设 置码以对命令测试使能信号的状态和存储器单元测试使能信号的状态进行设置；选择信号生成器，用于在所述命令测试使能信号的状态和所述存储器单 元测试使能信号的状态为使能状态的情况下，当从外部施加的地址为设定地 址时激活选择信号；以及选择器，用于在所述选择信号被激活时接收内部命令信号并将所述内部 命令信号输出到外部。8. 如权利要求7所述的半导体存储器件，还包含命令緩冲器，用于对从外部施加的命令信号进行緩冲以生成緩冲命令信 号；以及数据输出緩冲器，用于对从所述选4奪器输出的信号进行緩沖并将所述信 号输出到外部，其中，所述命令解码器对所述緩冲命令信号进行解码。9. 如权利要求8所述的半导体存储器件，其中所述选择信号生成器在所 述命令测试使能信号的状态为使能状态而所述存储器单元测试使能信号的 状态为禁止状态时激活所述选择信号，而在所述命令测试使能信号的状态和 所述存储器单元测试使能信号的状态为使能状态并且所述从外部施加的地 址不是所述设定地址时停用所述选择信号，以及所述选择器在所述选择信号 被激活时将所述緩冲命令信号作为所述内部命令信号选择并输出，而在所述 选择信号被停用时选择并输出内部生成的输出数据。10. 如权利要求8所述的半导体存储器件，还包含命令编码器，用于 接收并编码所述多个命令和所述模式设置命令以生成所述内部命令信号。11. 如权利要求IO所述的半导体存储器件，其中所述选择信号生成器在 所述命令测试使能信号的状态为使能状态而所述存储器单元测试使能信号 的状态为禁止状态时激活所述选择信号，而在所述命令测试使能信号的状态 为禁止状态或所述命令测试使能信号的状态和所述存储器单元测试使能信 号的状态均为使能状态并且从外部施加的地址不是所述设定地址时停用所 述选择信号，以及所述选择器在所述选择信号被激活时选择并输出所述内部 命令信号，而在所述选择信号被停用时选择并输出内部生成的输出数据。12. 如权利要求7所述的半导体存储器件，其中所述命令信号包含存储体地址。13. 如权利要求12所述的半导体存储器件，其中所述命令解码器对所述 命令信号进行解码以生成至少两个模式设置命令，并且所述模式设置部分响 应于所述至少两个模式设置命令其中之一对所述命令测试使能信号进行设 置，并响应于所述至少两个模式设置命令中的另一个对所述存储器单元测试 使能信号进行设置。14. 一种存储系统，包含半导体存储器件，用于当命令信号为模式设置命令时接收模式设置码以 设置命令测试使能信号的状态，以及当所述命令测试使能信号的状态为使能 状态时接收从外部施加的命令信号并将所接收到的命令信号生成为将要被 输出到外部的内部命令信号；以及存储器控制器，用于将用于所述模式设置命令的命令信号和所述模式设 置码施加到所述半导体存储器件，将所述命令信号施加到所述半导体存储器 件，并接收从所述半导体存储器件输出的命令信号。15. 如权利要求14所述的存储系统，其中所述半导体存储器件包含 命令编码器，用于对从所述存储器控制器施加的所述命令信号进行编码以生成多个命令和所述模式设置命令；模式设置部分，用于响应于所述模式设置命令接收所述模式设置码以对 命令测试使能信号的状态进行设置；选择信号生成器，用于当所述命令测试使能信号的状态为使能状态时激 活选择信号，并当所述命令测试使能信号为禁止状态时停用所述选择信号； 以及选择器，用于当所述选择信号被激活时选择所述内部命令...

【专利技术属性】
技术研发人员：河桂元，金东俊，朴镇秀，赵根秀，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]