一种扩展式半导体测试平台制造技术

本发明专利技术属于测试平台技术领域，特别涉及一种扩展式半导体测试平台，包括安装组件、导向组件、两组第一联动组件和两组第二联动组件；所述安装组件包括第一横板；所述第一横板的顶端对称开设有两组第一安装槽，两组所述第一安装槽的内壁底端均滑动连接有第一壳体。通过导向组件将下落的待检测芯片吸附固定，传动机构驱动第一联动组件，使两组联动组件呈反向带动第一壳体水平移动，便于不同宽度的芯片进行测试，利用若干组挤压块、弹簧和压力传感器的配合使用，使芯片针脚与挤压块接触，达到芯片针脚的检测作用，使测试平台提高了检测兼容性的同时又达到芯片针脚检测的效果。同时又达到芯片针脚检测的效果。同时又达到芯片针脚检测的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种扩展式半导体测试平台


[0001]本专利技术属于测试平台
，特别涉及一种扩展式半导体测试平台。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，半导体材料是一类具有半导体性能，可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料，芯片是半导体元件产品的统称。
[0003]芯片在生产后需要进行测试，现有的检测方式需要人工进行辅助操作，其测试方式是将芯片固定在测试平台上，对芯片的针脚进行测试，由于市面上的芯片规格尺寸各不相同，常规的测试平台无法兼容不同规格的芯片进行测试，给芯片的检测带来了不便。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本专利技术提供了一种扩展式半导体测试平台，包括安装组件、导向组件、两组第一联动组件和两组第二联动组件；
[0005]所述安装组件包括第一横板；所述第一横板的顶端对称开设有两组第一安装槽，两组所述第一安装槽的内壁底端均滑动连接有第一壳体，所述第一壳体的内壁底端固定连接有若干组压力传感器，若干组所述压力传感器的顶端检测端均设置有弹簧，且所述弹簧的顶端均设置有挤压块；
[0006]所述第一横板的外壁一端固定连接有传动机构，所述传动机构分别与两组所述第一联动组件和第一壳体传动连接，所述导向组件嵌入安装在安装组件的顶端，两组所述第二联动组件呈对称状滑动连接在安装组件的两端，所述安装组件的底端固定连接有分类盒，且所述分类盒的顶端开口处位于导向组件的两端。r/>[0007]进一步的，所述安装组件还包括两组第一电动推杆；
[0008]两组所述第一电动推杆呈对称状嵌入安装在第一横板的内部，且两组所述第一电动推杆的输出端均延伸至第一横板的外部，所述第一横板的顶端对称固定连接有两组第一导向块，两组所述第一导向块的表面均开设有第一导向槽。
[0009]进一步的，所述导向组件包括第二壳体；所述第二壳体为敞开式结构，且所述第二壳体的内壁分别滑动连接有下料机构和吸料机构，所述下料机构滑动连接在吸料机构的两侧。
[0010]进一步的，所述下料机构包括两组双轴电机；
[0011]两组所述双轴电机的输出端均传动连接有主动轮，两组所述主动轮上均套接有皮带，所述主动轮的一端均转动连接有轴承座，两组所述轴承座的底端固定连接有第二横板，所述第二横板的顶端与双轴电机的底端固定连接有支撑杆，所述第二横板的底端与第二电动推杆的输出端传动连接，且所述第二电动推杆的底端与第二壳体的内壁底端固定连接。
[0012]进一步的，所述吸料机构包括第三壳体；
[0013]所述第三壳体的内壁一端固定连接有横管，所述横管的另一端连通有负压泵，且所述负压泵的底端与第三壳体的内壁底端固定连接，所述横管的顶端呈等距状固定且连通有若干组竖管。
[0014]进一步的，若干组所述竖管的顶端均延伸至第三壳体的顶端表面，所述第三壳体的底端两侧与第三电动推杆的输出端传动连接，且所述第三电动推杆的底端与第二壳体的内壁底端固定连接。
[0015]进一步的，所述第一联动组件包括第三横板；
[0016]所述第三横板的表面开设有第二导向槽，所述第三横板的一端固定连接有第一竖板，所述第三横板的另一端固定连接有第二导向块，所述第二导向块的表面开设有内螺纹孔，且所述内螺纹孔均与第一丝杆螺接，所述第三横板的底端与第一横板的顶端滑动连接。
[0017]进一步的，所述第一竖板与第二导向块分别滑动连接在第一横板的外壁两侧，所述第三横板的底端对称设置有四组锁紧销，且四组所述锁紧销均插接在锁紧孔内，若干组所述挤压块垂直于第二导向槽的底端，且若干组所述挤压块由第二导向槽的一端延伸至另一端。
[0018]进一步的，所述第二联动组件包括第四横板；
[0019]所述第四横板的底端一侧固定连接有第二竖板，所述第二竖板的底端转动连接有导向辊，所述第四横板的表面开设有第三导向槽，所述第三导向槽内贯穿滑动连接有水平仪，所述水平仪的外壁两侧对称固定连接有两组联动块，两组所述联动块上螺接有第二丝杆，所述第二竖板与第一电动推杆的输出端传动连接，所述第四横板滑动连接在第一导向槽内。
[0020]进一步的，所述第二丝杆的底端转动连接有轴承，且所述轴承的底端与第四横板的顶端固定连接，所述第四横板的顶端对称固定连接有两组第三竖板，且所述第三竖板的外壁固定连接有第二电机，所述第二电机的输出端与第二丝杆的顶端传动连接，所述第四横板的顶端固定连接有高清摄像头，且所述高清摄像头安装在水平仪的指管一侧。
[0021]本专利技术的有益效果是：
[0022]1、通过导向组件将下落的待检测芯片吸附固定，传动机构驱动第一联动组件，使两组联动组件呈反向带动第一壳体水平移动，便于不同宽度的芯片进行测试，利用若干组挤压块、弹簧和压力传感器的配合使用，使芯片针脚与挤压块接触，达到芯片针脚的检测作用，使测试平台提高了检测兼容性的同时又达到芯片针脚检测的效果。
[0023]2、通过第一电动推杆带动第二竖板移动，使第四横板滑动连接在第一导向槽内，两侧相互靠近的第四横板水平移动至芯片的顶端，对芯片进行平整度的检测，达到芯片顶面平整地快速检测的效果。
[0024]3、通过两组所述第四横板的端部相互靠近后，利用第二电机带动第二丝杆的转动，使两组水平仪垂直下移分别对芯片的顶端两侧进行水平度的精准检测，并通过高清摄像头将每组水平仪检测后的结果拍摄，达到芯片顶面平整度精准检测的效果。
[0025]4、通过第二电动推杆输出端推动第二横板纵向移动，使两组所述皮带延伸至第二壳体的顶端，用于对检测后芯片的顶料，通过双轴电机带动两端的主动轮同步转动，使两侧的皮带向两个方向输送芯片，使检测合格的芯片与部合格的芯片分别投入到对应的分类盒内，达到芯片检测后分类存放的效果。
[0026]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1示出了本专利技术实施例测试平台的结构示意图；
[0029]图2示出了本专利技术实施例安装组件的结构示意图；
[0030]图3示出了本专利技术实施例第一壳体的结构剖视图；
[0031]图4示出了本专利技术实施例导向组件的结构示意图；
[0032]图5示出了本专利技术实施例下料机构的结构示意图；
[0033]图6示出了本专利技术实施例吸料机构的结构示意图；
[0034]图7示出了本专利技术实施例第一联动组件的结构示意图；
[003本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：包括安装组件(1)、导向组件(2)、两组第一联动组件(3)和两组第二联动组件(4)；所述安装组件(1)包括第一横板(11)；所述第一横板(11)的顶端对称开设有两组第一安装槽(15)，两组所述第一安装槽(15)的内壁底端均滑动连接有第一壳体(16)，所述第一壳体(16)的内壁底端固定连接有若干组压力传感器(19)，若干组所述压力传感器(19)的顶端检测端均设置有弹簧(110)，且所述弹簧(110)的顶端均设置有挤压块(111)；所述第一横板(11)的外壁一端固定连接有传动机构(18)，所述传动机构(18)分别与两组所述第一联动组件(3)和第一壳体(16)传动连接，所述导向组件(2)嵌入安装在安装组件(1)的顶端，两组所述第二联动组件(4)呈对称状滑动连接在安装组件(1)的两端，所述安装组件(1)的底端固定连接有分类盒(5)，且所述分类盒(5)的顶端开口处位于导向组件(2)的两端。2.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述安装组件(1)还包括两组第一电动推杆(14)；两组所述第一电动推杆(14)呈对称状嵌入安装在第一横板(11)的内部，且两组所述第一电动推杆(14)的输出端均延伸至第一横板(11)的外部，所述第一横板(11)的顶端对称固定连接有两组第一导向块(12)，两组所述第一导向块(12)的表面均开设有第一导向槽(13)。3.根据权利要求1所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述导向组件(2)包括第二壳体(21)；所述第二壳体(21)为敞开式结构，且所述第二壳体(21)的内壁分别滑动连接有下料机构(22)和吸料机构(23)，所述下料机构(22)滑动连接在吸料机构(23)的两侧。4.根据权利要求3所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述下料机构(22)包括两组双轴电机(221)；两组所述双轴电机(221)的输出端均传动连接有主动轮(222)，两组所述主动轮(222)上均套接有皮带(223)，所述主动轮(222)的一端均转动连接有轴承座(224)，两组所述轴承座(224)的底端固定连接有第二横板(225)，所述第二横板(225)的顶端与双轴电机(221)的底端固定连接有支撑杆(226)，所述第二横板(225)的底端与第二电动推杆(227)的输出端传动连接，且所述第二电动推杆(227)的底端与第二壳体(21)的内壁底端固定连接。5.根据权利要求3所述的一种扩展式半导体测试平台，其特征在于：所述吸料机构(23)包括第三壳体(231)；所述第三壳体(231)的内壁一端固定连接有横管(232)，所述横管(232)的另一端连通...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘坡，
申请(专利权)人：优普士电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：