本实用新型专利技术公开了一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌，所述支撑桌的顶部滑动连接有检测台，所述检测台上表面的一侧固定有插座，所述检测台上表面的中部固定有输料板，所述输料板的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构，所述支撑桌的一侧设置有芯片卷带，所述上料机构包括转轴、链轮、链条、电机、导向框、第一滑轨、移动块、连接柱、连接杆和真空吸嘴，所述输料板的四角通过轴承对称转动连接有转轴，所述转轴靠近插座的一侧固定有链轮，本实用新型专利技术通过一个电机和一个线性电机就能够完成芯片检测时的上料工作，相较于传统的上料机构极大的节省了成本。传统的上料机构极大的节省了成本。传统的上料机构极大的节省了成本。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测装置的上料机构
[0001]本技术涉及芯片检测设备
，具体为一种芯片检测装置的上料机构。
技术介绍
[0002]在半导体芯片制造完成后工厂一般需要对半导体芯片进行测试，而测试通产包含多种测试，其中一项是对齐通电情况进行测试，目前半导体芯片通电情况的测试中，测试机需要将芯片压入PCB测试板上的插座的凹槽内，使芯片上的触点与插座的针脚相连，插座上的针脚与PCB电路板的触点相连，此时形成通路，然后在PCB测试板上输入一定电压查看输出的情况，不同的电压会产生不同的通路进而有不同的输出，输出与需要的参数相符合即为良品，测试机通过吸嘴抓住芯片，将其放入插座中。
[0003]而芯片在测试之前一般是放置在芯片卷带内的，通过芯片卷带进行芯片的输送工作，在测试时通过上料机构来夹取芯片卷带上凹槽内的芯片，进而通过上料机构将芯片压入到插座内，而现有的上料机构一般是通过两个电机来进行驱动完成上料工作，首先是通过一个电机完成将夹具从插座端移动至芯片卷带端的动作，使得夹具与芯片卷带处于同一平面内，进而通过一个电机完成驱动夹具上下移动的动作，驱动夹具移动至芯片顶部进行夹取动作，夹取完成后在将芯片运送至插座端，成本较高。为此，我们提出一种芯片检测装置的上料机构。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种芯片检测装置的上料机构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌，所述支撑桌的顶部滑动连接有检测台，所述检测台上表面的一侧固定有插座，所述检测台上表面的中部固定有输料板，所述输料板的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构，所述支撑桌的一侧设置有芯片卷带；
[0006]所述上料机构包括转轴、链轮、链条、电机、导向框、第一滑轨、移动块、连接柱、连接杆和真空吸嘴，所述输料板的四角通过轴承对称转动连接有转轴，所述转轴靠近插座的一侧固定有链轮，四个所述链轮之间通过链条传动连接，所述检测台上表面远离插座的一侧固定有电机，所述输料板上的一个转轴的一端与电机的输出端固定，所述输料板靠近链轮的一侧滑动连接有导向框，所述导向框的内壁对称固定有第一滑轨，两个所述第一滑轨的外壁通过滑槽滑动连接有移动块，所述移动块靠近链条的一侧通过轴承转动连接有连接柱，所述连接柱靠近链条的一端与链条固定，所述移动块远离连接柱的一端固定有连接杆，所述连接杆的底部固定有真空吸嘴。
[0007]优选的，所述支撑桌的顶部对称固定有第二滑轨，所述第二滑轨的外壁对称滑动连接有第一滑块，四个所述第一滑块的顶部均与检测台固定，所述支撑桌上表面的中部固定有线性电机，所述检测台与线性电机的移动端固定。
[0008]优选的，所述输料板靠近导向框的一侧对称固定有第三滑轨，所述第三滑轨的外壁滑动连接有第二滑块，所述导向框的上端和下端分别与两个第二滑块固定。
[0009]优选的，所述输料板的上端对应链条的位置开设有导向槽，所述链条靠近导向槽的一侧对应连接柱的位置通过轴承转动连接有导向柱，所述导向柱与导向槽的内壁滚动连接。
[0010]优选的，所述输料板靠近电机的一侧等距固定有加强板，三个所述加强板的底部均与检测台固定。
[0011]优选的，所述连接杆靠近移动块的一端固定有加强杆，所述加强杆远离连接杆的一端与移动块固定。
[0012]优选的，所述输料板靠近电机一侧的四角等距固定有稳定套，所述转轴与稳定套的内壁转动连接。
[0013]优选的，所述支撑桌的底部对称固定有自锁万向轮。
[0014]优选的，所述电机为减速电机。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]1、本技术通过设置的上料机构能够有效的完成上料工作，且在进行上料工作时只需要一个电机就能够完成芯片的上料工作，极大地节省了成本。
[0017]2、本技术通过设置的线性电机能够便于配合上料机构完成上料工作，在上料机构进行上料工作时，由于芯片卷带每次移动一格的距离可能会出现偏差，因而通过线性电机能够驱动检测台沿着第二滑轨滑动进行微调，保证真空吸嘴能够保证处于芯片卷带上的一个凹槽的正上方，极大的提高了上料的精准性。
附图说明
[0018]图1为本技术的整体结构示意图；
[0019]图2为本技术的上料机构结构示意图；
[0020]图3为本技术的A处放大图；
[0021]图4为本技术的连接杆位置结构示意图；
[0022]图5为本技术的B处放大图；
[0023]图6为本技术的加强板位置结构示意图；
[0024]图7为本技术的线性电机位置结构示意图；
[0025]图8为本技术的连接柱位置结构示意图；
[0026]图9为本技术的D处放大图；
[0027]图10为本技术的导向槽位置结构示意图；
[0028]图11为本技术的C处放大图。
[0029]图中：1、支撑桌；2、检测台；3、插座；4、输料板；5、上料机构；6、芯片卷带；7、转轴；8、链轮；9、链条；10、电机；11、导向框；12、第一滑轨；13、移动块；14、连接柱；15、连接杆；16、真空吸嘴；17、第二滑轨；18、第一滑块；19、第三滑轨；20、第二滑块；21、导向槽；22、导向柱；23、加强板；24、加强杆；25、稳定套；26、自锁万向轮；27、线性电机。
具体实施方式
[0030]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]请参阅图1，本技术提供一种技术方案：一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌1，所述支撑桌1的顶部滑动连接有检测台2，所述检测台2上表面的一侧固定有插座3，所述检测台2上表面的中部固定有输料板4，所述输料板4的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构5，所述支撑桌1的一侧设置有芯片卷带6。
[0032]请参阅图2、图3、图4、图5、图6、图8和图9，所述上料机构5包括转轴7、链轮8、链条9、电机10、导向框11、第一滑轨12、移动块13、连接柱14、连接杆15和真空吸嘴16，所述输料板4的四角通过轴承对称转动连接有转轴7，所述转轴7靠近插座3的一侧固定有链轮8，四个所述链轮8之间通过链条9传动连接，所述检测台2上表面远离插座3的一侧固定有电机10，所述电机10为减速电机，所述输料板4上的一个转轴7的一端与电机10的输出端固定，所述输料板4靠近链轮8的一侧滑动连接有导向框11，所述导向框11的内壁对称固定有第一滑轨12，两个所述第一滑轨12的外壁通过滑槽滑动连接有移动块13，所述移动块13靠近链条9的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测装置的上料机构，包括支撑桌(1)，其特征在于：所述支撑桌(1)的顶部滑动连接有检测台(2)，所述检测台(2)上表面的一侧固定有插座(3)，所述检测台(2)上表面的中部固定有输料板(4)，所述输料板(4)的中部通过轴承转动连接有用于进行芯片上料工作的上料机构(5)，所述支撑桌(1)的一侧设置有芯片卷带(6)；所述上料机构(5)包括转轴(7)、链轮(8)、链条(9)、电机(10)、导向框(11)、第一滑轨(12)、移动块(13)、连接柱(14)、连接杆(15)和真空吸嘴(16)，所述输料板(4)的四角通过轴承对称转动连接有转轴(7)，所述转轴(7)靠近插座(3)的一侧固定有链轮(8)，四个所述链轮(8)之间通过链条(9)传动连接，所述检测台(2)上表面远离插座(3)的一侧固定有电机(10)，所述输料板(4)上的一个转轴(7)的一端与电机(10)的输出端固定，所述输料板(4)靠近链轮(8)的一侧滑动连接有导向框(11)，所述导向框(11)的内壁对称固定有第一滑轨(12)，两个所述第一滑轨(12)的外壁通过滑槽滑动连接有移动块(13)，所述移动块(13)靠近链条(9)的一侧通过轴承转动连接有连接柱(14)，所述连接柱(14)靠近链条(9)的一端与链条(9)固定，所述移动块(13)远离连接柱(14)的一端固定有连接杆(15)，所述连接杆(15)的底部固定有真空吸嘴(16)。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的上料机构，其特征在于：所述支撑桌(1)的顶部对称固定有第二滑轨(17)，所述第二滑轨(17)的外壁对称滑动连接有第一滑块(18)，四个所述第一滑块(18)的顶部均与检...
【专利技术属性】
技术研发人员：王少花，
申请(专利权)人：优普士电子深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：
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