本实用新型专利技术公开一种用于测试nand flash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚。本实用新型专利技术可以能够测试不同厂家、不同型号的nand flash。flash。flash。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测试nand flash的PCB板
[0001]本技术涉及nand flash测试领域，具体是一种用于测试nand flash的PCB板。
技术介绍
[0002]目前flash技术日新月异，工艺、封装形式等迭代太快，为方便调试不同厂家的各种最新型号nand flash，急需一种能够测试不同厂家、不同型号的nand flash的PCB板。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种用于测试nand flash的PCB板，可以能够测试不同厂家、不同型号的nand flash。
[0004]为了解决所述技术问题，本技术采样的技术方案是：一种用于测试nand flash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚；第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。
[0005]进一步的，第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。
[0006]进一步的，所述电源切换装置为芯片24AA024，芯片24AA024内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器连接测试主板，测试主板读取存储芯片24AA024内的工作电压软件，从而决定由第一电源或第二电源为nand flash卡槽供电。
[0007]进一步的，nand flash卡槽预留ICE接口，ICE接口连接ICE板。
[0008]进一步的，连接器U1包括U1A、U1B和U1C，U1A连接于nand flash卡槽与测试主板之间，U1B连接3.3V和1.8V电源，U1C接地。
[0009]进一步的，测试主板为FPGA板或者HAPS板。
[0010]进一步的，第一电源和第二电源都拆分成多路。
[0011]本技术的有益效果：本技术通过一个连接器，更换不同的nand flash 子板，就能方便的调试所有厂家，所有型号的nandflash（支持最新工艺，也可调试之前产品），可以很大的丰富主控芯片对nand flash的支持列表，还能大大节省研发成本。
附图说明
[0012]图1为连接器U1A、U1B及电源切换装置的电路原理图；
[0013]图2为U1C的电路原理图；
[0014]图3为第一nand flash卡槽的电路原理图；
[0015]图4为第二nand flash卡槽的电路原理图；
[0016]图5为ICE芯片的电路原理图；
[0017]图6为1.8V、3.3V电源拆分成多路的电路原理图。
具体实施方式
[0018]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步的说明。
[0019]实施例1
[0020]本实施例公开一种用于测试nand flash的PCB板，包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连。连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点。
[0021]如图3所示，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，其余引脚直接与连接器相连，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，图3中的黑点即为预留的测点。如图4所示，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚。
[0022]本实施例中，第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。如图6所示，第一电源和第二电源都拆分成多路，方便为PCB板上的多个芯片供电。
[0023]第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。即通过电源切换装置决定是第一电源还是第二电源为nand flash测试卡槽供电。
[0024]本实施例中，所述电源切换装置为芯片24AA024，芯片24AA024内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器连接测试主板，测试主板读取存储芯片24AA024内的工作电压软件，从而决定由第一电源或第二电源为nand flash卡槽供电。
[0025]如图3、5、6所示，nand flash卡槽预留ICE接口，ICE接口连接ICE板。
[0026]如图1、2所示，连接器U1包括U1A、U1B和U1C，U1A连接于nand flash卡槽与测试主板之间，用于传递信号，U1B连接3.3V和1.8V电源，用于提供电源，U1C接地。为了满足nand flash的信号要求（204pinDDR子板），也可以增加连接器的数量，以提供足够数量的信号线通道及电源、地线。
[0027]本实施例中，测试主板为FPGA板或者HAPS板。
[0028]本实施例所述PCB板通过连接器跟测试主板相连，测试主板输入3.3V以及1.8V电源，经过24AA024选择输入电压（根据测试的nand flash颗粒，可选3.3V或者1.8V），可同时支持最新工艺的nand 颗粒（目前最新工艺的nand使用1.8V电压）及前期老工艺的nand颗粒（使用3.3V电压）。
[0029]第一卡槽U13及第二卡槽U14都可以支持新款flash颗粒及老款flash颗粒。我们在子板上预留的是一个连接器U1，使用的是DDR3标准接口，板子上预留两个nand flash 的卡槽，可以很方便的更换flash，并且两个flash可以同时调试也可以每个flash单独调试，可以通过更换flash来方便的调试不同厂家，不同型号的nandflash，可以大大提高调试及测试的效率。
[0030]在第二卡槽U14的每个信号都预留了上拉电阻，一方面，可以通过更换不同的上拉电阻（板子上预留的是1K的上拉电阻），来测试不同的驱动对信号的影响，另外可以在电阻
处直接接入逻辑分析仪，可以更直观的看到每个同奥里面的所有信号（DQS,DATA,RE,WE,ALE,CLE,WP,CE等），也可以对两个flash进行对比（第一卡槽仅预留测点，只有DQS信号及RE信号预留上拉电阻），对比加上拉电阻及直连时两个flash 的信号情况，对于我们的调试可以有更大的帮助。
[0031]另外还预留了一个ICE接口（连接器J8，提供16个测试接口），本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：包括连接器U1、nand flash卡槽、第一电源、第二电源和电源切换装置，待测试的nand flash焊接或者插接在nand flash卡槽内，nand flash卡槽通过连接器U1与测试主板相连；连接器U1使用DDR3标准接口，nand flash卡槽包括第一卡槽和第二卡槽，第一卡槽和第二卡槽均预留测点，第一卡槽仅有DQS引脚及RE引脚连接上拉电阻，第二卡槽的所有nand flash测试引脚均连接上拉电阻，第一卡槽的测点设置在除DQS引脚及RE引脚以外的nand flash测试引脚，第二卡槽的测点设置在所有nand flash测试引脚；第一电源和第二电源均与nand flash卡槽相连，通过电源切换装置决定第一电源和第二电源的工作状态。2.根据权利要求1所述的用于测试nand flash的PCB板，其特征在于：第一电源是1.8V，第二电源是3.3V。3.根据权利要求1或2所述的用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：范宣荣，宗成强，尹相彦，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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