平板显示装置、制造方法、图像质量控制方法及其装置制造方法及图纸

技术编号:3036595 阅读:156 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了平板显示装置、制造方法、图像质量控制方法及其装置。该平板显示装置包括:由第一像素形成的链接像素,该第一像素电连接到与该第一像素相邻的像素;存储器,其存储面板缺陷区的位置、用于补偿面板缺陷区的亮度差的面板缺陷区补偿数据、描述链接像素的位置的位置数据、用于补偿链接像素的电荷特性的电荷特性补偿数据;以及补偿电路,其利用帧速率控制方法和抖动方法中的至少一种方法对要在面板缺陷区显示的数据进行调制,并根据存储在存储器中的位置数据以及面板缺陷补偿数据和电荷特性补偿数据对要在链接像素处显示的数字视频数据的电荷特性进行调制。

Flat panel display device, manufacturing method, image quality control method and apparatus

The invention provides a flat panel display device, a manufacturing method, an image quality control method and a device thereof. The flat panel display device includes a pixel link formed by the first pixel, the first pixel is electrically connected to the pixel and the first pixel adjacent memory; its storage panel defect to the position, for compensating a panel defect zone luminance difference panel defect compensation data, describing the link pixel position data, for compensation link pixel charge characteristics of charge compensation characteristic data; and a compensation circuit, at least one method using the frame rate control method and method of jitter modulation to display in the defect area of panel data, and according to the storage location of data in a memory and a panel defect compensation data and the compensation data of charge characteristics the modulation charge characteristics of digital video data at the pixel display link.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种显示装置,更具体地说,涉及一种适于通过利用修复处理(repair process)和补偿电路来提高图像质量的平板显示装置及其制造方法,以及一种图像质量控制方法及其装置。
技术介绍
近来,越来越多地使用与阴极射线管装置相比重量轻并且尺寸小的各种平板显示装置。平板显示装置包括液晶显示器、场发射显示器、等离子体显示板和使用有机发光二极管的显示器。平板显示装置包括用于显示图像的显示板,并且使用测试处理来识别显示板中的面板缺陷。面板缺陷可以包括由于在曝光机中的透镜数量的差异而导致的缺陷和由于缺陷像素而导致的亮点。这些面板缺陷会导致显示板上的亮度差。换句话说,当将相同灰度级值的数据信号施加给具有面板缺陷的面板区和不具有面板缺陷的面板区中的每一个时,在具有面板缺陷的区域中显示的图像会比在无缺陷区中显示的图像更暗或更亮,或者在缺陷区和无缺陷区中观看到的色彩可能会不同。面板缺陷主要在制造工艺中产生,并且可能具有诸如点、线、带、圆、多边形的固定形式,或者具有与面板缺陷产生的原因相关的各种其它形式之一。图1A到1E示出了各种形式的面板缺陷。如图1A到1C中所示的垂直带形式的面板缺陷主要由重叠曝光和透镜数量的差异而导致,同时如图1D中所示,具有点形状的面板缺陷主要是杂质的结果。根据面板缺陷的严重性和数量,面板缺陷可能导致缺陷产品,因此面板缺陷可能会减少合格率,导致制造成本增加。此外,即使当可以将具有面板缺陷的单元作为好产品进行装运时,由于面板缺陷导致的图像质量劣化也会降低产品的可靠性。因此,为了减少面板缺陷的产生,已经提出了各种方法。现有技术的改进方法主要涉及解决制造工艺中的问题,但对于可以采用现有技术的制造工艺方案实现的面板缺陷量的减少存在限制。可以由在制造工艺中存在的诸如杂质的问题而产生表现为点形状的面板缺陷的缺陷像素。这些杂质的存在可能导致构图缺陷(这些构图缺陷导致信号线的短路或开路)、薄膜晶体管(下文中称为“TFT”)中的缺陷、或电极图案中的缺陷。由缺陷像素导致的图像质量缺陷可能表现为显示屏上的暗点或亮点。因为亮点比暗点更容易通过肉眼感知到,所以对于表现为亮点的缺陷像素,采用修复处理来使缺陷像素表现为暗点,从而对于图像质量减小缺陷像素的退化效应。然而,在显示黑色灰度级的显示屏上几乎不能察觉到表现为暗点的缺陷像素(如图2A中所示),在显示屏的显示中间灰度级或白色灰度级的区域上的缺陷像素(如图2B和2C中所示)可以清楚地感知为显示器的中间灰度级区域和亮灰度级区域中的暗点。除了与面板缺陷相关的问题,与背光相关的亮线效应可能对图像质量产生负面影响。亮线效应是一种与使用背光的液晶显示装置相关的图像质量缺陷,并且亮线效应是由于背光发射的光的非均匀强度而产生的。图3表示主要与使用直下式背光的液晶显示装置相关的亮线效应的示例。现有技术的背光的结构改进解决了背光的亮线问题。然而,现有技术的背光结构没有完全解决与背光相关的亮线效应的问题。
技术实现思路
因此,本专利技术致力于一种平板显示装置、制造方法、图像控制方法及其装置,其基本上解决了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或更多个问题。本专利技术的一个优点在于,提供了一种适于通过利用修复处理和补偿电路来提高图像质量的平板显示装置及其制造方法、以及一种图像质量控制方法及其装置。本专利技术的其它特征和优点将在以下描述中阐明,并且将根据以下说明而部分地明了或者可以通过实施本专利技术而习得。可以通过在书面描述及其权利要求以及附图中具体指出的结构来实现和获得本专利技术的这些目的和其它优点。为了实现本专利技术的这些和其它优点并根据本专利技术的目的,正如所实施和宽泛描述的,根据本专利技术的一个方面的平板显示装置包括具有链接像素的显示板,该链接像素包括与相邻第二像素电连接的第一像素;存储器,该存储器存储第一位置数据、面板缺陷补偿数据、第二位置数据以及电荷特征补偿数据,该第一位置数据描述与使用与面板缺陷区相同的数据进行驱动的显示器的正常区域相比具有亮度差的显示板的面板缺陷区的位置,该面板缺陷补偿数据用于补偿面板缺陷区的亮度差,该第二位置数据描述链接像素的位置,该电荷特征补偿数据用于补偿链接像素的电荷特征;以及补偿电路,用于使用帧速率控制方法和抖动方法中的至少一种方法来对要在面板缺陷区显示的数据进行调制,并根据第一和第二位置数据以及存储在存储器中的面板缺陷和电荷补偿数据对要在链接像素处显示的数字视频数据的电荷特征进行调制。在本专利技术的另一方面,一种平板显示装置的制造方法包括向平板显示装置施加测试数据;通过检测包含有缺陷像素的面板区和正常面板区的亮度差,来识别在平板显示装置上的缺陷像素的存在;通过将识别到的缺陷像素电连接到与该识别到的缺陷像素相邻的正常像素来形成链接像素;确定描述面板缺陷区的位置的第一位置数据,计算用于补偿面板缺陷区的亮度的面板缺陷补偿数据,确定描述链接像素的位置的第二位置数据,并计算用于补偿链接像素的电荷特性的电荷特性补偿数据;以及在平板显示装置的数据调制存储器中存储第一和第二位置数据、面板缺陷补偿数据和电荷补偿数据。在本专利技术的另一方面,一种平板显示装置的图像质量控制方法包括通过在平板显示装置的显示板中将缺陷像素电连接到与其相邻的正常像素来形成链接像素;确定描述与正常区相比具有亮度差的面板缺陷区的位置的第一位置数据、用于补偿要在面板缺陷区显示的亮度的面板缺陷补偿数据、描述链接像素的位置的第二位置数据、以及用于补偿链接像素的电荷特性的电荷特性补偿数据;在平板显示装置的数据调制存储器中存储所述位置数据和所述补偿数据;以及利用帧速率控制方法和抖动方法中的至少一种对要在面板缺陷区显示的数据进行调制,并利用存储在数据调制存储器中的第一和第二位置数据以及面板缺陷补偿数据和电荷补偿数据对要在链接像素处显示的数字视频数据的电荷特性进行调制。在本专利技术的另一方面,一种平板显示装置的图像质量控制装置包括存储器,用于存储第一位置数据、电荷特性补偿数据、第二位置数据以及补偿数据,该第一位置数据描述通过在平板显示装置的显示板中将缺陷像素电连接到与其相邻的正常像素而形成的链接像素的位置,该电荷特性补偿数据用于补偿链接像素的电荷特性,该第二位置数据描述与在显示板中以正常亮度显示的正常区相比具有亮度差的面板缺陷区的位置,该补偿数据用于面板缺陷区;第一补偿部分,用于利用帧速率控制方法和抖动方法中的至少一种方法来细分面板缺陷补偿数据并利用经细分的面板缺陷补偿数据对要在面板缺陷区显示的数据进行调制;以及第二补偿部分,用于利用电荷特性补偿数据对由第一补偿部分输出的数据当中的要在链接像素处显示的数据进行调制。应该理解,对本专利技术的以上总体说明和以下详细说明均为示例性和说明性的,其旨在提供对所要求保护的本专利技术的进一步说明。附图说明包含附图以提供对本专利技术的进一步理解,结合附图并构成本说明书的一部分,附图示出了本专利技术的实施例,并且与说明书一起用于说明本专利技术的原理。在附图中图1A到1E表示具有各种形状的面板缺陷;图2A到2C表示当使缺陷像素成为暗点时各种灰度级的图像中的缺陷像素的感知能力;图3表示由背光导致的亮线所产生的图像质量缺陷;图4是表示根据本专利技术一个实施例的平板显示器件的制造方法的流程图;图5是表示平板显示装置的伽玛(gamma)特性的曲线本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种平板显示装置,该平板显示装置包括:具有链接像素的显示板,该链接像素包括电连接到相邻第二像素的第一像素;存储器,用于存储:第一位置数据,其描述所述显示板的面板缺陷区的位置,该面板缺陷区与显示器的使用与该面板缺陷区相同的数据 进行驱动的正常区相比具有亮度差;面板缺陷补偿数据,用于对所述面板缺陷区的亮度差进行补偿;第二位置数据,其描述所述链接像素的位置;以及电荷特性补偿数据,用于对所述链接像素的电荷特性进行补偿;以及补偿电路,用于利用帧速率控制方法和抖动方 法中的至少一种方法对要在所述面板缺陷区显示的数据进行调制,并根据存储在所述存储器中的所述第一和第二位置数据以及所述面板缺陷补偿数据和电荷特性补偿数据对要在所述链接像素处显示的数字视频数据的电荷特性进行调制。

【技术特征摘要】
KR 2006-2-6 10-2006-00112381.一种平板显示装置,该平板显示装置包括具有链接像素的显示板,该链接像素包括电连接到相邻第二像素的第一像素;存储器,用于存储第一位置数据,其描述所述显示板的面板缺陷区的位置,该面板缺陷区与显示器的使用与该面板缺陷区相同的数据进行驱动的正常区相比具有亮度差;面板缺陷补偿数据,用于对所述面板缺陷区的亮度差进行补偿;第二位置数据,其描述所述链接像素的位置;以及电荷特性补偿数据,用于对所述链接像素的电荷特性进行补偿;以及补偿电路,用于利用帧速率控制方法和抖动方法中的至少一种方法对要在所述面板缺陷区显示的数据进行调制,并根据存储在所述存储器中的所述第一和第二位置数据以及所述面板缺陷补偿数据和电荷特性补偿数据对要在所述链接像素处显示的数字视频数据的电荷特性进行调制。2.根据权利要求1的平板显示装置,其中,所述补偿电路包括第一补偿部分,用于利用所述面板缺陷补偿数据对要提供给所述面板缺陷区的数据进行调制;以及第二补偿部分,用于利用所述电荷特性补偿数据对由所述第一补偿部分进行了调制的数据进行调制。3.根据权利要求2的平板显示装置,其中,所述第一补偿部分对一组帧在时间上细分面板缺陷补偿数据,并且通过所述在时间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷区显示的数据。4.根据权利要求2的平板显示装置,其中,所述第一补偿部分对多个相邻像素在空间上细分面板缺陷补偿数据,并且通过所述在空间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷区显示的数据。5.根据权利要求2的平板显示装置,其中,所述第一补偿部分对一组帧在时间上细分面板缺陷补偿数据,并对多个相邻像素在空间上细分面板缺陷补偿数据,并且通过所述在空间和时间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷区显示的数据。6.根据权利要求2的平板显示装置,其中,所述第二补偿部分利用电荷特性补偿数据来增加或减少在该链接像素位置处待显示的调制数据。7.一种平板显示装置的制造方法,该方法包括将测试数据施加给所述平板显示装置;通过检测包含缺陷像素的面板区和正常面板区的亮度差,来识别所述缺陷像素在所述平板显示装置上的存在;通过将识别到的缺陷像素电连接到与该识别到的缺陷像素相邻的正常像素来形成链接像素;确定描述面板缺陷区的位置的第一位置数据,计算用于补偿所述面板缺陷区的亮度的面板缺陷补偿数据,确定描述所述链接像素的位置的第二位置数据,并计算用于补偿所述链接像素的电荷特性的电荷特性补偿数据;以及在所述平板显示装置的数据调制存储器中存储所述第一和第二位置数据、所述面板缺陷补偿数据和所述电荷特性补偿数据。8.根据权利要求7的制造方法,其中,与所述识别到的缺陷像素相邻的所述正常像素是表达与要由所述识别到的缺陷像素表达的颜色相同的颜色的像素。9.根据权利要求7的制造方法,其中,存储所述面板缺陷补偿数据包括与在所述面板缺陷区显示的数据的灰度级以及所述面板缺陷区的位置相对应地存储所述面板缺陷补偿数据。10.根据权利要求7的制造方法,其中,存储所述电荷特性补偿数据包括与在所述链接像素处显示的数据的灰度级相对应地存储所述电荷特性补偿数据。11.根据权利要求7的制造方法,其中,数据调制存储器包括EEPROM和EDID ROM中的任何一种。12.根据权利要求7的制造方法,该方法进一步包括利用存储在所述数据调制存储器中的第一和第二位置数据以及面板缺陷补偿数据和电荷特性补偿数据对要在所述链接像素处显示的数字视频数据进行调制。13.根据权利要求12的制造方法,其中,对所述数字视频数据进行调制包括在时间上细分所述面板缺陷补偿数据,并利用所述在时间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷位置处显示的数据。14.根据权利要求13的制造方法,其中,在时间上细分所述面板缺陷补偿数据包括对一组帧中的多个帧在时间上细分所述面板缺陷补偿数据。15.根据权利要求12的制造方法,其中,对所述数字视频数据进行调制包括在空间上细分所述面板缺陷补偿数据,并且利用所述在空间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷位置处显示的数据。16.根据权利要求15的制造方法,其中,在空间上细分所述面板缺陷补偿数据包括对多个相邻像素在空间上细分所述面板缺陷补偿数据。17.根据权利要求12的制造方法,其中,对所述数字视频数据进行调制包括对一组帧中的多个帧在时间上细分面板缺陷补偿数据,并对多个相邻像素在空间上细分面板缺陷补偿数据,并且通过在时间上和空间上进行了细分的面板缺陷补偿数据来增加或减少要在所述面板缺陷位置处显示的数据。18.根据权利要求12的制造方法,其中,对所述数字视频数据进行调制包括利用所述电荷特性补偿数据来增加或减少要在所述链接像素位置处显示的数据。19.根据权利要求7的制造方法,该方法进一步包括通过将经调制的数字视频数据施加给所述平板显示装置来检查所述平板显示装置中的图像质量缺陷;确定描述所述图像质量缺陷的位置的图像质量缺陷位置数据和用于对所述图像质量缺陷进行补偿的图像质量缺陷补偿数据;以及在所述平板显示装置的数据调制存储器中存储所述图像质量缺陷位置数据和所述图像质量缺陷补偿数据。20.根据权利要求19的制造方法,其中,所述图像质量缺陷位置数据描述背光亮线缺陷的位置,所述图像质量缺陷补偿数据被确定为用于校正所述背光亮线缺陷的亮度的补偿值。21.根据权利要求7的制造方法,其中,所述平板显示装置包括形成在数据线...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄琮喜
申请(专利权)人:乐金显示有限公司
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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