一种测量全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法技术

一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱（ＡＴＲ－ＦＴＩＲ）快速测定全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法，包括选取不同磺酰单体含量的全氟磺酰树脂样品，测定每个样品对应的ＡＴＲ－ＦＴＩＲ光谱，然后选择红外光谱中由磺酰单体引起的和由碳氟键引起的吸收谱带作为特征吸收谱带，将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式。然后测试未知样品的红外光谱，通过工作曲线或回归公式来预测其磺酰单体含量。该法适用于全氟磺酰树脂磺酰单体含量的测定，使用样品量小，分析迅速、准确，操作简便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于是一种高分子领域，涉及，尤其涉及利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱(ATR-FTIR)快速测量全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法。
技术介绍
全氟磺酰树脂一般由四氟乙烯单体和带有磺酰氟基团的全氟乙烯基醚单体共聚而成，有时也加入其它单体进行多元共聚。全氟磺酰树脂通过水解可以得到全氟磺酸树脂，全氟磺酸树脂是一种强固体酸，可以作为离子交换树脂，具有耐热性能好、电化学性能好、化学稳定性和机械强度高等特点；也可以作为多种化学反应催化剂的载体，成膜后用于氯碱工业、燃料电池、水处理、电渗析、气体分离与干燥等很多领域。全氟磺酸树脂的一个重要性能指标为离子交换容量，由带有磺酰氟基团的单体在共聚物中所占比例所决定。因此测试全氟磺酰树脂的磺酰单体含量对于表征树脂性能有着重要意义。此外，简捷、快速、准确地测定磺酰单体含量，是全氟磺酰树脂生产中工艺控制关键参数之一，是成品检验中必不可少的一项重要内控指标，也是工业化生产装置长周期稳定运行和生产出性能可控的全氟磺酰树脂所必需的。全氟磺酰树脂磺酰单体含量的化学测试方法通常为将全氟磺酰树脂用碱溶液处理，使磺酰氟基团全部转化为磺酸盐形式，再用酸溶液处理使磺酸盐形式转化为磺酸形式，然后再以盐溶液淋洗将树脂中的氢离子交换出来，最后用标准碱溶液滴定氢离子，根据所用标准碱的量以及树脂的含水率等数据计算出树脂的磺酰单体值。该过程需耗时数日，中间环节较多，且需要非常熟练的操作技能才能保证数据的可靠性，难以及时准确地测得全氟磺酰树脂的磺酰单体含量。当需要根据计算出的磺酰单体值来调整生产工艺时，化学测试方法较长的测试时间往往难以满足要求。专利技术内容本专利技术的目的为提供一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱快速测量全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法。相关公式的推导对于全氟磺酰树脂而言，分子中的碳氟键，磺酰氟基全氟乙烯基醚单体中必然含有的磺酰基团及可能含有的三氟甲基基团分别在红外光谱中有较强的特征吸收。这些吸收谱带有着较强的摩尔吸光系数，因而便于分析。根据朗伯-比尔定律，在光程一定时，样品的含量与吸光度成正比。因此，对应于碳氟键振动引起的吸收谱带和对应于磺酰单体吸收谱带的吸光度或吸光度积分值的比值与磺酰单体的摩尔含量是单调相关的。根据朗伯-比尔定律，峰高或峰面积与摩尔含量的对应关系是成正比的，设对应于碳氟键振动引起的吸收谱带和对应于磺酰单体的红外光谱的响应值的比值，即吸光度或吸光度的积分值的比值为R；设树脂中磺酰单体的摩尔含量是S，磺酰单体中引起的特征吸收谱带的吸光度为h，四氟乙烯结构单元引起的红外吸光度为j，磺酰单体中含有m个CF键，设CF键引起的红外吸光度为k。则有以下关系。R=4×j(1-S)+S×Σi=1mkih×S]]>该公式可变形为1S=1-0.25×Σi=1mKi4j+h4j×R]]>设1/S与R为Y和X；A=1-0.25×Σi=1mki4j,]]>B=h4j.]]>由于h、j、k1、k2，……，km为在一般情况下均为常数或变化极小，将其视为常数，则A、B为常数。即，1/S与R符合线性的关系。本专利技术提供一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱(ATR-FTIR)测定全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法，包括下列步骤1)建立工作曲线或回归公式选取已用标准的化学分析方法、已准确测定其磺酰单体含量、有较宽共聚组成范围的多组全氟磺酰树脂样品，测定每个样品对应的ATR-FTIR光谱，然后选择红外光谱中的碳氟特征吸收谱带和磺酰单体特征吸收谱带，将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与样品标准方法测定的磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式。2)测定未知样品的磺酰单体含量在与建立工作曲线相同的测试条件，对未知样品进行ATR-FTIR测试，将得到的红外光谱特征吸收谱带的吸光强度或谱带面积的比值代入工作曲线或回归公式得到磺酰单体含量。本专利技术所述的标准的化学分析方法为本领域技术人员公知的方法，优选
技术介绍
中所述的全氟磺酰树脂磺酰单体含量的化学测试方法。优选的，本专利技术所述衰减全反射傅立叶变换红外光谱为单次水平衰减全反射傅立叶变换红外光谱。优选的，本专利技术所述的全氟磺酰树脂包括四氟乙烯与含有磺酰氟基团单体的共聚合物。所述含有磺酰氟基团单体包括如下结构通式的单体及其它可能的含有磺酰氟基团的单体。 m＝0～3；n＝1～5例如以下不同公司的生产的全氟磺酰树脂所用的单体Nafionm≥1；n＝2；Dowm＝0；n＝2；Flemionm＝0，1；n＝1～5；Aciplexm＝0～3；n＝2～5。优选的，所述碳氟特征吸收谱带为1030～1280cm-1区域内的吸收谱带，磺酰单体特征吸收谱带为940～1020cm-1区域内的吸收谱带或在1430～1490cm-1区域内的吸收谱带。对于部分种类的全氟磺酰树脂的红外光谱中在940～1020cm-1区域内没有位在983cm-1附近的吸收谱带或在该区域内有其它干扰吸收谱带时，仅能用在1430～1490cm-1区域内的位在1467cm-1附近的磺酰特征吸收谱带进行计算。而当全氟磺酰树脂的红外光谱在940～1020cm-1区域内有位为983cm-1附近的吸收谱带且在该区域内无其它干扰吸收谱带时，则可使用该区域的吸收谱带作为代表磺酰单体的特征吸收谱带。该方法对磺酰氟单体摩尔含量测试的下限仅受制于红外光谱仪的灵敏度和信噪比，上限则对应磺酰氟单体均聚物即摩尔含量为1。当涉及磺酰单体摩尔含量的范围较宽时，可以先用上述方法测试得到预估值，然后在预估值±0.05的范围内，选取5个以上的已知磺酰摩尔含量样品作为标准样品测试得到工作曲线或回归公式，从而计算得到更准确的数据。本专利技术提供一种利用红外光谱测量全氟磺酰树脂磺酰单体含量的技术方案，具体为(1)建立工作曲线或回归公式选取已用标准的化学分析方法测定其磺酰单体含量、有较宽共聚组成范围的多组全氟磺酰树脂样品，再测定每个样品对应的ATR-FTIR光谱，然后选择红外光谱中的位于由碳氟键引起的位于1030～1280cm-1区域内的峰位在1198cm-1、1147cm-1附近的吸收谱带为碳氟特征吸收谱带和由磺酰单体引起的位于1430～1490cm-1区域内的峰位在1467cm-1附近的吸收谱带或可能有的位于940～1020cm-1的区域内的峰位为983cm-1的吸收谱带为磺酰单体特征吸收谱带，将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与样品标准方法测定的磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式Y＝A+B·X。其中Y和X对应于1/S与R；A、B为常数。(2)测定未知样品的磺酰单体含量在与建立工作曲线相同的测试条件，对未知样品进行ATR-FTIR测试，将得到的如(1)所述的特征吸收谱带的吸光强度或谱带面积的比值R带入工作曲线或将比值R作为X带入回归公式Y＝A+B·X，求得磺酰单体含量。(3)对于部分种类的全氟磺酰树脂的红外光谱中没有位于940～1020cm-1区域内的峰位为983cm-1的吸收谱带或在该区域内有其它干扰吸收谱带时，仅能用1467c本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱测定全氟磺酰树脂磺酰单体含量的方法，包括下列步骤：１）建立工作曲线或回归公式：选取已用标准的化学分析方法、已准确测定其磺酰单体含量、有较宽共聚组成范围的多组全氟磺酰树脂样品，测定每个样品对 应的ＡＴＲ－ＦＴＩＲ光谱，然后选择红外光谱中的碳氟特征吸收谱带和磺酰单体特征吸收谱带，将所述特征吸收谱带的吸光强度或谱带积分面积的比值与样品标准方法测定的磺酰单体含量相关联建立工作曲线或回归公式；２）测定未知样品的磺酰单体含量： 在与建立工作曲线相同的测试条件，对未知样品进行ＡＴＲ－ＦＴＩＲ测试，将得到的红外光谱特征吸收谱带的吸光强度或谱带面积的比值带入工作曲线或回归公式得到磺酰单体含量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：秦胜，高自宏，张春玉，崔晓梅，张永明，张恒，
申请(专利权)人：山东东岳神舟新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：37[中国|山东]