检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器制造技术

提供了一种光学拾取器，包括光源、用于聚焦来自光源的入射光的物镜以及安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，其特征在于包括：光束划分与检测装置，用于将反射后光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。该光学拾取器允许检测记录介质的厚度变化，而无需在该光学拾取器的光接收侧安装散光镜。由记录介质的厚度变化引起的球形像差能够通过使用执行器根据检测的厚度变化信号驱动球形像差补偿单元或校准镜沿着光轴来校正。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学拾取器，更具体地说，本专利技术涉及一种光学拾取器，它能够检测记录介质的厚度变化，和/或能够补偿由记录介质厚度变化引起的球形像差。
技术介绍
通常，随着由光学拾取装置聚焦在记录介质上的光点的尺寸变小，信息记录/再现密度增加。使用的光波长(λ)越短，并且物镜的数值孔径(NA)越大，则光点的尺寸越小，这可由方程式(1)表达光点的尺寸∝λ/NA...(1)为了更高的记录密度而减小聚焦在记录介质上的光点尺寸，就需要构建带有诸如蓝光半导体激光器的短波长光源和具有更大NA的物镜的光学拾取器。目前在本
中能引起兴趣的是一种用于利用0.85NA的物镜将记录密度增加到22.5GB、并用于将记录介质的厚度减小到0.1mm以防止由记录介质倾斜造成的性能降级的格式。这里，记录介质厚度指的是从记录介质的光入射表面到信息记录表面的距离。如下面的方程式(2)所示，球形像差W40d与物镜NA的4次方和记录介质的厚度偏差成比例。因此，如果采用约0.85的NA的物镜，则记录介质必须有偏差小于±3μm的统一厚度。但是，制造在上述厚度偏差范围内的记录介质十分困难。W40=n2-18n3(NA)4&本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取器，包括：光源，用于产生和发射光束；物镜，用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点；和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，用于改变入射光束的行进路径，该光学拾取器的特征在于包括：　　　　光束划分与检测装置，用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和　　　　厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。

【技术特征摘要】
KR 2000-12-28 84211/001.一种光学拾取器，包括光源，用于产生和发射光束；物镜，用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点；和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，用于改变入射光束的行进路径，该光学拾取器的特征在于包括光束划分与检测装置，用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。2.如权利要求1所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置是具有第一、第二和第三光接收部分的光检测器，用于将入射光束划分成第一、第二和第三光束部分，接收第一、第二和第三光束部分，并分别光电转换第一、第二和第三光束部分。3.如权利要求1所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置包括光束划分器，用于将入射光束划分...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑钟三，安荣万，金泰敬，徐偕贞，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]