IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或PC端与IC老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对IC老化测试过程进行控制，可以提高IC老化测试的智能性和准确度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]芯片在封装完毕后，可能存在潜在缺陷，这些会导致芯片性能不稳定或者功能上存在潜在缺陷，如果这些存在潜在缺陷的芯片被用在关键设备上，有可能发生故障。老化试验的目的就是在一定时间内，把芯片置于一定的温度下，再施于特定的电压，加速芯片老化，使芯片可靠性提前度过早期失效期，保证了交到顾客手中的芯片工作性能的稳定性和可靠性。
[0003]市场上的老化测试设备一般为给电版本,少数为有MCU或FPGA控制和回报测试结果的做法，但是使用起来也不够智能方便。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，旨在提高IC老化测试的智能性和准确度。
[0005]第一方面，本专利技术提出一种IC老化测试方法，包括：
[0006]建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制；
[0007]显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能；
[0008]根据所述测试控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程。
[0009]在其中一个实施例中，所述根据所述测试控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程包括，
[0010]根据所述参数设定功能设定老化测试炉的测试温度；
[0011]根据所述测试温度控制所述老化测试炉达到所述测试温度，对待测IC进行老化测试；
[0012]当测试时间到达，获取测试结果并控制老化测试炉回到设定常温。
[0013]在其中一个实施例中，所述遮罩功能具体为：
[0014]获取上料机的IC放置位图；
[0015]根据所述IC放置位图确定所述IC老化测试板上需要被遮罩的IC测试单元；
[0016]断开需要被遮罩的IC测试单元的电源信号，并对其余的IC测试单元供电，以对所述待测IC进行老化测试。
[0017]在其中一个实施例中，所述测试结果显示功能包括测试参数信息显示功能和合格性判断结果显示功能，所述测试参数信息包括所述IC老化测试板当前的电压信息和电流信息，所述合格性判断结果显示功能包括所述IC老化测试板上每个待测IC的老化测试合格性
判断结果。
[0018]在其中一个实施例中，所述状态信息显示功能包括测试启停状态信息、测试炉温度信息、测试设备信息和测试进程信息。
[0019]在其中一个实施例中，所述启停控制功能包括可靠性开发测试功能和接触测试功能。
[0020]在其中一个实施例中，所述状态信息显示功能包括测试IC型号信息，所述IC测试单元为子母座结构，包括子座和母座，子座与母座可插拔连接，所述子座用于放置测试IC，当需要测试不同的测试IC时，更换子座并更改所述测试IC型号信息。
[0021]第二方面，本专利技术还提出一种IC老化测试装置，包括：
[0022]通信单元，用于建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制；
[0023]界面显示单元，用于显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能；
[0024]功能控制单元，用于根据所述控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程。
[0025]第三方面，本专利技术提出一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储其中存储有计算机程序，所述计算机程序在由所述处理器加载并执行时，实现如上述任意一项所述的方法。
[0026]第四方面，本专利技术提出一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时，实现如上述任意一项所述的方法。
[0027]本专利技术一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能，根据所述测试控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程；建立控制终端或PC端与IC老化测试板以及老化测试炉之间的信号通信连接，通过功能齐全的人机交互界面对IC老化测试过程进行控制，可以提高IC老化测试的智能性和准确度。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，下面描述中的附图仅为本专利技术的部分实施例相应的附图，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
[0029]图1为本专利技术其中一个实施例中，一种IC老化测试方法的方法流程图；
[0030]图2为本专利技术其中一个实施例中，测试控制界面的主界面图；
[0031]图3为本专利技术另一个实施例中，一种IC老化测试方法的方法流程图；
[0032]图4为本专利技术再一实施例中，一种IC老化测试方法的方法流程图；
[0033]图5为本专利技术其中一个实施例中，一种IC老化测试装置的结构图。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。
[0036]参见图1，本专利技术一种IC老化测试方法，在其中一个实施例中，包括：
[0037]S101，建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制。
[0038]待测IC可以为内存芯片或者其他集成IC芯片，本实施例的IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，具体可以为每个IC测试单元单独供电。建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通讯连接，接收IC老化测试板以及老化测试炉发送的信号，并发送指令控制老化测试的过程。
[0039]S102，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能。
[0040]参见图2，图2为测试控制界面的主界面，该界面上设置有启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能等，通过这些功能操作人员可以直接通过控制终端或P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC老化测试方法，其特征在于，包括：建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制；显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数设定功能、遮罩功能、测试结果显示功能和状态信息显示功能；根据所述测试控制界面上的功能控制所述I C老化测试板的老化测试过程。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试控制界面上的功能控制所述IC老化测试板的老化测试过程包括，根据所述参数设定功能设定老化测试炉的测试温度；根据所述测试温度控制所述老化测试炉达到所述测试温度，对待测I C进行老化测试；当测试时间到达，获取测试结果并控制老化测试炉回到设定常温。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述遮罩功能具体为：获取上料机的IC放置位图；根据所述I C放置位图确定所述I C老化测试板上需要被遮罩的I C测试单元；断开需要被遮罩的IC测试单元的电源信号，并对其余的IC测试单元供电，以对所述待测IC进行老化测试。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试结果显示功能包括测试参数信息显示功能和合格性判断结果显示功能，所述测试参数信息包括所述IC老化测试板当前的电压信息和电流信息，所述合格性判断结果显示功能包括所述IC老化测试板上每个待测IC的老化测试合格性判断结果。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟清水，王少花，
申请(专利权)人：优普士电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：