存储器的测试方法、存储介质和计算机设备技术

本公开提供了一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。本公开能够提高测试的准确性。公开能够提高测试的准确性。公开能够提高测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
存储器的测试方法、存储介质和计算机设备


[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的快速发展，存储器引起了人们越来越多的关注。
[0003]存储器一般包括多个芯片接口，存储器控制器通过多个物理通信接口(PHY，Physical Interface)与存储器连接，且多个物理通信接口与存储器的多个芯片接口一一对应连接。在对存储器进行测试的过程中，需要通过存储器控制器准确控制写入芯片接口的测试式样。然而，在操作人员将所需式样写入物理通信接口后，由于物理通信接口和芯片接口之间的数据线因为线长等原因而出现重排(swizzle)的情况，常常无法在芯片接口写入所需的测试式样，增加了测试的难度。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开的目的在于提供一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备，能够降低测试的难度。
[0006]根据本公开的一个方面，提供一种存储器的测试方法，所述存储器的测试方法包括：
[0007]获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；
[0008]确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；
[0009]对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；
[0010]根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。
[0011]在本公开的一种示例性实施例中，所述确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，包括：
[0012]将多个所述芯片接口连续编号，所述芯片接口的编号均为整数；
[0013]将多个所述物理通信接口连续编号，所述物理通信接口的编号均为整数；
[0014]确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，以得到所述第一字符和所述第二字符之间的对应关系，并作为所述对应连接信息。
[0015]在本公开的一种示例性实施例中，所述确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，包括：
[0016]向多个所述物理通信接口写入第一参考式样，所述第一参考式样指向编号为第一字符的所述物理通信接口；
[0017]获取多个所述芯片接口处输出的第二参考式样，所述第二参考式样为所述第一参考式样经传输后得到；
[0018]确定所述第二参考式样指向的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符。
[0019]在本公开的一种示例性实施例中，所述对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息，包括：
[0020]基于所述对应连接信息，按照多个所述芯片接口的连续编号的顺序，重新排列各所述第二字符映射的第一字符作为第三字符，以生成第三信息；
[0021]将所述第一信息和所述第三信息作为映射连接信息。
[0022]在本公开的一种示例性实施例中，所述芯片接口的初始编号与所述物理通信接口的初始编号相等，根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样包括：
[0023]将所述目标测试式样以二进制表示，并将与编号为第一字符的所述物理通信接口对应的所述目标测试式样中的目标数进行左移运算，以获取中间数，其中，左移的位数等于所述映射连接信息中与所述第一字符对应的第三字符减去所述初始编号后的值；
[0024]将各所述中间数进行加法运算，得到需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。
[0025]在本公开的一种示例性实施例中，所述将多个所述芯片接口连续编号包括：
[0026]将多个所述芯片接口从0开始连续编号；
[0027]所述将多个所述物理通信接口连续编号包括：
[0028]将多个所述物理通信接口从0开始连续编号。
[0029]在本公开的一种示例性实施例中，所述目标测试式样和所述初始测试式样均非二进制数，根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样包括：
[0030]将所述目标测试式样以二进制表示；
[0031]根据以二进制表示的所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的以二进制表示的初始测试式样。
[0032]在本公开的一种示例性实施例中，所述目标测试式样和所述初始测试式样均为十六进制数。
[0033]在本公开的一种示例性实施例中，在根据以二进制表示的所述目标测试式样与所述对应连接信息确定需要写入所述物理通信接口的以二进制表示的初始测试式样之后，所述存储器的测试方法还包括：
[0034]将以二进制表示的所述初始测试式样转换为以十六进制表示的所述初始测试式样。
[0035]在本公开的一种示例性实施例中，所述存储器为双倍速率同步动态随机存储器。
[0036]在本公开的一种示例性实施例中，所述目标测试式样和所述初始测试式样均为数据式样。
Dynamic Random Access Memory)，但本公开实施方式不限于此。如图1所示，存储器控制器10通过物理通信接口(PHY)20与存储器30连接，且多个物理通信接口20与存储器30的多个芯片接口通过命令地址信号线40和数据信号线50一一对应连接。存储器控制器10可通过命令地址信号线40向存储器30发送地址式样，当然，也可以通过数据信号线50向存储器30发送数据式样。
[0050]如图2所示，该存储器的测试方法可以包括步骤S100-步骤S130，其中：
[0051]步骤S100、获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接。
[0052]步骤S110、确定与各物理通信接口的第一信息分别对应的芯片接口的第二信息，并将第一信息和第二信息作为对应连接信息。
[0053]步骤S120、对对应连接信息进行重映射得到映射连接信息。
[0054]步骤S130、根据目标测试式样与映射连接信息确定需要写入物理通信接口的初始测试式样。
[0055]本公开实施方式的存储器的测试方法，根据目标测试式样与映射连接信息确定需要写入物理通信接口的初始测试式样。由于该映射连接信息是由对应连接信息重映射得到，且该对应连接信息是通过确定与各物理通信接口的第一信息分别对应的芯片接口的第二信息获得，因此，在将确定的初始测试式样写入物理通信接口后，就能够在芯片接口写入测试所需要的目标侧试式样，从而降低了测试的难度。
[0056]下面对本公开实施方式的存储器的测试方法的各步骤进行详细说明：
[0057]在步骤S100中，获取需要写本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器的测试方法，其特征在于，所述存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，包括：将多个所述芯片接口连续编号，所述芯片接口的编号均为整数；将多个所述物理通信接口连续编号，所述物理通信接口的编号均为整数；确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，以得到所述第一字符和所述第二字符之间的对应关系，并作为所述对应连接信息。3.根据权利要求2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述确定与编号为第一字符的所述物理通信接口连接的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符，包括：向多个所述物理通信接口写入第一参考式样，所述第一参考式样指向编号为第一字符的所述物理通信接口；获取多个所述芯片接口处输出的第二参考式样，所述第二参考式样为所述第一参考式样经传输后得到；确定所述第二参考式样指向的所述芯片接口的编号，所述芯片接口的编号为第二字符。4.根据权利要求2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息，包括：基于所述对应连接信息，按照多个所述芯片接口的连续编号的顺序，重新排列各所述第二字符映射的第一字符作为第三字符，以生成第三信息；将所述第一信息和所述第三信息作为映射连接信息。5.根据权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述芯片接口的初始编号与所述物理通信接口的初始编号相等，根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样包括：将所述目标测试式样以二进制表示，并将与编号为第一字符的所述物...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙光腾，何浩，陆丹，胡波，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：