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公开了半导体存储器件、具有半导体存储器件的存储系统和测试存储系统的方法。本发明的实施例包括半导体存储器件中的特征，其被配置为从存储器控制器接收命令信号并将至少部分所接收的命令信号选择性地输出回给所述存储器控制器以用于验证。本发明的实施例还提...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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