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本发明提供一种IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质，包括建立和IC老化测试板以及老化测试炉的信号通信连接，所述IC老化测试板上的每个IC测试单元为单独控制，显示所述IC老化测试板的测试控制界面，所述测试控制界面包括启停控制功能、参数...
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